校正/驗證

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服務之儀器 
標準粒子 (Standard Particles)、標準粒子計數器 (Standard Particle Counter)
(1) 奈米粒子濃度量測 (標準粒子計數器之偵測效率)
(2) Zeta 電位量測 (聚苯乙烯標準粒子)
(3) 比表面積量測 (標準粒子)
校正範圍 
(1a) 粒徑:100 nm;濃度:1 cm-3 to 1000 cm-3
(1b) 粒徑:50 nm to 200 nm;濃度:1000 cm-3 to 10000 cm-3
(2) -75 mV < Zeta電位 < 75 mV (粒徑 > 20 nm)
(3) 5 m2/g to 550 m2/g
不確定度 
(1a) 2.3 % to 3.7 % (相對)
(1b) 2.2 % to 2.4 % (相對)
(2) 2.7 mV
(3) 2.1 % (相對)
校正點數說明 
(1a) 數量濃度 1000 cm-3、100 cm-3、10 cm-3、1 cm-3 共四個點
(1b) 校正範圍內,選取五個點
(2) 送校件單點量測,單一樣品重複量測 6 次,以 6 次量測平均值作為校正結果之 Zeta 電位量測值
(3) 送校件單點量測
校正費用 
(1a) 43,200 元/件
(1b) 36,000 元/件
(2) 11,000 元/件
(3) 12,000 元/件
送校件須知 
(1a) 奈米粒子濃度量測
1. 客戶須先自行確認送校件儀器運作正常,及相關設定參數無誤,並請提供送校件本年度之流量校正報告
2. 本系統採用法拉第杯氣膠電流計作為標準件,自數量濃度 1000 cm-3 向下進行遞迴校正,送校件需具有數量濃度 1000 cm-3 之量測能力
3. 法拉第杯氣膠電流計流量設定為 1.5 L/min,標準粒子採用 JSR 公司之聚苯乙烯球
 
(1b) 奈米粒子濃度量測
1. 客戶須先自行確認送校件儀器運作正常,如流量以及相關設定參數無誤
 
(2) Zeta 電位量測
1. 送校件請提供樣品之粒徑與折射率值
2. 溶液粒子樣品需為穩定懸浮液,濃度 < 0.4 mg/mL,樣品導電度 < 1 mS/cm
3. 校正溫度預設為 20 ℃4. 樣品須為水溶液樣品
 
(3) 比表面積量測
1. 適用 IUPAC 定義等溫吸附曲線屬於Type II (無孔洞或大孔洞;孔隙大於 50 nm) 與 Type IV (中孔洞;孔隙介於 2 nm 到 50 nm) 之標準粒子
2. 粒徑 ≦ 0.8 mm

(圖說) 本實驗室提供校正/驗證系統之服務規格說明及送校件須知等

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