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107年研究報告

項次研究報告摘要
1 大質量量測系統評估報告-METTLER AX64004質量比較儀 本評估報告為提供本實驗室校正20 kg、50 kg法碼之準確度評估說明,以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。本實驗室實際量測時,係針對20 kg、50 kg法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行量測。量測時,藉由個人電腦控制可得量測讀值並計算平均值(mean value)及標準差(standard deviation),再參考標準法碼之值即可求得待校法碼質量值及不確定度。
2 低壓氣體流量校正系統評估報告 -標準流量計法/MOLBLOC (0.002~40 L/min) 以原級法方式建立流率校正系統之優點在於可直接追溯至基本量 (質量或長度) 與時間兩項基本量,不需要了解所使用之氣體複雜之熱力學性質對量測之影響,可有效降低不確定度。但是此方法非常費時且與操作技術關聯性密切。因此,在一般之流量計校正並不採用此方法,而以其它可追溯之原級法之標準件-層流元件進行流量計之校正。

本文件係對國家度量衡標準實驗室流量與能源研究室低壓氣體流量校正系統(管式校正器)(系統代碼:F06) 標準流量計法校正流量計進行不確定度分析,系統流量範圍由2 cm3/min至40 L/min。系統不確定度分析依據不確定度傳播法則,將所有來自量測、環境條件、以及所使用之設備等影響來源之不確定度以和方根方式合併得到相對組合標準不確定度,將此值與涵蓋因子相乘即可得出相對擴充不確定度。目前其校正範圍及相對擴充不確定度 (取95 % 信賴水準) 如下所示。

環境溫度:22 °C至24 °C。

MOLBLOC/MOLBOX1上游壓力: 350 kPa/ 450 kPa。

MOLBLOC/MOLBOX1體積流率: 2 cm3/min至40 L/min。

氣體:空氣或氮氣。

體積流率之相對組合標準不確定度為0.062 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.13 %。

含被校件性能指標 PI 之相對組合標準不確定度為0.063 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.13 %。

質量流率之相對組合標準不確定度為0.057 %,涵蓋因子為1.98。

相對擴充不確定度為0.12 %。

含被校件性能指標 PI 之相對組合標準不確定度為0.059 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.12 %。
3 低壓氣體流量校正系統評估報告 -Piston Prover (0.002~40 L/min) 摘  要

管式校正器為國家度量衡標準實驗室低壓氣體流量校正系統(系統代碼:F06)之中低流率標準器,採用體積—時間法,當提供校正服務使用Dry Air、N2、Ar、O2、CO2等介質時之流量範圍為2 cm3/min至40 L/min,使用He時之流量範圍為20 cm3/min至40 L/min,系統代碼為F06,本文係就此系統之不確定度進行分析評估。系統分析評估係依據ISO Guide98-3: 2008之不確定度傳播方式進行,找出重要之不確定度來源,藉由實驗、儀器規格及引用數值手冊等方式加以量化各項影響因子對受測量-質量流率之貢獻,並將此不確定度成分以和方根(RSS)方式合併,得到相對組合標準不確定度,再乘上涵蓋因子(k),得到受測量(質量流率)之相對擴充不確定度。
4 氣瓶氣體充填質量與混合氣濃度評估報告-注射法 本評估報告為提供本實驗室使用Mettler-Toledo XP26003L、Mettler-Toledo XP10003S質量比較儀(Mass comparator)及Mettler-Toledo MS205DU天平進行氣瓶及氣密針(5 L ~ 10 L)質量量測的準確度與混合氣體配製濃度估算,與其擴充不確定度之評估說明。XP10003S、XP26003L與MS205DU分別為電子式質量比較儀與天平,最大量測範圍分別為10100 g、26100 g及82 g,系統之可讀性(Readability)分別為1 mg、1 mg及0.01 mg。本實驗室實際量測時,係針對同體積類型之氣密針及氣瓶,以替換法(Substitution method)用質量比較之方式進行待測樣品氣密針/氣瓶(S)與參考氣密針/氣瓶(R)的質量比對量測。重複多次量測後求出待測樣品氣密針/氣瓶與參考氣密針/氣瓶之質量差值(S–R),並算出其平均值標準差(Standard deviation)。若以相同程序進行待測樣品氣密針/氣瓶在充填前(S0–R)與充填後(S1–R)之質量評估,即可得液體/氣體充填量及其不確定度。而混合氣體配製後之濃度不確定度來源則為:(1)充填質量不確定度、(2)配製用原物料的純度不確定度、(3)各成分分子量不確定度等三項。本系統隸屬於質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08),並以原級參考氣體模式提供氣體濃度量測追溯來源,所提供的服務成份與濃度範圍如下表所示。
5 甲醛氣體分析設備校正系統評估報告 本評估報告針對甲醛氣體分析設備之準確度評估程序進行說明,以作為實驗室對外執行甲醛氣體分析設備校正服務時不確定度估算的依據。根據校正程序以及量測方程式所列參數,原級甲醛氣體濃度不確定度來源評估項目包含1) 甲醛滲透管滲透率之標準不確定度;2) 水氣滲透率之標準不確定度;3) 莫耳體積之標準不確定度;4) 氮氣流量之標準不確定度,以及5) 甲醛莫耳質量之標準不確定度。再使用此原級甲醛氣體濃度通入甲醛分析設備中進行分析設備之準確度評估,不確定度來源評估項目包含1) 原級甲醛氣體濃度之標準不確定度;2) 甲醛分析設備重複性之標準不確定度。本文針對各項目估算方式進行說明,以建立此技術系統校正執行的濃度範圍及其量測擴充不確定度,進而作為產業申請校正服務之參考。
6 甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯濃度檢驗、均勻性與穩定性評估報告 本報告以氣相層析儀搭配質譜分析儀(GC-MS),進行甲醇(Methanol)中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(di(2-ethylhexyl)phthalate;DEHP)之濃度檢驗(Concentration verification)、均勻性評估(Homogeneity evaluation)與穩定性評估(Stability evaluation)。由分析檢驗濃度值與秤重法濃度值之比較,進而確認及查核秤重法濃度值之準確性;由均勻性評估結果確認配製溶液分裝後之均勻性;由穩定性評估結果確認其有效使用期限。本系統隸屬於質量法環境荷爾蒙供應及濃度驗證系統(C12),其原級標準物質(Primary Standard Material;PSM)經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考物質(Primary Reference Material;PRM)服務,所提供的服務成份與濃度範圍如下表所示。
7 甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯配製質量與濃度評估報告-秤重法 本評估報告提供本實驗室使用Mettler Toledo XP205上皿式天平進行甲醇(Methanol)中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(di(2-ethylhexyl)phthalate;DEHP)配製質量的量測、配製溶液濃度估算與其擴充不確定度評估說明。電子式天平Mettler Toledo XP205最大量測範圍為220 g,其最小可讀性(Readability)為0.00001 g。本實驗室實際量測時,係針對同體積類型之配製瓶,以ABA替換模式(ABA substitution method)進行樣品配製瓶(S)與參考配製瓶(R)的質量比對量測。重複多次量測後求出樣品配製瓶與參考配製瓶之質量差值(S - R),並算出其平均值標準差(Standard deviation)。參照相同程序進行樣品配製瓶在溶質添加前(S0 - R)與添加後(S1 - R)之質量評估,以及溶液(溶質加溶劑)添加前(S0 - R)與添加後(S2 - R)之質量評估,即可得樣品配製瓶中溶質添加量、溶液添加量及其不確定度。而配製溶液之濃度不確定度來源為:(1)溶質添加質量不確定度、(2)溶液添加質量不確定度、(3)溶質濃度不確定度。本系統隸屬於質量法環境荷爾蒙供應及濃度驗證系統(C12),所提供的服務成份與濃度範圍如下表所示。
8 原級參考混合氣濃度檢驗評估報告 本報告以氣相層析-熱傳導偵測器/火焰離子偵測器(GC-TCD/FID)、傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR)或微量氧氣分析儀,進行不同成分濃度之原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM)濃度檢驗(Verification)。由檢驗分析結果與秤重法估算濃度值的比對,進而確認及查核秤重法估算濃度(Cw)的準確性。本系統隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統〞(C08),秤重法濃度值與分析檢驗濃度值的差值符合ISO 6142: 2015及ISO 6143: 2001濃度檢驗準則  。本系統的PSM經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)服務。
9 單相交流電能量測系統評估報告 本技術報告為國家度量衡標準實驗室單相交流電能量測系統(系統代碼:E18)之評估報告,其擴充不確定度評估方法之依據為ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM: 1995)。
10 氣瓶氣體充填質量與混合氣濃度評估報告-秤重法 本評估報告為提供本系統使用Mettler-Toledo XP26003L或Mettler-Toledo XP10003S質量比較儀(Mass comparator)進行氣瓶(5 L ~ 10 L)質量量測的準確度與混合氣體配製濃度估算,及其擴充不確定度之評估說明。XP26003L與XP10003S皆為電子式質量比較儀,最大量測範圍分別為26100 g及10100 g,系統之可讀性(Readability)為1 mg。本實驗室實際量測時,係針對同體積類型之氣瓶,以替換法(Substitution method)用質量比較之方式進行待測樣品氣瓶(S)與參考氣瓶(R)的質量比對量測。重複多次量測後求出待測樣品氣瓶與參考氣瓶之質量差值(S–R),並算出其平均值標準差(Standard deviation)。若以相同程序進行待測樣品氣瓶在氣體充填前(S0–R)與充填後(S1–R)之質量評估,即可得氣瓶中的氣體充填量及其不確定度。而混合氣體配製後之濃度不確定度來源則為:(1)氣體充填質量不確定度、(2)配製用母氣(Parent gas)的純度不確定度、(3)各氣體成分分子量不確定度等三項。本系統隸屬於質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08),並以原級參考氣體模式提供氣體濃度量測追溯來源。
11 分光測色系統絕對反射VW量測評估報告 文敘述絕對反射VW量測系統評估方式和評估結果,包含了系統描述,量測原理,量測方法等介紹,並設計量測品保方法,分析誤差來源,對量測系統作一系列之評估計算,導出系統之不確定度值。

