校正/驗證

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服務之儀器 
標準粒子 (聚苯乙烯、PSL) [Standard Particles (Polystyrene)]
(1) 動態光散射法 (DLS)
(2) 電重力氣膠平衡法 (EAB)
(3) 微分電移動度分析法 (DMA)
(4) 表面奈米微粒粒徑標準件
校正範圍 
(1) 20 nm to 1000 nm
(2) 100 nm to 500 nm
(3) 20 nm to 500 nm
(4) 100 nm to 300 nm  
不確定度 
(1) 3.3 nm to 34 nm       
(2) 2.5 nm
(3) 1.3 nm
(4) 100 nm to 200 nm (不含):8.1 nm、200 nm to 300 nm:19 nm
校正點數說明 
(1) 送校件分散後,取樣 1 次,並進行重複量測 6 個循環,以各個循環中位數的平均值作為最終量測結果
(2) 送校件分散後,取樣 1 次,再擬合得到粒徑值
(3) 送校件分散後,取樣 1 次,並進行重複量測 3 個循環,再擬合得到粒徑值
(4) 送校件單點量測 7 個不同方位角的散射光,再擬合內插得到粒徑值
校正費用 
(1) 7,200 元/件
(2) 40,000 元/件
(3) 10,000 元/件
(4) 11,500 元/件 (以每一粒徑收費)
送校件須知 
項 (1)、(2)、(3) 標準粒子 (聚苯乙烯、PSL)
1. 送校件請提供粒子密度與折射率為佳
2. 送校件具良好分散為佳,其量測結果可信度愈高
3. 請確保分裝過程中樣品之純淨
項 (4) 表面奈米微粒粒徑標準件
1. 送校件上的粒子濃度至少須大於投影面積比0.05 %
2. 請確保送校件表面之潔淨度

(圖說) 本實驗室提供校正/驗證系統之服務規格說明及送校件須知等

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