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特寫照片

世界計量日

2025 WMD poster

 2025世界計量日(World Metrology Day)活動是由國際法定計量組織(OIML)及國際度量衡局(BIPM)共同推動。2023年「世界計量日」被聯合國教科文組織認定為正式的國際日,肯定計量在構建可持續未來中的關鍵作用

今年(2025年)對《米制公約》而言更是意義非凡。自1875年簽署公約以來,已跨入150年的重要里程碑,記錄了國際計量科學合作一個半世紀的偉大成就。今年的主題為「Measurements for all times, for all people」,旨在突顯量測在塑造人類過去、現在與未來中的關鍵作用,彰顯《米制公約》在過去150年中對人類進步的卓越貢獻。

 

相關網址如下:https://www.worldmetrologyday.org/ (open in new window)

智慧讀表驗證系統-水量計

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政府「前瞻基礎建設計畫」中的「建構民生公共物聯網」項下,提及感測器布建必須達到一定程度,才能構建物聯網的基盤架構,而民生用表即為最常見及廣布之感測器。為配合國家發展需要,對高準確性與高相容性的民生用表,如水表、電表、瓦斯表,本實驗室建置「智慧讀表驗證系統」,依據國際標準,建立制度予以規範,以完備智慧城市建構的基礎感知層,建置符合我國之智慧讀表電子、安規及計量檢測能量及規範,以確保市場交易公平、維護公共安全,推動相關產業科技發展。

 

 

 

micro LED晶圓高速非接觸檢測技術

micro LED晶圓高速非接觸式檢測

微型發光二極體(micro LED)具有優異的顯示性能、低耗電與產品生命週期長等優點,被視為次世代顯示技術。隨著國際大廠的投入,邁向micro LED產品商業化目標的關鍵,便是降低高昂成本。本實驗室開發「micro LED晶圓高速非接觸式檢測」,以光激發之光伏效應(PV)的非接觸式檢測技術,快速且大量micro LED元件光電特性檢測,達到晶粒轉移前初篩,突破傳統檢測與修復的瓶頸,大幅降低製造成本,協助國內面板及LED產業升級,有利於新興市場AR/VR應用、以及車用顯示應用。

EUV計量標準

EUV分光響應校正系統

因應半導體先進微影技術發展,建立台灣第一套EUV分光響應校正系統,,並建立光偵測器之光輻射特性評估量測技術,可提供 EUV 光偵測器之光輻射計量標準。本技術可應用於EUV曝光劑量評估, 使晶片廠更能掌握曝光機晶圓製程現場之實際曝光劑量。本技術將光輻射標準由 UV 推展至 EUV,新開發光輻射標準之波長範圍為 10 nm 至 20 nm,使輻射響應標準傳遞於 EUV 光偵測器,以滿足目前半導體產業EUV 微影製程檢測設備之計量標準需求。