本系統屬於原級標準,波長量測範圍為(250 ~ 2500) nm,在95 %信賴區間水準,反射率量測範圍為(1 ~ 100) %,擴充不確定度為0.15 %,涵蓋因子為1.97。

本量測系統隸屬於O05分光測色系統。
12 天然氣成分濃度校正系統評估報告 本評估報告提供本實驗室校正天然氣濃度之準確度評估說明,以作為本實驗室對外執行校正服務時不確定度估算的依據。

  本實驗室執行天然氣成分濃度校正程序採標準件與待校件比對方式進行。量測時依序導入標準件與待校件進入氣相層析儀進行分析,以積分軟體計算出各成分訊號之積分面積,分別讀出欲校正成分於標準件與待校件中之積分面積值 BR、BS,並求其比值(r = BS/BR)。依固定次序重複3次後,計算積分面積比值之平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation),再參考校正件各成分濃度值即可求得待校正氣體各成分濃度及不確定度。
13 雷射干涉式汞柱微壓原級標準系統評估報告 本系統評估報告乃針對雷射干涉式微壓原級標準進行評估。內容包括:系統簡介、量測原理、誤差分析,最後對量測壓力的計算與不確定度的評估均有詳細的描述。

本系統為  ITRI-CMS  LIML1-10-2005  型式的雷射干涉式微壓原級標準,屬於微壓量測系統,其適用的壓力範圍為:

1  Pa~  10  kPa

而不確定度經過詳細評估後,其擴充不確定度為:

U(PHR)  =0.08  Pa              

其中擴充不確定度係組合標準不確定度與涵蓋因子k之乘積。涵蓋因子k=2為由具有效自由度veff=∞之t分配所得,相對應95  %之信賴水準。

待挍件為壓力計(壓力轉換器),以擴充不確定度表示之校正與量測能力:

0.25  Pa  (涵蓋因子為2.04,信賴水準為95  %)
14 線距量測系統評估報告–雷射繞射儀 本文件量測技術發展中心在執行國家度量衡標準實驗室維持運轉中,對光柵線距標準片使用雷射繞射儀校正之系統評估報告,本校正系統提供量測範圍280 nm~10 um的光柵線距。標準片之追溯校正服務。雷射繞射儀量測系統係由波長543 nm綠光雷射、精密角度定位轉磐、四象限位置感測器、隔振台和光學元件所組成,其校正光柵線距的方法係利用繞射原理的Littrow配置(Littrow Configuration),由所用的雷射波長和Littrow繞射角度來計算密集光柵線的線距本校正系統的評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的「量測不確定度表示法的指引」分析各誤差源及擴充不確定度。
15 片電阻系統評估報告 本 本報告為國家度量衡標準實驗室片電阻校正系統(系統代碼:E27)之評估報告,以作為片電阻系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據,並提供系統量測品保設計與誤差來源分析。本系統功能主要是提供矽片電阻標準之校正,並依據 ISO “Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (1995)” 所述之方法計算出系統能量及待校件之相對擴充不確定度。本系統提供之校正服務能量如下:



量測範圍:0.15 W ~ 4000 W



相對擴充不確定度:0.46 %

               (信賴水準95 %,涵蓋因子k = 2.20)
16 量化霍爾電阻標準系統評估報告 本文為量化霍爾電阻標準系統評估報告,隸屬於量化霍爾電阻標準系統 (系統代碼 E24)。該系統主要目的是為了建立及維持電阻之原級標準,同時提供直流電阻標準器之追溯管道。本系統之量測方法係基於量化霍爾電阻元件在低溫強磁場環境下所產生之量化電阻值,經由直流電流比較器電橋並配合統計方法,可由該量化電阻值求得待校電阻器之阻值及量測不確定度。

本系統提供直流標準電阻器 1 kΩ 之量測,系統量測不確定度的分析方法是依據「ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement—Part 3:Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)」中所建議之量測不確定度的計算方式與步驟作評估,系統的相對擴充不確定度如下表所示:

電阻值:1 kΩ;相對擴充不確定度:0.08 μΩ/Ω;信賴水準:95 %;涵蓋因子 (k):2
17 直流大電阻系統評估報告 本資料為國家度量衡標準實驗室直流大電阻量測系統(系統代碼:E25)之不確定度評估方法及評估結果。所謂直流大電阻量測是指電阻值範圍介於1 Mohm至100 Mohm之電阻量測。一般與此電阻值範圍相關的儀表包括:電阻器、多功能電表、多功能校正器及十進電阻器等。其校正方法是以精密多功能電表來比較待校件與標準電阻器之電阻值差,標準電阻器之標準值是以 Hamon轉移電阻器追溯至10 kohm標準電阻器。
18 多邊規校正系統評估報告 本技術文件為本中心對多邊規校正的不確定度評估之參考依據,該校正系統係以整圓封閉角度特性為理論基礎,經由數學模式及圖示分析,計算出待校多邊規之角度誤差,其中使用兩台自動視準儀量測待校多邊規各角度區間之角度偏差量,並依據國際標準組織的〝量測不確定度表示法之指引〞(ISO GUM)所述的估算步驟作評估,分析本系統各項誤差源及其對不確定度之影響。評估不確定度時,係採95 % 的信賴水準,最後擬訂本系統之校正服務能量。本文件亦參考NBS SP-676-II技術文件,訂定品保方案,並建立管制圖以監控及查核本校正系統之穩定度,以確保校正結果的品質。經由查核數據及管制圖之繪製,得知本系統呈穩定狀態。本校正系統係隸屬於大角度校正系統(系統代碼:D07)。
19 單相交流電功率原級量測系統評估報告 本文係國家度量衡標準實驗室單相交流電功率原級量測系統(E23)之評估報告,提供本系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據。

單相交流電功率原級量測系統由標準功率源輸出標準電功率至待校件,再由待校件讀值與標準功率源的追溯值,推算得到待校件之相對誤差值。

本系統服務能量為電壓120 V、240 V,電流1 A、5 A, 頻率50 Hz、60 Hz,功率因數1.0 ~ 0.0 Lead / Lag。擴充不確定度15 ~ 43 micro W(h)/VA(h),信賴水準為 95 %,涵蓋因子k為2。
20 真空計比較校正系統評估報告 本技術資料為度量衡國家標準實驗室真空計比較校正系統(系統代碼:L01)之評估報告,係依據國際標準組織 ISO/IEC Guide 98-3:2008,所述之方法計算出系統能量及不確定度源,針對真空計校正時所產生之各項誤差來源,予以仔細的評估,並分析其對本校正系統所造成量測不確定度的影響,藉以訂定本校正系統之校正能量與量測不確定度。
21 針規校正系統評估報告 本文件係量測技術發展中心在執行國家度量衡標準實驗室計畫中,對針規校正之系統評估報告,本校正系統提供(1~20)mm以內的針規之追溯校正服務。針規校正之系統係使用Zygo雷射測徑計來量測針規,並使用兩組四個不同尺寸的針規作為查核件。本校正系統參考國際標準組織(ISO)的ISO/IEC Guide 98-3;2008分析各誤差源及不確定度。本評估報告隸屬於D03端點量測系統。
22 絕對輻射系統評估報告 本報告詳細敘述由本中心與南非科學與工業研究院(CSIR)技術合作製造之室溫絕對輻射量測系統(Room Temperature Absolute Radiometer),於儀器完成後所進行之能量評估方式與評估結果。

此系統主要功能為提供波長300 nm至9000 nm輻射功率之絕對量測及光偵測器輻射功率絕對響應較正。輻射功率之量測範圍由6 mW至100 mW。

本系統以參數評估法進行系統評估。文中說明影響量測準確性各參數的來源與修正,並以實際量測經驗、文獻分析與國際比對結果訂出系統輻射功率量測在可見光部份之相對擴充不確定度為0.28 %,涵蓋因子為1.99,其他波段則為0.52 %,涵蓋因子為1.98,信賴水準為95 %。輻射功率響應量測在可見光部份之相對擴充不確定度為0.30 %,其他波段則為0.54 %,涵蓋因子為1.98,信賴水準為95 %。其詳細敘述請參閱本報告第3章。
23 直流 1V-10 V量測系統評估報告 本文件為國家度量衡標準實驗室直流 1V-10 V量測系統(E03)之校正程序。本系統功能主要是提供直流電壓標準器之校正,其基本量測方法是將待校件之電壓輸出,利用電壓差比較法與本實驗室標準電壓進行直接比較量測,且依據ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) 所述之方法計算出系統能量及待校件之相對擴充不確定度。本系統提供之校正服務能量如下:



