Highlight/核心技術
座標量測儀校正技術: 以自動追蹤雷射干涉儀為標準件，搭配Multilateration (多點定位系統)方法，校正CMM (Coordinate Measuring Machine, 座標量測儀又稱為三次元量測儀)之定位準確度。
 待校件 - CMM |
 標準件- 自動追蹤雷射干涉儀 |
 座標量測儀校正 |
塊規干涉校正技術: 利用光干涉法精確量測塊規尺寸，可直接追溯至長度原級標準雷射光波長。
 塊規干涉校正系統 |
 穩頻雷射 |
 塊規恆溫室與基板 |
簡介
本量室主要負責執行「國家度量衡標準實驗室」運作計畫中長度領域之相關標準維持、精進及新擴建，同時研發相關計量技術。實驗室已建立精密機械產業常用之長度量測標準建立，如長短塊規、線刻度、多邊規、分度盤、真圓度、表面粗糙度、階高（探針式及光學式）、二維影像標準片、雷射干涉儀、經緯儀、電子測距儀及GPS衛星接收儀等，以提供主要標準件及量測設備之校正服務。自2004年起，本量室之校正與量測技術能量即登錄並公告於國際度量衡局(BIPM)的關鍵比對資料庫(KCDB)，完整提供國內對於長度的各項標準校正需求，同時也代表我量測技術能力在國際間受到信賴與肯定。
研究計畫/設備
配合工業4.0趨勢發展，目前量室的研究重點為長度領域中的座標計量技術，針對各式3D幾何特徵及其相關量測設備，建立我國之量測標準，如接觸與非接觸式座標量測儀、雷射掃瞄儀等，並配合國內精密機械產業需求，開發具追溯之量測技術以導入生產流程中，以縮短品管檢測與校正追溯之時間。重點設備包含:
- 座標量測儀(Leitz, PMM-C Ultra)
- 自動追蹤雷射干涉儀(Etalon, LaserTRACER)
- 超高準確度之自我校正型旋轉台 (建置中)
- 計量型輪廓儀(Taylor Hobson, Talysurf PGI Freeform) (建置中)
左圖:座標量測儀(Leitz, PMM-C Ultra) / 右圖：自動追蹤雷射干涉儀(Etalon, LaserTRACER)
工作重點
- 執行「國家度量衡標準實驗室」運作計畫中長度領域之標準維持、精進及新擴建，並研發相關技術。
- 發展智慧機械產業精密計量技術與標準，以及滿足精密機械產業計量需求。
- 執行科技專案、契約服務與工業服務等計畫之相關長度與幾何精密計量技術研發及校正檢測工作。
- 執行國際追溯、比對及國際間標準的相互認可。
技術服務
提供長度領域量測標準與校正服務：
- 維持27項校正系統之量測標準並提供校正服務，相關標準透過國際比對、國際相互認證，確保與國際長度量測標準等同。
- 配合產業需求，提升既有校正系統之量測能量或增建校正系統。
提供機台與工件之量測與校正服務：
- 接觸式與非接觸式座標量測儀(CMM)量測與校正
- 具追溯之五軸工具機線上尺寸量測
- 自由曲面量測與校正
技術與諮詢服務
- 長度量測與校正技術諮詢，如精密移動台定位檢測、客製化AOI影像標準件與客製化階高標準件等
- 長度量測校正實驗室規劃、建立、品保服務及認證輔導
- 大地空間定位量測、重力量測及地理資訊建立應用