【D27】奈米粒子功能性量測系統

服務之儀器	標準粒子 (Standard Particles)、標準粒子計數器 (Standard Particle Counter) (1) 奈米粒子濃度量測 (標準粒子計數器之偵測效率) (2) Zeta 電位量測 (聚苯乙烯標準粒子) (3) 比表面積量測 (標準粒子)
校正範圍	(1a) 粒徑：100 nm；濃度：1 cm^-3 to 1000 cm^-3 (1b) 粒徑：50 nm to 200 nm；濃度：1000 cm^-3 to 10000 cm^-3 (2) -75 mV < Zeta電位 < 75 mV (粒徑 > 20 nm) (3) 5 m²/g to 550 m²/g
不確定度	(1a) 2.3 % to 3.7 % (相對) (1b) 2.2 % to 2.4 % (相對) (2) 2.7 mV (3) 2.1 % (相對)
校正點數說明	(1a) 數量濃度 1000 cm^-3、100 cm^-3、10 cm^-3、1 cm^-3 共 4 個校正點。 (1b) 校正範圍內，選取 5 個校正點。 (2) 送校件單點量測，單一樣品重複量測 6 次，以 6 次量測平均值作為校正結果之 Zeta 電位量測值。 (3) 送校件單點量測。
校正費用	(1a) 43,200 元／件 (1b) 36,000 元／件 (2) 11,000 元／件 (3) 12,000 元／件
送校件須知	(1a) 奈米粒子濃度量測客戶須先自行確認送校件儀器運作正常，及相關設定參數無誤，並請提供送校件本年度之流量校正報告。本系統採用法拉第杯氣膠電流計作為標準件，自數量濃度 1000 cm^-3 向下進行遞迴校正，送校件需具有數量濃度 1000 cm^-3 之量測能力。法拉第杯氣膠電流計流量設定為 1.5 L/min，標準粒子採用 JSR 公司之聚苯乙烯球。 (1b) 奈米粒子濃度量測客戶須先自行確認送校件儀器運作正常，如流量以及相關設定參數無誤。 (2) Zeta 電位量測送校件請提供樣品之粒徑與折射率值。溶液粒子樣品需為穩定懸浮液，濃度 < 0.4 mg/mL，樣品導電度 < 1 mS/cm。校正溫度預設為 20 ℃。樣品須為水溶液樣品。 (3) 比表面積量測適用 IUPAC 定義等溫吸附曲線屬於Type II (無孔洞或大孔洞；孔隙大於 50 nm) 與 Type IV (中孔洞；孔隙介於 2 nm 到 50 nm) 之標準粒子。粒徑 ≦ 0.8 mm。

(圖說) 本實驗室提供校正/驗證系統之服務規格說明及送校件須知等

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