量測範圍: 1 V ,  1.018 V ,  10 V



相對擴充不確定度:  0.3 muV/V

              (信賴水準95 %,涵蓋因子 k = 2.13)
24 微波散射參數及阻抗系統評估報告 向量網路分析儀的量測不確定度與所使用的校正技術相關,因此在本報告中,敘述3.5 mm接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式,以及N接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式校正後之不確定度評估結果。另外,向量網路分析儀的量測不確定度也與儀器設定相關,本報告中將訂定儀器設定,操作者必須依循這些設定始可參考本報告之評估結果。評估的方式主要依據原廠評估方式所訂定,分為反射及透射兩大部分,反射部份又區分為反射係數及反射相位角,而透射部份也分為透射係數及透射相位角兩部份。至於頻段區分方式,針對Type N接頭的分段方式為10 MHz ~ 45 MHz、45 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 18 GHz等三段,3.5 mm接頭為10 MHz ~ 45 MHz、 45 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 20 GHz、20 GHz ~ 26.5 GHz等四段。本系統所能提供的參數為S11、S22、S21、S12四種散射參數,提供校正Type N接頭的元件之頻率範圍為10 MHz至18 GHz,對3.5 mm接頭的元件為10 MHz至26.5 GHz,反射係數量測範圍為0至1,透射係數量測範圍為-60 dB至10 dB。

由於Type B的標準不確定度需視所使用之量測儀器、校正組件之接頭型式、量測之頻率範圍及散射參數值而定,因此本系統量測的擴充不確定度,仍須視待校件的特性、量測頻率以及量測結果而定,其Type A的標準不確定度亦僅分別依據3.5 mm接頭及Type N接頭之驗證件進行評估,當信賴水準為95 %,[涵蓋因子(Coverage Factor)為2],擴充不確定度如下所述。
25 比壓器量測系統評估報告 本文係度量衡國家標準實驗室比壓器量測系統之評估報告,作為比壓器量測系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據,並提供系統量測品保的設計與步驟。比壓器量測系統係應用差動原理,以比壓器測試儀量取相比較之標準比壓器之差異,處理後顯示出待測比壓器之變壓比誤差與相角誤差值。依據各設備之特性與規格及標準件追溯數據,訂定出系統品保管制方式,且根據ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement-Part 3: Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement(GUM:1995)所述之方法計算出系統能量及待校件之擴充不確定度。本系統提供校正服務之能量如下:

量測範圍:

一次側額定電壓:(1~100.0)kV

二次側額定電壓:(10~240)V

擴充不準定度:變壓比誤差 0.0082 %

相角誤差 0.06 mrad

(信賴水準95%,涵蓋因子k=2)
26 交直流電流轉換量測系統評估報告 本報告為國家度量衡標準實驗室之交流電流量測系統(系統代號:E11)的評估報告,可做為本系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據。

本報告主要說明交直流電流轉換系統之量測原理,及其量測不確定度之評估。本系統以交流電流標準件-熱效電流轉換器(Thermal Current Converter, TCC)來校正待校之TCC、交流電流源、交流電流表及交流電流分流器。

校正服務範圍為電流:10 micro A ~ 20 A,頻率:20 Hz ~ 100 kHz,其量測擴充不確定度為11 micro A/A ~ 250 micro A/A,信賴水準約為 95 %,涵蓋因子(coverage factor) k為2。
27 大質量量測系統法碼校正程序─METTLER AX64004質量比較儀 本程序提供使用METTLER AX64004質量比較儀校正20 kg、50 kg法碼之參考。METTLER AX64004為一電子式質量比較儀(mass comparator),其最大衡量範圍為60 kg,解析度為0.1 mg。校正時係採用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。藉由顯示幕之讀數,分別讀出標準法碼及待校法碼之值;重複多次後求出其差值,算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation),再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。
28 低壓氣體流量校正系統氣量計校正程序-標準流量計法/MOLBLOC (0.002~40 L/min) 本校正程序係提供國家度量衡標準實驗室MOLBLOC/MOLBOX1氣體流量校正系統 (系統代碼:F06) 校正氣量計之依據。校正時調整MOLBLOC上游的壓力值,等候壓力、溫度穩定後,開始擷取MOLBLOC流量,被校氣量計流量讀值、壓力及溫度。直到設定之時間為止。MOLBLOC的流量為其校正期間之平均值,被校氣量計則透過狀態轉換至標準件之狀態,利用此兩項即可算出器差。

氣量計校正結果之不確定度是依據 ISO/IEC Guide 98-3: 2008建議的A類及B類評估方式,分別計算各個物理量之標準不確定度 (或相對標準不確定度),並依據計算公式計算組合標準不確定度 (或相對組合標準不確定度),並以95 % 的信賴水準和有效自由度獲得學生t分布值求得涵蓋因子,擴充不確定度 (或相對擴充不確定度) 即為涵蓋因子與組合標準不確定度 (或相對組合標準不確定度) 的乘積。本系統之校正範圍如下。

環境溫度:22 °C至24 °C。

MOLBLOC/MOLBOX1上游壓力: 350 kPa/450 kPa。

MOLBLOC/MOLBOX1體積流率: 2 cm3/min至40 L/min。

氣體:空氣或氮氣。

體積流率之相對組合標準不確定度為0.062 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.13 %。

含被校件性能指標 PI 之相對組合標準不確定度為0.063 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.13 %。

質量流率之相對組合標準不確定度為0.057 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.12 %。

含被校件性能指標 PI 之相對組合標準不確定度為0.059 %,涵蓋因子為1.97。

相對擴充不確定度為0.12 %。
29 低壓氣體流量校正系統氣量計校正程序 -Piston Prover (0.002~40 L/min) 本校正程序係提供流量研究室之低壓氣體流量校正系統 (系統代碼F06) 校正氣量計之依據。校正時利用調壓閥及流量調節閥調整至所需流率,等待壓力、溫度及流率穩定後,將氣流導入管式校正器,同時量測壓力、溫度、收集體積及對應時間。以這些數據求出被校件狀態下之標準流率 (或流量) 並與被校氣量計進行比較求出 (相對) 器差或流出係數等性能指標。

氣量計校正結果之不確定度是依據 ISO GUM 建議的A類及B類評估方式,分別評估計算各個物理量之標準不確定度 (或相對標準不確定度),然後將其組合得到組合標準不確定度 (或相對組合標準不確定度),並求得對應95 % 信賴水準之涵蓋因子,並將二者相乘得到擴充不確定度(或相對擴充不確定度)。

本系統之校正範圍如下:

氣體種類:Dry Air、N2、Ar、O2、CO2

體積流率範圍:2 cm3/min至40 L/min。

氣體種類: He

體積流率範圍:20 cm3/min至40 L/min。

被校件上游壓力範圍:(100至700) kPa。

溫度範圍:(22至24) °C。

質量流率之相對擴充不確定度 (Relative Expanded Uncertainty,信賴水準95 %) :0.08 %,涵蓋因子為1.97。

性能指標之相對擴充不確定度 (Relative Expanded Uncertainty,信賴水準95 %) :0.09 %,涵蓋因子為1.97。
30 氣瓶氣體充填質量與混合氣濃度驗證程序-注射法 本文件針對使用氣密式注射針與Mettler Toledo-MS205DU/XP26003L/XP10003S上皿式天平進行氣瓶氣體充填質量之量測說明,以為本系統實行注射法氣瓶氣體充填質量與混合氣體濃度驗證之操作程序及其注意事項。量測時,可利用ABA替換模式(ABA substitution method)由天平讀出注射針(或氣瓶)質量,進而推算出液體(或氣體)之實際充填質量。本文件屬於質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)。由本程序所產出之原級標準氣體經濃度檢驗評估後,以原級參考氣體模式提供氣體濃度量測追溯來源。
31 甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯配製質量與濃度驗證程序-秤重法 本文件針對使用Mettler Toledo XP205上皿式天平進行甲醇(Methanol)中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(di(2-ethylhexyl)phthalate;DEHP)配製質量之量測說明,以作為本量室實行甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯配製質量與濃度驗證之操作程序及其注意事項。

量測時利用ABA替換模式(ABA substitution method),由天平讀出配製瓶質量,進而推算出配製瓶於內容物添加前後之質量差值。本文件屬於質量法環境荷爾蒙供應及濃度驗證系統(C12)。
32 單相交流電能量測系統校正程序 本技術報告為國家度量衡標準實驗室交流電力量測系統(系統代號:E18)之單相交流電能校正程序。其內容說明執行單相有效電能校正及單相無效電能校正時,所需要的系統儀器設備、校正步驟、校正數據之分析,以及校正報告範本。
33 氣瓶氣體充填質量與混合氣濃度驗證程序-秤重法 本文件針對使用Mettler Toledo-XP26003L/XP10003S上皿式天平進行氣瓶氣體

充填質量之量測說明,以為本系統實行氣瓶氣體充填質量與混合氣體濃度驗證之操作程序及其注意事項。

量測時,可利用ABA替換模式(ABA substitution method)由天平讀出氣瓶質量,進而推算出氣瓶於氣體充填前後之質量差值。本文件屬於質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)。由本程序所產出之原級標準氣體經濃度檢驗評估後,以原級參考氣體模式提供氣體濃度量測追溯來源。
34 天然氣成分濃度校正程序 本程序敘述如何使用氣相層析儀搭配熱導偵測器與火焰離子偵測器(GC/TCD、GC/FID)進行天然氣成分濃度校正服務。本實驗室執行天然氣成分濃度校正採標準件與待校件比對方式進行,此文件將針對儀器設備需求、校正步驟、資料分析和報告格式逐一說明。

