服務之儀器
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標準粒子 (Standard Particles)、標準粒子計數器 (Standard Particle Counter)
(1) 奈米粒子濃度量測 (標準粒子計數器之偵測效率)
(2) Zeta 電位量測 (聚苯乙烯標準粒子)
(3) 比表面積量測 (標準粒子)
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校正範圍
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(1a) 粒徑:100 nm;濃度:1 cm-3 to 1000 cm-3
(1b) 粒徑:50 nm to 200 nm;濃度:1000 cm-3 to 10000 cm-3
(2) -75 mV < Zeta電位 < 75 mV (粒徑 > 20 nm)
(3) 5 m2/g to 550 m2/g
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不確定度
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(1a) 2.3 % to 3.7 % (相對)
(1b) 2.2 % to 2.4 % (相對)
(2) 2.7 mV
(3) 2.1 % (相對)
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校正點數說明
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(1a) 數量濃度 1000 cm-3、100 cm-3、10 cm-3、1 cm-3 共 4 個校正點。
(1b) 校正範圍內,選取 5 個校正點。
(2) 送校件單點量測,單一樣品重複量測 6 次,以 6 次量測平均值作為校正結果之 Zeta 電位量測值。
(3) 送校件單點量測。
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校正費用
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(1a) 43,200 元/件
(1b) 36,000 元/件
(2) 11,000 元/件
(3) 12,000 元/件
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送校件須知
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(1a) 奈米粒子濃度量測
(1b) 奈米粒子濃度量測
(2) Zeta 電位量測
(3) 比表面積量測
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(圖說) 本實驗室提供校正/驗證系統之服務規格說明及送校件須知等