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105年度世界計量日-國際計量發展趨勢研討會

為慶祝一年一度的世界計量日,並響應今年度主題「動態世界的量測(Measurements in a dynamic world)」,經濟部標準檢驗局特舉辦「105年度世界計量日-國際計量發展趨勢研討會」,邀請國際度量衡委員會秘書長Dr. James McLaren演講「The Importance of Metrology for Standards, Industry and Trade」與華碩電腦股份有限公司葉副總裁嗣平演講「量測在物聯網世代的新思维」等主題,敬請踴躍報名參加。

一、 報名方式:採線上報名

二、 報名時間:即日起至額滿為止(100)

三、 時間:105518日(星期三)09:00 ~ 15:30

四、 地點:財團法人工業技術研究院光復院區國際會議廳及實驗室(新竹市光復路二段321號)

五、 主辦單位:經濟部標準檢驗局

六、 議程

時   間 內   容 主 講 者
09:00~09:30 報到
09:30~09:40 主席致詞

經濟部

卓次長士昭

09:40~10:35

專題演講(一)

The Importance of Metrology for Standards, Industry and Trade

國際度量衡委員會

秘書長

Dr. James McLaren

10:35~10:40 意見交流
10:40~11:00 茶敘
11:00~11:55

專題演講(二)

量測在物聯網世代的新思维

華碩電腦股份有限公司

葉嗣平 副總裁

11:55~12:00 意見交流
12:00~12:30 國家度量衡標準實驗室簡介

工研院量測中心

彭國勝 副主任

12:30~13:30 午餐
13:30~15:30 國家度量衡標準實驗室參觀

工研院量測中心

多位同仁帶領

15:30 散會
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