本程序隸屬於低碳能源氣體濃度量測系統,系統代碼為C09。
35 針規校正程序 本文件為針規校正之操作依據,其適用於針規校正,其測徑範圍(1-20)mm。校正系統是使用Zygo 1202B Laser Telemetric System。待校針規置於一對V型塊上,調整使之與雷射光束垂直。量測時,調整至Laser Telemetric System的讀值最小,此時針規與量測光束垂直,讀值再經溫度修正。

本文件隸屬D03端點尺寸量測系統。
36 低溫絕對輻射系統分光光輻射功率響應校正程序 本技術文件為低溫絕對輻射系統(O07)分光光輻射功率響應校正程序。本系統利用置換法,分別以低溫絕對輻射計讀取分光儀單色光的光輻射功率值,再以待校標準光偵測器讀取同一單色光,則待校標準件在此波長下的絕對響應即等於(待校標準件輸出訊號)/( 低溫絕對輻射計光輻射功率讀值)。依照上述方法量測待校標準件在不同波長下的絕對響應值,最後便可得到待校標準件在整個量測波段下的絕對分光光輻射功率響應。此為目前光偵測器分光光輻射功率響應之最高量測標準。

目前本系統已評估之矽光偵測器量測波長範圍在280 nm至1100 nm之間,信賴水準為95 %之相對擴充不確定度為0.38 %至3.1 %;鍺光偵測器量測波長範圍在800 nm至1700 nm之間,相對擴充不確定度為0.36 %至2.1 %。未來將擴充至2500 nm以及280 nm以下的波段。詳細不確定度來源與估算方法請參考低溫絕對輻射系統分光光輻射功率響應評估報告第三章。
37 分光測色系統鏡面反射校正程序 本文敘述如何利用雙光束的穿透率量測系統在VW配件下校正樣品的鏡面反射率。本系統屬於原級標準,以分別量測於完全反射及零反射之反射率,做為基線修正因子,再量測得待校件之反射率,最後所得穿透率為經參考光束強度修正的數值。

本系統屬於原級標準,波長量測範圍為(250 ~ 2500) nm,在95 %信賴區間水準,反射率量測範圍為(1 ~ 100) %,擴充不確定度為0.15 %,涵蓋因子為1.97。

本量測系統隸屬於O05分光測色系統。
38 低溫絕對輻射系統光輻射功率校正程序 本技術文件為低溫絕對輻射系統(O07)之光輻射功率校正程序,適用於校正標準光源。文中詳細敘述校正步驟、資料分析方法及報告格式範例,以作為執行校正者之操作依據。此系統係利用直流置換法,以電功率與光輻射功率交互置換,於低溫4 K~5 K下量測光輻射功率,使光輻射量測標準直接追溯電量之量測標準,為目前光量之最高量測標準。

本系統之量測波長範圍在200 nm至5000 nm之間,功率則在10 nW至1 mW之間。當光源為雷射時,系統量測相對擴充不確定度為0.026 % (不含待校件);當光源為分光儀之單色光時,系統量測相對擴充不確定度則為0.037 % (不含待校件),涵蓋因子為1.97,信賴水準為95 %。
39 雷射都卜勒系統校正程序-標準轉盤法 雷射都卜勒流速儀(Laser Doppler Velocimetry / LDV)係利用流體中之懸浮微粒通過單頻、高相干性、高偏極性的雷射光束時所生之都卜勒效應來偵測流體速度,而 LDV 系統的條紋間距是以標準轉盤來校正。

本校正程序詳述以標準轉盤校正 LDV 系統之操作程序及其每一步驟需要注意的事項。

校正結果之不確定度是依據 ISO/IEC Guide 98-3:2008 建議的 A類及 B類評估方式 [4],分別計算各個物理量之標準不確定度,依據計算公式計算組合標準不確定度,以95 % 的信賴水準和有效自由度求得學生t分配之t值,即涵蓋因子,並將涵蓋因子與組合標準不確定度相乘得到擴充不確定度。

本系統量測之範圍如下:

風速範圍:(0.2至60) m/s

溫度範圍:(20至26) ℃

校正使用流體:空氣

本系統隸屬於風速校正系統 (F10)。
40 線距標準校正程序–雷射繞射儀 此技術資料為本中心對光柵線距標準使用雷射繞射儀實施技術性校正之依據,主要說明使用雷射繞射儀校正光柵線距標準所需之儀具及校正步驟,適用範圍為280 nm ~ 10 μm之光柵線距標準試片,雷射繞射儀是由雷射光源、精密角度定位轉盤、四象限位置感測器、隔振台和光學元件所組成,其校正光柵線距的方法係利用繞射原理的Littrow配置,由所用的雷射波長和Littrow繞射角度來計算密集光柵線的平均線距。
41 分光輻射系統分光輻射儀校正程序 本文為在敘述分光輻射儀(Spectroradiometer)之校正程序。本實驗室之分光輻射儀是利用直讀法來量測參考分光輻射亮度標準燈,參考標準燈追溯至美國國家標準與技術研究院 (National Institute of Standards and Technology,NIST)。經量測得讀值與追溯值進行比較即得分光輻射儀之校正因子。

客戶送校之分光輻射儀則以直讀法直接讀取本實驗室之分光輻射亮度工作標準燈之分光輻射亮度、亮度、色度座標及相關色溫值。本文隸屬於分光輻射量測系統 (O03)。

‧範圍

校正項目 範圍

波長範圍 380 nm 至 780 nm

亮度 5 cd/m2  至 50000 cd/m2

分光輻射亮度 2 μW/(m2·nm·sr) 至2 W/(m2·nm·sr)

色度座標 (x, y) (0,0) 至 (0.9,0.9)

色度座標 (u, v) (0,0) 至 (0.62,0.39)

相關色溫  2500 K 至 3200 K



‧量測不確定度(信賴水準為95 %)

‧校正項目:分光輻射亮度

波長範圍 (nm) 相對擴充不確定度 (%) 涵蓋因子

380 ≦λ< 390 3.2 2.08

390 ≦λ< 420 2.7 2.03

420 ≦λ< 530 1.9 1.96

530 ≦λ< 780 1.4 1.96

‧校正項目:亮度

相對擴充不確定度:1.4 %

涵蓋因子:1.96



‧校正項目:色度座標

色度項目         x         y          u          v

擴充不確定度 0.0011 0.0009 0.0004 0.0004

涵蓋因子         1.97         1.97          1.97 1.97

‧校正項目:相關色溫

擴充不確定度:8 K

涵蓋因子:1.97
42 片電阻系統校正程序 本文件為國家度量衡標準實驗室的片電阻校正系統(系統代碼:E27)之校正程序,作為矽片電阻標準的校正方法與校正程序之參考依據,並敘述本系統所使用之儀具以及校正報告之範例。本系統的功能主要是提供矽片電阻標準之校正,其校正服務能量如下:



量測範圍:0.15 W ~ 4000 W



相對擴充不確定度:0.46 %

               (信賴水準 = 95 %,涵蓋因子k = 2.20)
43 分光輻射系統分光輻射亮度標準燈校正程序 本文為敘述分光輻射亮度標準燈之校正程序。利用直讀法,以校正過之分光輻射儀量測本實驗室之分光輻射亮度工作標準燈及送校分光輻射亮度標準燈之分光輻射亮度、亮度、色度座標及相關色溫值。本文隸屬於分光輻射量測系統 (O03)。

‧範圍

校正項目 範圍

波長範圍 380 nm 至 780 nm

亮度 5 cd/m2  至 50000 cd/m2

分光輻射亮度 2 μW/(m2·nm·sr) 至2 W/(m2·nm·sr)

色度座標 (x, y) (0,0) 至 (0.9,0.9)

色度座標 (u, v) (0,0) 至 (0.62,0.39)

相關色溫  2500 K 至 3200 K



‧量測不確定度(信賴水準為95 %)

‧校正項目:分光輻射亮度

波長範圍 (nm) 相對擴充不確定度 (%) 涵蓋因子

380 ≦λ< 390 3.2 2.08

390 ≦λ< 420 2.7 2.03

420 ≦λ< 530 1.9 1.96

530 ≦λ< 780 1.4 1.96

‧校正項目:亮度

相對擴充不確定度:1.6 %

涵蓋因子:1.96



‧校正項目:色度座標

色度項目         x               y         u         v

擴充不確定度 0.0011 0.0009 0.0004 0.0004

涵蓋因子         1.97  1.97  1.97   1.97

‧校正項目:相關色溫

擴充不確定度:8 K

涵蓋因子:1.97
44 量化霍爾電阻標準系統校正程序 本文為量化霍爾電阻標準系統校正程序,隸屬於量化霍爾電阻標準系統 (系統代碼E24)。該系統主要目的是為了建立及維持電阻之原級標準,同時提供直流電阻標準器之追溯管道。本系統之量測方法係基於量化霍爾電阻元件在低溫強磁場環境下所產生之量化電阻值,經由直流電流比較器電橋並配合統計方法,可由該量化電阻值求得待校電阻器之阻值及不確定度。

本系統提供直流標準電阻器 1 kΩ 之量測,系統量測不確定度的分析方法是依據「ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement—Part 3:Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)」中所建議之量測不確定度的計算方式與步驟作評估,系統的相對擴充不確定度如下表所示:

