| 服務之儀器 |
標準粒子 (聚苯乙烯、PSL) [Standard Particles (Polystyrene)]
(1) 動態光散射法 (DLS)
(2) 電重力氣膠平衡法 (EAB)
(3) 微分電移動度分析法 (DMA)
(4) 表面奈米微粒粒徑標準件
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| 校正範圍 |
(1) 20 nm to 1000 nm
(2) 100 nm to 500 nm
(3) 20 nm to 500 nm
(4) 100 nm to 300 nm
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| 不確定度 |
(1) 0.8 nm to 34 nm
(2) 3.0 nm
(3) 0.54 nm to 13 nm
(4) 100 nm to < 200 nm：8.3 nm
200 nm to 300 nm：19 nm
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| 校正點數說明 |
(1) 送校件分散後，取樣 1 次，並進行重複量測 6 個循環，以各個循環中位數的平均值作為最終量測結果
(2) 送校件分散後，取樣 1 次，再擬合得到粒徑值
(3) 送校件分散後，取樣 1 次，並進行重複量測 3 個循環，再擬合得到粒徑值
(4) 送校件單點量測 7 個不同方位角的散射光，再擬合內插得到粒徑值
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| 校正費用 |
(1) 7,200 元／件
(2) 40,000 元／件
(3) 10,000 元／件
(4) 11,500 元／件 (以每一粒徑收費)
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| 送校件須知 |
項 (1) (2) (3) 標準粒子 (聚苯乙烯、PSL)
項 (4) 表面奈米微粒粒徑標準件
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(圖說) 本實驗室提供校正/驗證系統之服務規格說明及送校件須知等
