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110年研究報告

項次技資名稱中文摘要

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110年度NML內部稽核綜合報告

在ISO/IEC 17025:2017第8.8節/ISO 17034:2016第8.7節之內部稽核中提及,實驗室/參考物質生產機構應依據預定的時程與程序,於規劃期間/定期地對其活動進行內部稽核,以查證其作業持續符合管理系統與對應規範之要求。故國家度量衡標準實驗室(National Measurement Laboratory, NML)每年度均會實施內部稽核活動,除確認各量室/量別運作符合NML、ISO/IEC 17025:2017及ISO 17034:2016之要求,並確保NML管理系統運作之有效性與適切性。110年度NML內部稽核活動之工作要項與各階段產出紀錄詳見本研究報告內所述。

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比流器量測系統評估報告

本文係國家度量衡標準實驗室比流器量測系統(E12)之評估報告, 作為
比流器量測系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據,並提供
系統量測品保的設計與步驟。比流器量測系統主要是提供比流器、分流器及
相關電流轉換器之校正。比流器校正係應用差動原理, 以全自動變比器測試設
備量取標準比流器與待校比流器之差異,以得到待校比流器之變流比誤差與
相角誤差值。本系統之評估方式主要依據ISO 國際標準組織所出版之量測不
確定度表示方式指引"ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of
measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement
(GUM:1995)"內所闡述之不確定度評估方式, 分別對影響量測值之各參數進
行量測、評估, 而計算出Type A 不確定度及Type B 不確定度。文中詳細說
明系統量測誤差來源及不確定度估算方式,並依實際量測數據分析,訂出系
統之校正能量及(相對)擴充不確定度如下:
A. 比流器量測範圍: 一次側額定電流5 A 至 5000 A,二次側額定電流1 A 或5 A。擴充不確定度: 變流比誤差0.0070 %,相角誤差 0.024 mrad(信賴水準約95 %, 涵蓋因子為2)。
B. 分流器及相關電流轉換器量測範圍: 5 A 至 5000 A。相對擴充不確定度: 0.29 mV/V(信賴水準約95 %, 涵蓋因子為2.01)。

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交直流電壓轉換量測系統評估報告

本報告說明交直流電壓轉換系統(系統代號:E06)之量測原理, 交直流電壓轉換標準件─熱效電壓轉換器 (Thermal Voltage Converter, TVC)之交直流差(AC-DC Difference)校正, 交流低電壓標準件, μpot (micropotentiometer) 校正, 交流電壓源/表校正,及其量測結果不確定度分析, 並為現階段提供交流電壓校正服務之依據.

校正服務範圍: 電壓: 1 mV – 1000 V, 頻率: 20 Hz – 1 MHz, 擴充不確定度(信賴水準約95 %, 擴充係數k=2): 4 mV/V – 500 mV/V.

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比流器量測系統校正程序

本文係國家度量衡標準實驗室比流器量測系統(E12)之校正程序。比流器量測系統提供比流器、分流器及相關電流轉換器之量測。本資料描述這些待校儀器之校正原理、方法及實際操作程序。
   比流器量測係應用差動原理,以比流器測試儀量取相比較之標準比流器及待校比流器之差異,處理後顯示出待校比流器之變流比誤差與相角誤差值。本系統之校正能量及相對擴充不確定度(信賴水準約95 %,涵蓋因子為2)如下:
A. 比流器量測範圍:一次側額定電流5 A至 5000 A,二次側額定電流1 A或5 A。擴充不確定度:變流比誤差: 0.0070 %,相角誤差: 0.024 mrad
B. 分流器及相關電流轉換器量測範圍:5 A 至 5000 A。相對擴充不確定度:0.29 mV/V

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低磁場(1 mT 至 50 mT)校正系統校正程序

本文件隸屬於低磁場量測系統(B03),敘述以低磁場(1 mT 至50 mT)校正系統校正高斯計及標準參考磁鐵之方法。文中詳細敘述校正步驟、資料分析方法及報告格式範例,以作為執行校正者之操作依據。本系統可提供之磁通密度值範圍為:
磁通密度值範圍:1 mT 至 50 mT
擴充不確定度:0.0054 mT 至 0.2 mT
涵蓋因子:k = 1.98
信賴水準:95 %

6

交直流電壓轉換校正程序

交直流電壓轉換校正程序為量測熱效電壓轉換器(Thermal Voltage Converter)之交直流差(AC-DC Difference)之量測程序, 內容則分別敘述熱效電壓轉換器之校正步驟,校正前的準備,及其過程中所使用之標準件和儀器設備,以及最後出具校正(測試)報告,故此校正程序可作為操作量測熱效電壓轉換器之依據。此外並對應用標準熱效電壓轉換器校正交流電壓源或交流電壓表之校正程序也在附錄中有介紹說明。