電阻值:1 kΩ;相對擴充不確定度 (μΩ/Ω):0.08;信賴水準:95 %;涵蓋因子 (k):2
45 直流大電阻系統校正程序 本資料為國家度量衡標準實驗室直流大電阻量測系統(系統代碼E25)校正程序。所謂直流大電阻量測是指電阻值範圍介於1 Mohm至100 Mohm之電阻量測。一般與此電阻值範圍相關的儀表包括:標準電阻器、多功能電表、多功能校正器及十進電阻器等。本資料描述這些儀表之校正原理、方法及實際操作程序。對於多功能電表、多功能校正器及十進電阻器,由於它們涵蓋的使用範圍大都從1 ohm至100 Mohm,因此,本資料亦包含1 Mohm以下之電阻值量測。
46 多邊規校正程序 此技術資料為本中心對多邊規實施技術性校正之依據,主要說明多邊規校正所需之標準件及校正步驟,適用範圍為0°~360°各類型多邊規之校正,多邊規之面數可為3面~72面,其校正方法係以整圓封閉角度特性為理論基礎,經由數學模式及圖示分析,計算出待校多邊規之角度誤差。本校正系統係隸屬於大角度校正系統(系統代碼:D07)。
47 絕對輻射系統校正程序 本技術文件為絕對輻射量測系統校正程序。此系統以直流置換法,以電功率與光功率交互置換,量測光源之輻射功率。使光量量測標準直接追溯電量之量測標準。為目前光量之最高量測標準。

本系統之量測波長範圍在300 nm至9000 nm之間,輻射功率則在6 uW至100 mW之間,相對擴充不確定度在可見光區為0.28 %,涵蓋因子為1.99,其它範圍則為0.52 %,涵蓋因子為1.98,信賴水準為95 %。光強度量測範圍70 cd至10000 cd,相對擴充不確定度0.8 %,涵蓋因子為1.97,信賴水準為95 %。照度量測範圍為70 lx至10000 lx,相對擴充不確定度為0.7 %,涵蓋因子為1.97,信賴水準為95 %。以上不確定度不包含待校件之不確定度。
48 電阻式溫度計校正程序 本篇技術文件是國家度量衡標準實驗室電阻式溫度計之校正程序說明,隸屬於電阻溫度計量測系統(系統代碼為T04)。內容符合ITS-90國際溫標之要求,且經由系統評估結果制定對外服務的校正能量為 -70 ℃ ~ 300 ℃。在各章節中,本校正程序將由校正用儀器、校正原理及校正步驟...等做一全面且詳細的描述。
49 直流1V-10V 系統校正程序 本文件為國家度量衡標準實驗室直流 1V-10 V量測系統(E03)之校正程序。本系統功能主要是提供直流電壓標準器之校正,其基本量測方法是將待校件之電壓輸出,利用電壓差比較法與本實驗室標準電壓進行直接比較量測,且依據ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement – Part 3: Guide the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) 所述之方法計算出系統能量及待校件之相對擴充不確定度。本系統提供之校正服務能量如下:



量測範圍: 1 V ,  1.018 V ,  10 V



相對擴充不確定度:  0.3 mV/V

               (信賴水準95%,涵蓋因子k=2.13)
50 絕對輻射系統照度計校正程序 本文件為絕對輻射系統O06照度計與光強度之校正程序,內容說明校正過程中的準備事項、校正步驟及後續處理程序。待校項目可為照度計與照度色度計,所適用之光源目前僅限於近A光源。該系統亦可用於光源之光強度校正。服務能量如下:

‧ 照度範圍:25 lx 至 1500 lx

‧ 光強度範圍:25 cd 至 90000cd

‧ 色度範圍:0.0 至 0.9

‧ 色溫範圍:2500 K 至 3200 K

 此校正範圍得因量測技術之改進和量測儀器之更新而修訂之。
51 分光輻射系統亮度色度計校正程序 本文旨在敘述如何使用分光輻射儀(Spectroradiometer)或分光輻射亮度標準燈(Spectral Radiance Standard Lamp)執行業界使用之各種亮度計(Luminance Meter)/亮度色度計(Luminance Colorimeter )的校正。

目前所用之分光輻射亮度標準燈係使用分光輻射儀將追溯至美國國家標準與技術研究院 (National Institute of Standards and Technology,NIST)之分光輻射亮度標準燈的標準傳遞至國家度量衡標準實驗室(National Measurement Standards,NML)的分光輻射亮度標準燈。確保其完整追溯性,其校正範圍從5 cd/m2到50,000 cd/m2。

‧範圍:

亮度:5 cd/m2至50000 cd/m2

色度座標:0.0 ~ 0.9

相關色溫:2500 K 至 3200 K

‧相對擴充不確定度:信賴水準95 %

亮度:1.6 %;涵蓋因子1.96

‧擴充不確定度:信賴水準95 %

色度座標:x:0.0011,y:0.0009;涵蓋因子1.97

相關色溫:8 K;涵蓋因子1.97
52 交直流電流轉換量測系統校正程序 本報告為國家度量衡標準實驗室之交直流電流轉換系統(系統代號:E11)的校正程序,本系統以交流電流標準件-熱效電流轉換器(Thermal Current Converter, TCC)來校正待校之TCC、交流電流源、交流電流表及交流電流分流器。報告內容主要包括校正前的準備、校正步驟、量測過程中所使用之標準件和儀器設備,以及校正數據之分析。

校正服務範圍為電流:10 micro A ~ 20 A,頻率:20 Hz ~ 100 kHz,其量測擴充不確定度為11 micro A/A ~ 250 micro A/A,信賴水準約為 95 %,涵蓋因子(coverage factor) k為2。
53 比壓器量測系統校正程序 本文係說明比壓器校正之詳細程序,作為比壓器量測之依據。應用差動原理,以相互比較方法,用比壓器測試儀量取待測比壓器與標準比壓器之變比差異,而求得待測比壓器之變壓比誤差,以判斷待測比壓器之精密等級。
54 國家度量衡標準基礎建設精進方案 國家度量衡30年來已建立17領域134套經國際同儕評鑑與相互認可的量測標準系統,每年提供國內近2,000廠商校正服務並衍生超過600萬件次以上二級校正服務,藉由國際度量衡委員會(International Committee for Weights and Measures, CIPM)相互認可協議(MRA),NML出具之校正報告為各簽署國之計量組織所承認,讓臺灣優良產品可以排除技術貿易障礙,順利外銷全球。

國際度量衡大會(The General Conference on Weights and Measures, CGPM)於2018年將公布國際單位制(法語: Systeme International d'Unites, SI)基本單位重新定義,7個SI基本單位中的4個將重新以定值的物理常數來定義,包含質量-公斤以普朗克常數h定義、溫度-克耳文以波玆曼常數kB定義、電流-安培以電荷常數e定義、物質量-莫耳以亞佛加厥常數NA定義等。屆時我國現有原級標準均無法適用,亟須儘速建立全新4項新定義計量原級標準系統。若我國計量標準系統未能適時新建或精進以符合SI基本單位之新定義,除面臨標準追溯斷鏈,影響廠商產品檢測誤差及品質,增加國外送校時間與成本,更將喪失我國計量主權,甚至危及我國目前已獲承認並登錄至國際度量衡局網站的375項校正與量測能力(Claibration and Measurement Capabilities, CMCs)。

此外,NML現有的17個領域134套國家量測標準系統係由7個基本單位推導衍生建置,SI基本單位之重新定義亦將影響現有的國家量測標準系統,須一併配合重新進行標準導引與系統精進。而且現有量測標準系統,逾70 %之建置時間已超過15年,量測範圍及不確定度恐無法因應政府推動五加二產業創新計畫之計量需求,例如:智慧機械相關的長度、振動等領域標準系統、綠能科技相關的電量及流量領域等標準系統,爰希藉由此次標準重新定義優先將老舊的系統精進,強化我國計量領域實力以協助政府政策之推行。
55 量測系統查驗總結報告-靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13) 本總結報告說明“靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13)”建立後之系統查驗過程及相關紀錄,系統查驗會議於2018/3/23(五)舉行,經查驗委員查驗後建議通過,可對外服務。本中心於2018/5/29(二)提報標準檢驗局此新建“靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13)”對於服務案說明,並附上“量測系統查驗報告”。標準檢驗局於2018/6/8(五)回函同意“靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13)”作為國家度量衡標準系統,可正式對外提供校正服務。

靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13)之服務能量如下表所示。



校正範圍:1000.0 mg/kg

擴充不確定度:1.5 mg/kg

校正項目:鉛標準液
56 微分電移動度分析儀應用於氣體管路中奈米微粒數目濃度測試之取樣程序 測試氣體管路中奈米微粒粒徑及濃度之操作程序
57 三軸直流磁場訊號輸出及警報系統製作 半導體廠製程機台運作時之環境磁場需即時監控以確保操作人員不會暴露於過大磁場並可監測儀器設備之穩定性。此三軸直流磁場警報及訊號輸出系統共有3個三軸向直流磁場感測頭模組,可提供即時量測及顯示磁場的範圍為±15 G ,同時也將磁場量測值,轉換成4 mA 至 20 mA類比訊號,經過SCADA傳送至控制中心。文中說明工作原理、規劃設計、製作架設及校正量測方式,將作為後續模組擴充精進之依據。
58 微型電子元件釋氣率測定概要 我們依熱力學定律測量了真空環境中使用的微傳感器的釋氣率。微型感測器可以測量真空室中的?度、壓力、濕度等參數。本測試主要目的是確定微傳感器是否可以在特定真空度的要求下使用。由於微傳感器的釋氣速率可能會影響整個半導體製造的良率。我們使用適當的真空系統來確定真空室環境下微傳感器的釋氣速率。整個真空測試系統包括負載鎖定室和主真空室。 在高真空度低於10-1 Pa來測試微傳感器電子元件,然後打開連接到主室的加載鎖定室的閥門; 通過已知的主測量室過程中的壓力變化速率,並通過離子真空計測量壓力 我們將獲得微傳感器放氣率的上限。在本文中,我們將報告這些測定結果以及相關的技術討論。
59 107年度NML內部稽核綜合報告 在ISO/IEC 17025:2005的4.14與ISO 17034:2016的8.7內部稽核一節中提及,實驗室/參考物質生產機構應依據預定的時程與程序,定期地對其活動進行內部稽核,以查證其作業持續符合管理系統與對應規範之要求。故國家度量衡標準實驗室(National Measurement Laboratory, NML)每年度均會實施內部稽核活動,除確認各量室/量別運作符合NML、ISO/IEC 17025:2005與ISO 17034:2016之要求,並確保NML管理系統運作之有效性與適切性。107年度NML內部稽核活動之工作要項與各階段產出紀錄詳見本研究報告內所述。
60 PVTt定容積槽容積標定與量測不確定度評估程序 本程序書係說明國家度量衡標準實驗室之低壓氣體流量校正系統(壓力容積溫度時間校正器)-原級法(系統代碼為F12)的定容積槽容積標定與量測不確定度評估程序。系統量測原理係透過一已知容積的定容積槽(容積:VT),於校正過程中收集標定之氣體,量測校正前後定容積槽與校正管路中庫存容積(容積:VI)內所收集到的氣體的溫度與壓力以求得氣體密度,輔以已知的VT與VI,即可求得收集氣體的質量。將收集氣體的質量除以校正時間,便可求得通過被校氣量計的質量流率,將質量流率除以氣體密度,即可換算得體積流率。定容積槽容積標定方法係採用稱重法,又分為工作流體為水及空氣兩種等方式進行。

容積標定結果之量測不確定度係依據ISO/IEC Guide 98-3:2008 [8.1] 建議的A類及B類評估方式,分別計算各個物理量之(相對)標準不確定度,再計算(相對)組合標準不確定度,並以95 %的信賴水準和有效自由度獲得學生t分佈值的涵蓋因子,(相對)擴充不確定度即為涵蓋因子與(相對)組合標準不確定度的乘積。
61 矽飄移偵測器之X光訊雜比最佳化 矽飄移偵測器廣泛應用於X光相關檢測,諸如X光螢光光譜、X光光電子頻譜儀和X光反射儀等。在訊號輸出以及輸入的處理部分,需要配合不同的X光靶材做訊號處理之參數調整。矽飄移偵測器接收訊號後,會經過訊號前置放大器以及訊號整形放大器,訊號整形放大器中分有微分器和積分器以及電壓增益,當中可以調整增益參數、慢通道以及快通道的訊號時間參數和的閾值,增加訊雜比。
62 106年度NML顧客滿意度調查研究報告 提供校正服務是國家度量衡標準實驗室(National Measurement Laboratory,NML)的服務項目,透過顧客滿意度的調查,可檢視NML的服務是否滿足顧客的期待與需求。要達到顧客滿意,首先得聆聽顧客的心聲,並嘗試尋求提高滿意度的方向,以作為服務品質改善的目標,故進行本次之顧客滿意度調查。

由分析結果可知,106年度NML整體滿意度為9.6分(滿分為10分),維持同往年之整體滿意度分數,值得鼓勵。然而,NML仍有部分不足之處為顧客希望改善的項目,故本研究報告亦彙整顧客提供之意見及建議予各量室作為持續改進之參考。NML除了以顧客希望改善的項目作為爾後努力的方向之外,將繼續維持顧客肯定的項目,提供顧客更好的服務品質。
63 102年度至105年度 NML顧客資料分析 顧客關係管理是組織整合各種與顧客互動的管道及媒介,利用資訊科技對顧客資料進行分析,以達成快速回應顧客需求,完全以顧客為導向,創造組織與顧客雙方價值。其中,有一重要的課題即是資料採礦,企業必須先瞭解自身目前所能掌握的資訊有哪些,以及想藉由資料庫獲得的知識為何。掌握並加以分析顧客消費的資料,對於鞏固顧客的向心力有著極大助益。本文以NML之實驗室資訊管理系統(LIMS)為依據,經由統計圖表、BCG手法與集群分析來解讀NML的顧客資料,由分析結果可看出NML或各領域工業服務數量之消長,除印證了國內產業的走向外,也找出NML的重要顧客有哪些,更將重要顧客予以分類,將來提供NML進行顧客分級制度之依據。本文分析了顧客之結構與貢獻度,除提供NML作為勾畫未來遠景外,也可作為分項計畫主持人與各領域訂定NML發展策略時之參考。
64 原級參考混合氣濃度檢驗與穩定度評估報告(C2H5OH in N2 及 VOCs in N2) 本報告以氣相層析儀搭配火焰離子偵測器(GC-FID)、氣相層析質譜儀(GC-MS),進行不同成分濃度之原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM)濃度檢驗(Verification)。由檢驗分析結果(Canal)與秤重法估算濃度值(Cw)的比較,進而確認及查核Cw的準確性;並透過各既有之PSM,與購自國外國家計量機構(NMI)之原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)或C08系統定期重新配製的PSM,進行濃度比對分析,進而評估既有PSM的濃度驗證值及其量測不確定度。此後藉由每3至6個月一次的分析測試,長期監控及評估PSM的濃度穩定度,以評估其有效使用期限。本系統隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統〞(C08),秤重法濃度值與分析檢驗濃度值的差值符合ISO 6142-1:2015及ISO 6143:2001濃度檢驗準則  。本系統的PSM經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)服務,所提供的服務成份與濃度範圍如下表所示。
65 原級參考混合氣濃度穩定度查驗報告(N2O in N2及H2S in N2) 本研究報告之主要目的,乃藉由氣相層析儀搭配熱傳導偵測器(GC-TCD)及氣相層析質譜儀(GC-MS)之系統檢驗能力,針對所配製之N2O in N2及H2S in N2等原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM),進行濃度穩定度評估,藉以評估其有效使用期限。本報告內容隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)〞的能量範圍,透過各既有之PSM,與購自國外國家計量機構(NMI)之原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)或C08系統定期重新配製的PSM,進行濃度比對分析,進而評估既有PSM的濃度驗證值及其量測不確定度。此後藉由每3至6個月一次的分析測試,長期監控及評估PSM的濃度穩定度。
66 甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯驗證參考物質生產作業指引 本文件係針對甲醇(Methanol)中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(di(2-ethylhexyl)phthalate;DEHP)配製作業流程進行概要說明,並依據ISO Guide 34:2009,說明生產程序中應遵循參照之品質文件以及相關注意事項,以作為甲醇中鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯驗證參考物質製造生產之作業指引。
67 原級參考混合氣濃度檢驗評估報告(N2O in N2及H2S in N2) 本報告以氣相層析儀搭配熱傳導偵測器(GC-TCD)及氣相層析質譜儀(GC-MS),分別針對不同濃度之N2O in N2及H2S in N2原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM)進行濃度檢驗(Verification)。由檢驗分析結果(Canal)與秤重法估算濃度值(Cw)的比較,進而確認及查核Cw的準確性。本系統隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統〞(C08),秤重法濃度值與分析檢驗濃度值的差值符合ISO 6142-1:2015及ISO 6143:2001濃度檢驗準則  。本系統的PSM經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)服務。
68 原級參考混合氣濃度檢驗評估報告(CO+CO2+C3H8/N2及O2/N2) 本報告以氣相層析儀搭配熱傳導偵測器(GC-TCD),進行不同成分濃度之原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM)濃度檢驗(Verification)。由檢驗分析結果(Canal)與秤重法估算濃度值(Cw)的比較,進而確認及查核Cw的準確性。本系統隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統〞(C08),秤重法濃度值與分析檢驗濃度值的差值符合ISO 6142-1:2015及ISO 6143:2001濃度檢驗準則  。本系統的PSM經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)服務。
69 原級參考混合氣濃度穩定度查驗報告(CO+CO2+C3H8/N2及O2/N2) 本研究報告之主要目的,乃藉由氣相層析儀搭配熱傳導偵測器/火焰離子偵測器(GC-TCD/FID)之系統檢驗能力,針對所配製之CO+CO2+C3H8 in N2及O2 in N2等原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM),進行濃度穩定度評估,藉以評估其有效使用期限。本報告內容隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)〞的能量範圍,透過各既有之PSM,與購自國外國家計量機構(NMI)之原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)或C08系統定期重新配製的PSM,進行濃度比對分析,進而評估既有PSM的濃度驗證值及其量測不確定度。此後藉由每3至6個月一次的分析測試,長期監控及評估PSM的濃度穩定度。
70 原級參考混合氣濃度穩定度查驗報告 本研究報告之主要目的,乃藉由氣相層析-熱傳導偵測器/火焰離子偵測器(GC-TCD/FID)、傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR)或微量氧氣分析儀之系統檢驗能力,針對所配製之CO in N2、CO2 in N2、CH4 in N2、C3H8 in N2、CF4 in N2、SF6 in N2、

