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半導體原物料有機不純物採集技術開發 (2.68 MB)
光譜量測結合人工智慧監控技術用於工業檢測應用 (3.15 MB)
可調頻連續波雷達測速儀檢測技術研究 (1.39 MB)
AI在智慧製造領域應用與發展趨勢 (962.1 KB)
剖析關鍵零組件最新趨勢與應用 (959.2 KB)
從角的定義詮釋角度與弧度制的差異 (2.29 MB)
本期主題
企業內部出口管控制度(ICP)介紹|沈祐樂
半導體原物料有機不純物採集技術開發|潘怡宣、林芳新
光譜量測結合人工智慧監控技術用於工業檢測應用|卓嘉弘、羅竣威
可調頻連續波雷達測速儀檢測技術研究|徐瑞偉
AI在智慧製造領域應用與發展趨勢|劉純秀
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從角的定義詮釋角度與弧度制的差異|精威機電有限公司電量校正實驗室 徐照夫
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