新聞動態

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計量科技是產業升級的基盤,社會進步的推手,配合國家重點產業的發展,陸續推動國家度、量、衡等多項標準,現場將展示25項重要技術成果,其中包含:
-- 開發FPD產業所需之量測標準技術,作為消除產業界廠商間相同參數量測設備標準追溯與機差的問題。發展技術如動態色度標準件、動/靜態解析度量測系統、光學膜與面板相位差量測技術、二維計量型影像標準校正系統等成果。
-- 軟性電子量測技術上屢有突破性進展,如軟性電子之可撓特性檢測平台、電子紙光學參數量測系統等成果。
-- 奈米成果上建立奈米材料應用與檢測標準追溯,及其相關檢測能力,並進而與世界發展趨勢接軌。
-- 在民生福祉應用上,如居住空間熱舒適度量測與評估、穿透游離腔、低頻無線時頻傳播系統智慧化生活應用、推動認證活動等。

 

本活動為不容錯過之技術饗宴,內容精采可期,敬邀閣下與會共襄盛舉。
日  期:98年12月01日(星期二)
時  間:10:00-14:00
地  點:經濟部標準檢驗局大禮堂(臺北市濟南路1段4號)
主辦單位:經濟部標準檢驗局
協辦單位:工研院量測中心、全國認證基金會、電信所、核研所
報名手續:請會前報名
1.    費用:免費,先知、先用、先贏,名額有限,報名從速。
2.    填妥報名表( doc )自即日起至11月27日前(額滿截止),並請準時出席。

 

聯絡人:工研院量測中心 金小姐 洽詢電話:(03)574-3816
 
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