目錄索引

*

:::

 

專輯導覽

軟性電子已是二十一世紀重點科技!政府正積極推動,並引進新材料與新製程,因而衍生許多檢測技術需求。工研院量測中心出版的「量測資訊」雙月刊,特推出「自動光學檢測技術於軟性電子與軟性顯示器產業之應用」專刊,協助提升企業的競爭力,挑戰新檢測技術及量測速度。本專輯針對產業市場之動態,特撰「反射式軟性顯示器發展趨勢與量測需求」專文,詳介軟性顯示器性能、電性、光學之量測需求外,亦有國際研發技術之探討。

 

隨著軟電技術的發展,其產品也邁向低成本挑戰,其生產方式亦將大幅改變來提昇生產速度,因此軟電檢測也將面臨新量測需求。本專輯專注於軟電線上檢測,其中多通道的薄膜檢測技術,可以同時檢測多點,提昇薄膜膜厚檢測速率,以符合高速自動化製程。當業界面臨軟性顯示器製程所引發之鍍膜殘存應力問題時,檢測製程中的應力分佈及調整製程參數是非常重要的,因此,本專刊特別介紹了全域式應力檢測方法,可以一次量得面積內的應力分佈。

 

現有的自動光學檢測技術對於透明材質解析能力不足,常常需以肉眼來判讀,本專刊除了提供透明材質對比的方法外,也詳細介紹半透明材料檢測的影像處理;另外也針對軟性顯示器產品或材料提供檢測方法,以滿足高準確率之檢測需求。

 

 

量測資訊訂閱專線:03-5732265

 

 

 

目錄介紹 

 

127封面大

          
特別報導  
反射式軟性顯示器發展趨勢與量測需求( doc ) 江柏風

專輯: width=0 自動光學檢測技術於軟性電子與軟性顯示器產業之應用  

 

 
自動光學檢測技術於軟性電子與軟性顯示器產業之應用專輯前言( doc ) 黃卯生
軟性顯示器品質檢測技術( doc ) 卓嘉弘
全域式應力量測技術於軟電之應用( doc ) 楊富翔
面板檢測技術及設備開發( doc ) 劉定坤、藍于瀅
高速線上薄膜膜厚檢測技術( doc ) 吳智誠、王浩偉
利用白光干涉術量測增亮膜之三維微結構形貌( doc ) 王偉誠、蘇彥禎、張樂融、郭世炫、王浩偉

計量儀器與技術  
半導體製程疊對誤差量測之研究( doc ) 許維德、顧逸霞
環境照度對影像品質及其感知屬性之評估( doc ) 何啟文
應用於射出成型機之自動光學檢測( doc ) 陳秋惠
以道床吸音塊降低軌道列車輻射噪音( doc ) 陳興
CNT/Ppy材料應用在濕度感測技術上之研究( doc ) 吳仁彰、吳雋凡、劉泓杰、吳俊翰

品保/認證/驗證焦點 編輯室輯
2007年國家度量衡標準實驗室顧客滿意度調查方法與結果

全球計量動向 編輯室輯
全球不景氣中以標準創造市場
奈米粒徑量測系統-奈米標章驗證的最佳保證
國家度量衡標準實驗室今年起提供「光散射量測服務」讓彩色商品更美麗

 

 
 

 

:::

電子報訂閱/取消