NO in N2、SO2 in N2、O2 in N2以及CH4 in air等原級標準氣體(Primary Standard Gas Mixtures,PSM),進行濃度穩定度查驗及計算其不確定度,藉以評估其有效使用期限。本報告內容隸屬於〝質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)〞的能量範圍,透過各既有之PSM,與購自國外國家計量機構(NMI)之原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)或C08系統定期重新配製的PSM,進行濃度比對分析,進而評估既有PSM的濃度驗證值及其量測不確定度。此後藉由每3至6個月一次的重複分析測試,長期監控及查驗PSM的濃度穩定度。
71 活塞管式校正器標準管內徑量測與不確定度評估程序 管式校正器(Piston Prover),隸屬於低壓氣體流量校正系統(系統代碼為F06),由五具精密製造之玻璃管配合水銀密封之活塞組成,當氣體推動活塞垂直向上移動時,利用水銀反射光訊號啟動及結束計時器及雷射干涉儀之計數器,記錄氣體收集時間與活塞的位移行程,以及收集時間內氣體平均溫度及啟動及結束瞬間壓力,即可計算出流經被校件之標準質量流率或視需要轉換成體積流率。

在校正執行前,需先量測各玻璃管平均內徑(Dm)並進行不確定度評估,所使用的量測儀器是一具LVDT(Linear Variation Differential Transmitter),包含塞規、連桿與顯示器。透過玻璃管平均內徑與雷射干涉儀所讀取之活塞位移行程Ln的乘積,即可求得收集容積之量測值及其相對應的量測不確定度。

此報告係依ISO “Guide to The Expression of Uncertainty in Measurement”所建議之評估方式,對管式校正器之玻璃管內徑進行不確定度分析。
72 混合氣驗證參考物質生產作業指引 本文件係針對混合氣之配製作業流程進行概要說明,並依據ISO 17034:2016,說明生產程序中應遵循參照之品質文件以及相關注意事項,以作為混合氣驗證參考物質製造生產之作業指引。
73 流量量測系統稱重平台校正與不確定度評估程序 本程序係國家度量衡標準實驗室流量量測系統執行稱重平台校正與量測不確定度評估之依據,採用之校正方法係直接以放置法碼施加載重方式進行比較校正。作為標準件的法碼乃直接追溯至國家質量標準。以標準件經由校正所得質量值作為標準質量,再與稱重平台之量測值進行比較,所得結果以兩者的比值修正係數表示。稱重平台於不同載荷所得之修正係數,即為稱重平台校正結果。

稱重平台進行校正所得結果之不確定度,係依據ISO GUM建議方式,依八大步驟進行評估。先對稱重平台校正結果的量測變數以及其各自的影響因素進行分析,再依A類和B類方式評估求得各量測變數的標準不確定度,並分別乘上其各自的靈敏係數值後,以取平方和之平方根的方式加以合併估得量測結果的組合標準不確定度。本程序係以95 %信賴水準下的擴充不確定度來表示量測結果之不確定度,其值乃藉由以Welch-Satterthwaite方程式求得的有效自由度查得的涵蓋因子,與其組合標準不確定度相乘而得。
74 國家度量衡標準實驗室與菲律賓國家標準實驗室之直流電壓標準系統雙邊比對報告 本比對報告是針對我國國家度量衡標準實驗室 (NML) 與菲律賓國家標準實驗室 (NML-ITDI) 之直流電壓標準系統雙邊比對結果作說明。此雙邊比對的所有量測實驗皆於 NML 完成,比對期間為 2015 年 8 月 25 日至 2015 年 9 月 14 日。

此雙邊比對的主要目的是為了協助菲律賓國家標準實驗室驗證其直流電壓標準系統於 1.018 V 與10 V 的量測能力,以利其順利通過第三者認證,進而完成 CIPM MRA之登錄。從雙邊比對結果計算其直流電壓 1.018 V 與 10 V 的 En 值分別為 0.73 與 0.85 (k=2,信賴水準約為 95 %),代表 NML 與菲國 NML-ITDI 的量測結果具一致性。
75 鉛標準液配製質量與濃度評估報告-秤重法 本評估報告說明本實驗室使用Mettler Toledo XP205與Mettler Toledo MS6002TS上皿式天平進行鉛標準液(Lead Standard Solution)配製質量的量測、配製溶液濃度估算與其擴充不確定度評估說明。本實驗室實際量測時,係針對鉛金屬塊材與硝酸溶液進行秤重,秤重數值利用空氣浮力修正項進行修正,即可得樣品配製瓶中溶質質量、溶液質量及其不確定度。而配製溶液之濃度不確定度來源為:(1) 溶質質量不確定度、(2) 溶液質量不確定度、(3) 溶質純度不確定度。本系統隸屬於靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13),所提供的服務成份與濃度範圍如下表所述。
76 天平校正系統評估報告 本評估報告針對天平校正之準確度評估程序進行說明,以作為實驗室對內執行天平校正時量測不確定度估算之依據。根據校正程序以及量測方程式所列參數,不確定度主要來源包含:(1)天平顯示值的不確定度,以及(2)標準法碼的不確定度等二大項。本文則針對各項目之估算方式進行說明,本校正程序則隸屬於質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08)。
77 鉛標準液配製質量與濃度驗證程序-秤重法 本文件針對使用Mettler Toledo XP205與Mettler Toledo MS6002TS上皿式天平進行鉛標準液(Lead Standard Solution)配製質量與濃度驗證之操作程序及其注意事項。

量測時利用空氣浮力校正因子方法(Air-buoyancy correction factor method)修正量測質量後,由天平讀出配製瓶質量,進而推算出配製瓶於內容物添加前後之質量差值。本文件隸屬於靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13)。
78 天平校正程序 本文件針對醫學與化學研究室(G400)使用之天平進行質量校正程序說明,以為本量室執行天平校正之操作程序及其注意事項。本文件屬於G400標準系統之內校程序。
79 座標量測儀校正程序 本文為國家度量衡標準實驗室使用LaserTRACER校正座標量測儀的校正程序與依據。本方法是利用LaserTRACER追蹤架設有貓眼反射鏡的座標量測儀移動,在座標量測儀每次移動間的暫停時間裡,LaserTRACER會量測貓眼反射鏡與其內部的標準球距離,並以多線交會 (multilateration)及蒙地卡羅方法 (Monte Carlo Method, MCM)方法,計算LaserTRACER擺放位置與推算座標量測儀的準確度。

本校正系統的校正能量為:

Ÿ 校正項目:座標量測儀

Ÿ 量測範圍:(200~10000) mm

Ÿ 擴充不確定度(U)以方程式表示為:

                     U = k × uc =1.97 × (0.18 + 6.3 × 10-7 × L)

