本實驗室於9月12日舉辦「工業用X-ray/XCT影像技術研討會」,，提供XCT 於半導體應用實例與挑戰、X-ray成像技術回顧與技術挑戰、及XCT最新技術及精密量測應用實例，
XCT (X-ray Computed Tomography) 是將計算機技術與X光放射學結合而產生的一門非破壞式的透視成像技術。因為無須破壞樣品，是非破壞檢測的重要工具之一，結合工業自動化以及大數據的分析運算能力，能為產品的設計開發、製造工藝以及品管帶來相當大的助益！
研討會邀請築富科技公司樓修成博士、工研院量測中心楊富程副理、德國Werth Messtechnik Dr. Jens Bahlo進行三場演講，協助學員在未來各自產業能有效的評估與導入X-ray/XCT精密尺寸的量測。
「工業用X-ray/XCT影像技術研討會」講師與學員合影