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奈米粒徑量測國際研討會1

活動主要貴賓合影

「2011 Workshop on Nanoparticle Size Measurement」於4月14日至15日於國家度量衡標準實驗室盛大舉行。會中邀請德、日、韓、澳等多位國際知名專家前來參與盛會,國內產官學包含台灣檢驗科技、電光企業、維富科技、台灣薄膜電晶體液晶顯示器產業協會、台灣檢驗科技、國家衛生研究院、台北科技大學與本院材化所、奈米中心等單位皆熱烈參與。除發表各國最新的奈米量測技術與粒徑量測儀器發展外,也討論了多項國際奈米粒徑量測標準以及各國或各區域間的國際比對結果,這些都將作為全球計量一致性的重要基礎,也是未來奈米產品與環境評估等依據,因此受到國際經濟組織的重視。

 

量測標準是科技與產業發展的重要基礎,也與國家工業管理與產業發展息息相關。精密的奈米量測技術與標準,可以提供工業產品的驗證、環境安全的監測、製程控制等,並廣及與民生相關的化妝品、衣物、食品與醫藥等議題。因此各國政府均致力推展奈米量測技術,並制定國家標準及驗證追溯能力。如歐盟與美國等先進國家,相當重視奈米材料潛在可能會對人類及環境造成危害,歐盟議會之環境、公共健康暨食品安全委員會,通過對電子電機設備有害物質限用指令(RoHS指令)修訂之提案。此提案可能要求所有的電子產品需標示內含之奈米物質,如奈米銀(Nanosilver)、長型多壁奈米碳管(Long Multi-walled Carbon Nanotubes, MWCNT)等物質。

 

因此,作為全球計量領域的一員,本室受到國際間的重視與肯定,在2010年11月於泰國舉辦的APMP-TCL與WGMM大會中,贊成由本室擔任國際奈米粒子比對(APMP TCL / WGMM Supplementary Comparison on Nanoparticle Size)之Pilot Lab、NMIJ擔任Co-pilot Lab。透過本次比對活動,取得國際間量測的一致性,有助於未來奈米相關產品廣泛應用於生醫製藥、太陽能電池、電子產品等新興產業,達到提高產品效益與環境與建康安全之維護。

 

活動第一天,特別邀請國際計量專家進行演講。日本國家實驗室(NMIJ)計量專家Dr. Kayori Takahashi介紹動態光散射法、如何量測溶液中奈米材料粒徑;Dr. Kensei Ehara介紹微分電移動度分析法;韓國國家標準科學研究院(KRISS)Dr. Changsoo Kim,針對奈米與生物安全、標準奈米材料以及量測與追溯技術等作一番闡述。以及德國國家實驗室Mr. Tobias Klein,分享歐盟組織的比對近況與歐洲先進實驗室在電子顯微鏡的經驗。我國則由姚斌誠博士與何信佳博士分別介紹原子力顯微鏡量測奈米粒子經驗,與探討電子顯微鏡量測PSL標準粒子時,粒子受電子束影響而造成粒徑縮小問題。

 

第二天是本次比對活動主軸,由於本次是國家實驗室間首次進行奈米粒徑國際型量測比對,非常受到重視。會議由APMP TCL主席Ms. Siew Leng Tan主持,邀請APMP WGMM 主席Dr. Cho、韓國(KRISS)Dr. Kim、日本(NMIJ) Dr. Takatsuji (APMP TCL Vice Chair)親自參加,並帶領NMIJ 3位奈米粒子量測專家與會,德國(PTB)專家Mr.Tobias Klein與澳洲(CSIRO)專家Dr. Asa Jamting也共襄勝舉,針對2011年國際奈米粒子比對事宜,廣納不同領域的意見進行討論,對於比對protocol中,有關奈米粒子樣本製備、量測程序方法、量測數據分析與量測不確定度影響因子等,都有進行完善討論,其結論得到與會者的一致同意,確使首次的奈米粒徑比對能順利完成。本室藉由成功舉辦奈米粒子量測比對活動,除了CMS / ITRI在奈米粒子檢測技術(DLS、AFM、X-ray、SEM)的提升外,更展現台灣在奈米計量領域之國際領先地位。

 

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