長度

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量室介紹 校正與量測技術能量 工作重點 技術服務 研究計畫

量室介紹

長度研究室已建立端點、尺寸、角度與幾何形狀等實體之量測標準,可提供長短塊規、角度塊規、線刻度、環規、塞規、多邊規、分度盤、真圓度、表面粗糙度、階高(探針式及光學式)、標準長尺、穩頻雷射、雷射干涉儀、線距/線寬標準片、薄膜厚度、經緯儀、電子測距儀、及 GPS 衛星接收儀等主要標準件及儀具之校正服務。本室發展重點包括飛秒雷射與光頻計量、奈米級 (10 -9 公尺)、微米級(10 -6 公尺)尺寸標準追溯及大地測量儀具校正與應用等領域。

在溫度標準方面依據國際溫標研製〝水三相點囊〞及一系列錫、鋅、鋁、銀、銅等金屬凝固點囊以實現溫度量測標準。在濕度標準方面,建立雙壓力濕度產生器濕度標準量測系統。

 

校正與量測技術能量

自2004年起,本量室之校正與量測技術能量( pdf )即登錄並公告於國際度量衡局(BIPM)的關鍵比對資料庫(KCDB),完整提供國內對於長度的各項標準校正需求,同時也代表我量測技術能力在國際間受到信賴與肯定。

工作重點

提供長度、溫度與濕度等領域的量測標準

  • 碘穩頻紅光氦氖雷射長度原級標準之建立與維護
  • 進行國際比對、國際相互認證,以確保與國際長度量標準一致
  • 執行27項校正系統量測品保及改良,並提供校正服務

新擴建校正系統,增加校正能量。目前正著手

  • 二維影像量測標準
  • 半導體奈米級線距階高標準
  • 半導體奈米級膜厚標準

研究發展計量新技術

  • 飛秒雷射光梳頻率計量研究
  • 智慧型自動化產業計量標準研究
  • 國際新溫標研究
  • 耳溫計校正器標準研究

技術服務

  • 長度量測校正及技術諮詢服務
  • 溫度、濕度領域等相關量測系統與量測技術發展服務
  • 長度、溫度、濕度量測校正實驗室規劃、建立及品保服務
  • 飛秒鎖模光纖雷射製作
  • 精密移動台定位檢測
  • 客製化AOI影像標準件與階高標準件
  • 大地空間定位 測量、重力量測及地理資訊建立應用

研究計畫

  • 飛秒鎖模雷射頻率標準
  • 絕對及相對重力儀校正及應用
  • 熱電材料參數量測技術

E200 1 S         塊規干涉校正系統

                   圖:穩頻雷射校正系統                                        圖: 塊規干涉校正系統

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