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專輯導覽

「量測資訊」--平面顯示器自動光學檢測技術由工研院量測中心出版以提供最新量測科技訊息為主的【量測資訊】雙月刊,本期「平面顯示器自動光學檢測技術」專輯,在政府「兩兆雙星」政策扶植、業者積極投入量產,以及大力推動LCD設備國產化,以強化本身供應鏈,提升國際上的競爭實力,已佔全球舉足輕重的地位,而本土技術的研發更是如火如荼的展開。針對LCD平面顯示器產業所需之偏振極化與色彩關鍵參數之自動化檢測設備,特別規劃此專輯分別介紹光學補償膜的偏振特性、液晶層的光學極化特性、彩色濾光片的色度以及膜厚、和LCM光學特性等量測技術。「光學補償膜偏振特性量測技術」分別介紹三種可行量測光學補償膜的方法,對廠商需附加保護膜的特殊需求開發獨特的量測技術,已能充分展現國產設備客製化的優勢。「液晶面板光學極化特性量測技術」介紹量測中心利用偏光光譜儀架構,針對目前液晶面板廠常見的TN及MVA type液晶層,達到其相位差及液晶間隙厚度的量測需求。並使用影像式光譜儀技術,使液晶面板廠之線上檢測達到低成本、高檢測速度的需求。「彩色濾光片色度及膜厚的量測技術」介紹現有市售量測設備方法,提供線上及離線量測不同的設計,並由量測中心研發出新的彩色濾光片膜厚及色度量測技術,可滿足液晶面板廠多點同時量測的需求。「LCM光學特性量測技術」則介紹現行LCM量測規範所需之光學特性參數,以及現有量測設備的基本原理。另外可快速且精確得知面板多個光學參數的技術,亦由量測中心研發成功,可取代以往LCM檢測需多套複雜設備的架構。期望透過相關技術的開發,來滿足國內LCD產業獨特性的檢測需求,並實現政府設備國產化之政策,以取代進口的檢測設備,達到提昇國際競爭力的目的。

量測資訊訂閱專線:03-5732265

 

 

目錄介紹

       
115(2)

第 115 期
專輯:平面顯示器自動光學檢測技術  
平面顯示器自動光學檢測技術專輯前言 田立芬
光學補償膜偏振特性量測技術 劉志祥、莊凱評、G. Dyankov、林友崧
彩色濾光片膜厚及色度量測技術 楊富翔
液晶面板光學極化特性量測技術 莊凱評、劉志祥、林友崧
LCM光學特性量測技術 張玉姍、吳智誠、魏鴻祺、羅偕益

計量儀器與技術  
材料縱向聲波速度的量測方法與特性 陳興
量測不確定度表示方式指引之發展 洪辰昀
PVA / NaOH / CNT感測材料應用於溼度感測器之研究 吳仁彰、林敬翰
雙壓式溫濕度量測方法與系統評估 鄭玉鉦、林錦華

品保/認證/驗證焦點  
ISO新安全標準將促進以天然氣為動力的道路車輛之商機 編輯室輯
ISO提升了氫燃料電池的運送安全 編輯室輯
RFID技術在遠洋物流安全管理中的解決方案 編輯室輯

全球計量動向  
LED近程的市場 編輯室輯
日本NMIJ紅外線式體溫計標準開發 編輯室輯
開發電子鼻技術的先鋒 編輯室輯

新產品/新技術櫥窗  
潔淨與再生的能源 編輯室輯
交流電壓標準之新觀念 編輯室輯
新型微對準雷射系統 編輯室輯
IBM以RFID搶進製藥產業 編輯室輯
矽晶片放大光信號 編輯室輯
ZigBee應用之錯誤排除 編輯室輯
3D線型掃瞄精度的新紀元 編輯室輯
流量計的改良 編輯室輯
保護生態環境的SiC奈米線 編輯室輯
破解基因密碼的新法寶 編輯室輯
多功能整合控制器 編輯室輯
應用在通風控制的二氧化碳感測器 編輯室輯
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TIRF璀璨的未來 編輯室輯
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