              其中L為量測距離

Ÿ 信賴水準:95 %

Ÿ 涵蓋因子 (k):1.97

Ÿ 本校正程序隸屬於座標量測儀校正系統
80 三線性軸工具機之六項幾何誤差模型推導與驗證技術報告 為了能更快速、自動化進行三軸工具機的線性定位和垂直度誤差的分析,本技術報告提出了只需要在一個位置設置一台追蹤式雷射干涉儀即可進行分析的方法。首先,利用齊次轉換矩陣,設計了一個三軸工具機的運動模型。之後,定義合理的初始和邊界條件並應用最佳化演算法來求解逆向運動學問題。其中模擬的參數包括工具機的幾何誤差、儀器位置和量測結果的重複性(ISO 230-1定義)。模擬的結果顯示,當考慮4 μm的重複性條件時,線性定位和垂直度的最大差異分別為 - 0.9 μm/m和0.2 arcs,而相對應的最大標準差分別為0.28 μm/m和0.01 arcs。此方法亦使用座標量測儀進一步驗證分析結果。由實驗結果得知,分析參數與模擬參數具有一致性,其中線性定位和垂直度誤差的最大差異分別為0.7 μm/m和0.3 arcs,且三等分的空間網格的總測量時間只需要大約10分鐘。由以上的研究結果顯示,此法有能力進行三軸工具機幾何誤差的快速分析。
81 幾何量測用塊規校正系統-相位計數研究 本文中,介紹塊規校正系統(D02)系統架構與量測原理,校正系統由NPL開發完成,系統架構可分為硬體與光學系統。首先,探討雷射光源功率調整,使雷射光在光纖功率分配正確,另外,光學系統為太曼格林(Twyman-Green)雷射干涉儀,干涉儀包含兩個雷射光源,綠光雷射光源與紅光雷射光源,原理中,量測值須由一個整數值與一個殘餘值進行計算,由雷射干涉儀的干涉條紋,進行條紋記數,得到整數值,搭配五位移相位法,由CDD影像擷取干涉條紋,進行影像光學相位重建,得到殘餘值,由整數值與殘餘值計算量測結果。
82 鉛標準液驗證參考物質生產作業指引 本文件係針對鉛標準液(Lead Standard Solution)配製作業流程進行概要說明,並依據ISO Guide 34:2009,說明生產程序中應遵循參照之品質文件以及相關注意事項,以作為鉛標準液驗證參考物質製造生產之作業指引。
83 鉛標準液濃度檢驗、均勻性與穩定性評估報告 本報告以自動滴定儀(Autotitrator),進行鉛標準液(Lead Standard Solution)之濃度檢驗(Concentration verification)、均勻性評估(Homogeneity evaluation)與穩定性評估(Stability evaluation)。由分析檢驗濃度值與秤重法濃度值之比較,進而確認及查核秤重法濃度值之準確性;由均勻性評估結果確認配製溶液分裝後之均勻性;由穩定性評估結果確認其有效使用期限。本系統隸屬於靜態重力法無機元素供應驗證系統(C13),其原級標準物質(Primary Standard Material;PSM)經檢驗通過後,可提供校正/測試實驗室原級參考物質(Primary Reference Material;PRM)服務。
84 水氣濃度分析技術 建立水氣濃度分析技術,AGT溫度系統使用的氣源為氬氣,因共振腔氣體之平均分子量之量測不確定度貢獻約為30 %,因此除了提供純度高的氬氣外亦需監控量測氬氣所含水分量。本文建立微水量測技術,經由所本文所建立的微量水氣分析管路純化後,在氬氣流量5 sccm (每分鐘標準毫升)時,所量得的水氣濃度105 ppb估算,則所對應的溫度不確定度為 0.015 mK-0.034 mK。
85 Micro-LED陣列影像亮度色度量測系統開發 本報告為本實驗室執行「微發光二極體量測方法研究」之「micro-LED陣列影像亮度色度量測系統開發」技術分項之成果。本報告包含 micro-LED 陣列影像亮度色度量測系統設計製作、m-LED 陣列影像亮度色度量測技術應用等內容,以做為 micro-LED 或 mini-LED 陣列之量測、分析、評估之基礎應用技術。
86 以光纖雷射光梳為基礎的毫米波光纖搭載射頻技術 本技術報告介紹由1 GHz光梳間距的摻鉺光纖雷射光梳產生光纖搭載毫米波,藉由虛像相位陣列(Virtually imaged phase array, VIPA)搭配光柵將1 GHz間距的光纖雷射光梳解析出來,然後將兩根光梳耦合進兩根光纖中,再結合到同一根光纖中,經由光纖傳遞至光二極體,藉由兩根不同頻率的光梳在光二極體中產生毫米波,選擇適當的光梳間距,可以產生10-70 GHz的毫米波。這樣的技術可以應用在5G 毫米波RoF通訊,光纖雷射光梳也可以提供DWDM光通訊所需的所有通道雷射,以光纖雷射光梳為基礎的通訊系統有機會可以無縫連結光通訊與5G 行動通訊。
87 1 GHz自參考穩頻摻鉺光纖雷射光梳 本技術報告介紹1 GHz自參考摻鉺光纖雷射光梳的製作技術,雷射振盪器使用半檔體飽和吸收鏡(SESAM)來啟動鎖模,並且採用環形的雷射腔,雷射腔內的光隔離器可以阻隔泵浦光照射到SESAM上,避免SESAM受到泵浦光的破壞。以4級摻鉺光纖放大器將雷射功率放大到550 mW,並且用光纖將脈衝壓縮到70 fs,可以用非線性光纖將光譜擴展到八度光頻寬,以2-2f自參考偵測到的偏差頻率訊噪比達32 dB,穩頻後重複率的追蹤不穩定度為1.4x10^-13,偏差頻率的擾動約6 mHz,偏差頻率擾動造成的光頻率的相對擾動約3x10^-17。因此目前光梳穩頻的不穩定度主要受限於重複率的穩頻。到目前為止,還沒有文獻有報導過重複率不小於1 GHz的自參考穩頻的摻鉺光纖雷射光梳。
88 全球計量學院溫度計量技術的介紹 本次報告主要介紹有關由韓國國家標準與科學研究院(KRISS)主辦的全球計量學院溫度計量技術。全球計量學院(GMA)長期致力於量測及計量技術知識分享及經驗交流,因此課程分三大模組,包含質量相關之「Mass and Related Quantities (MRQ)」、長度相關之「Length and Dimensional Metrology (LDM)」,及溫濕度領域相關之「Thermometry and Humidity (TH)」。

該份報告主要集中報導有關溫度方法的技術,內容由技術講座與相關的實際操作所組成,提供最新SI 資訊、計量的基礎、溫度的基礎知識、與相關校正技術。
89 Digital Phase Detector設計 ‘Digital Phase Detector’的製作是為了使飛秒光纖雷射光梳的偏差頻率與參考訊號的相位/頻率相同。系統是由Prescaler、ECL Translator、Digital Phase Detector、Low Pass Filter、Differential Amplifier及Buffer所組成的,本篇技術報告內容包括系統每個方塊圖的規格、設計方法及電路製作的輸出結果。
90 現行計程車計費表防弊措施研究 計程車計費表的檢定、檢查,關係著所有搭乘計程車的乘客與計程車業者的權益。本研究報告對CNPA 21計程車車表型式認證規範與現行國際計程車表規範進行比較分析,並採購了五套於台灣使用的計程車計費表進行比較,且對車表廠商與四間檢驗機構進行訪談;綜合訪談內容後,對照國內目前實行規範與國外實行的規範提出防弊建議。
91 2018 標準局氣量計檢定檢查設備性能測試評估 使用市售 6 m3/h 氣量計共計 5 具進行量測稽核,共計有台南分局,基隆分局,台中分局及七組兩套共計 5 套系統參與。l 設備間差異大多低於 0.2%,最大亦不超過 0.23%,以量測不確定度 0.25 % 估算 En 皆低於 0.69。l 量測比對結果確認標準局目前使用的 5 套( 2.5 – 6) m3/h 的氣量計檢定系統檢定結果數據的一致性。
92 經濟部標準檢驗局使用中氣量計器差特性測試報告 使用中氣量計器差特性測試 l 使用中(3年以上至10年以內)氣量計器差特性研究。l 配合標準局年度抽檢活動,共計檢查數量共計 3193 具,不合格數量共計 106 具,合格率為 96.7%。針對不合格錶或相對器差比較大 (相對器差絕對值大於 3%) 的錶,送至量測中心進行重新測試,今年在量測中心共計重新測試 58 具氣量計。
93 經濟部標準檢驗局膜式氣量計重新檢定氣量計耐久性模擬測試研究 重新檢定氣量計耐久性模擬測試研究l 選定維修並重新檢定合格之氣量計進行耐久性模擬測試研究。 選定維修重新檢定合格之氣量計 (4 m3/h , 6 m3/h 各5只) 進行研究。以最大流率運轉 2000小時,耐久運轉後進行耐久測試前後器差比較。結果顯是耐久測試前後器差變化量最大 1.39%,且所有錶在耐久測試後都能符合檢查合格規範 3%。l 所有錶在耐久測試後,其器差均比耐久測試前小,換句話說,耐久後錶的特性是器差偏小,計量偏低。
94 聲學氣體溫度計實務架構解析與操作作業 目前在低、中溫的溫度範圍,國際上的國家計量機構應用熱力學測溫法來決定熱力學溫度T者,計有聲學氣體測溫法、強生雜訊測溫法、介電常數測溫法、定體積氣體測溫法…等,其中又以聲學氣體測溫法所得之熱力學溫度的量測不確定度最小。而聲學氣體測溫法之量測原理係依據動力學理論,聲音在理想氣體中的傳播速度u之平方,與理想氣體分子在熱力學溫度T下之均方根速度Vrms的平方,存在著比例關係式;若以能量的觀點觀之,氣體分子的平均動能以波茲曼常數k正比於熱力學溫度T,因此應用聲速量測即可決定出熱力學溫度。本報告係先就聲學氣體溫度計之架構進行實務上的解析與說明,並進行架構式之操作步驟建立,以利後續詳細操作流程與量測技術之建立。
95 熱電偶高溫系統組裝與操作程序 本文旨在描述熱電偶高溫系統的安裝結構、操作程序、利用轉折點方法評估共晶點的熔化溫度,並以Co-C(1324 °C)與Pd-C(1492 °C)共晶點囊實現溫度高於1100 °C以上的貴金屬型熱電偶溫度計的定點校正。
96 高溫黑體爐組裝與操作程序 本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計校正系統(系統代碼為T01)之輻射溫度計用高溫黑體爐的組裝與操作維修程序。其操作範圍為600 ℃至 3000 ℃。
97 免液氦量化霍爾電阻系統之操作與量測技術 免液氦量化霍爾電阻量測技術是全球各先進國家計量院所積極投入研發之標的,國家度量衡標準實驗室為使我國電阻原級標準計量技術達到與國際同步的目標,亦積極投入相當的資源作量化霍爾電阻系統改良,並將於2018年12月完成免液氦量化霍爾電阻系統的建置。

本技術報告將針對免液氦量化霍爾電阻系統之操作原理,以及該系統執行電阻標準傳值與校正之相關步驟及安全注意事項作介紹與說明。
98 四甲基氫氧化銨溶解矽晶體之前處理技術 本研究說明如何利用四甲基氫氧化銨溶解矽晶體,其過程需包含鐵氟龍樣品瓶的清洗流程,矽晶體的表面清洗流程,與矽晶體塊材溶解流程。配製過程需注意可能的污染導入來源,鐵氟龍樣品瓶清洗後需確認瓶子潔淨度,矽晶體溶解過程需確認是否完全溶解,並確認空氣浮力的質量修正,每次使用前皆需重新計算濃度值以避免溶劑揮發效應導致濃度改變。未來此前處理技術將應用於矽同位素分析。

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