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微電流系統校正程序

本文係國家度量衡標準實驗室微電流量測系統(系統代碼E08)之校正程序。本資料描述這些待校儀器之校正原理、方法及實際操作程序。微電流量測系統的主要量測設備是微電流源,量測方法係採用反相放大器原理,量測範圍為10pA、100pA、lnA、10nA、100nA、1uA。本系統校正服務之能量及不確定度如下:
範圍 10 pA 100 pA 1 nA 10 nA 100 nA 1 μA
相對擴充不確定度 (mA/A) 0.9 0.47 0.17 0.07 0.07 0.07
涵蓋因子 2 2 2 2 2 2

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電容量測系統校正程序-100 kHz、1MHz電容標準

本文描述電容量測系統之1pF、10pF、100pF、1000pF四端對標準電容器於100kHz~1MHz頻率下電容標準值之校正程序。四端點對標準電容器於1kHz~1MHz頻率下電容標準值是由其頻率特性與1kHz電容標準值計算而得,本文詳細敘述了四端點對標準電容器頻率特性之校正程序以及1kHz~1MHz頻率電容標準之計算方法步驟。

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電容量測系統評估報告-100 kHz~1 MHz電容標準

本文係電容量測系統於100 kHz ~ 1 MHz頻率範圍之電容標準不確定度評估,適用的電容標準器是四端點對標準電容器,電容標稱值範圍為1 pF ~ 1000 pF。
100 kHz以上至1 MHz之電容標準追溯,是以網路分析儀量測,並由電容器之等效電路,計算出四端點對標準電容器於高頻時,相對於100 kHz之電容值頻率特性。再由已追溯之100 kHz電容標準值,計算出四端點對標準電容器之高頻電容標準值。
待校件的校正則是以比較法量測四端點對標準電容器與待校件之差值,再由標準電容器之標準值計算待校件之校正值。
本系統當待校件為電容器及LCR表時,相對擴充不確定度如下:

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麥克風音壓靈敏度校正程序-比較法

本校正程序為標準麥克風比較校正(系統代碼A02)中多頻比較校正法之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析及校正報告撰寫範例等程序。
本系統可提供校正一英吋、二分之一英吋及四分之一英吋麥克風,適用校正範圍為:
符合IEC 61094-1 LS1、IEC 61094-4 WS1之一英吋電容式麥克風,校正頻率為251 Hz和符合IEC 61094-1 LS2、IEC 61094-4 WS2之二分之一英吋電容式麥克風以及IEC 61094-4 WS3之四分之一英吋電容式麥克風,校正頻率範圍為20 Hz至20 kHz。

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電動機車電池計量機制研究

因國內電動機車採Ah (安培‧時)計量作為計價收費, Ah (安培‧時)計量機制及其量測標準實為一重要課題。因此本研究針對 Ah (安培‧時)的計量方式與量測標準進行研究評估以作為國家未來制訂電動機車充電相關計量驗證之參考準,此外也針對電動機車充電設備的相關標準追溯進行研究。

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電子式電度表型式認證技術規範修訂建議

本技術報告針對電子式電度表型式認證,研擬出一經產官學界討論後之型式認證技術規範草案,提供標準局於未來制定全國性電子式電度表型式認證技術規範之依據,以確保電子式電度表計量的一致和準確性。

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微波散射參數及阻抗量測系統驗收報告

國家度量衡標準實驗室U02系統汰換,以維持系統能量。

15

衝擊加速規校正程序-比較法

本量測系統屬於衝擊振動比較校正系統(系統代號:V03)。本校正程序採背對背比較式校正法,對加速規輸入高g值振幅進行電壓靈敏度校正。文中並針對鋼球手動與自動落下兩種校正方法以及校正步驟加以敘述,除此之外並包括校正注意事項,以及數據處理方法。本程序亦可作為衝擊振動量測之參考,及衝擊加速規校正人員之教材訓練。
本校正系統經評估後,可校正的範圍為200 m/s2至10 000 m/s2,衝擊時間為0.6 ms至3 ms。在95 %信賴水準之涵蓋因子約為1.97,200 m/s2至10 000 m/s2校正與量測能力之相對擴充不確定度為1.9 %。

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加速規校正系統評估報告-比較法

本量測系統屬於振動比較校正系統 (系統代碼 : V02)。本篇報告採用A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,進行加速規電荷、電壓靈敏度相對擴充不確定度評估。在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,計算有效自由度(Effective degrees of freedom),查表可得相對應之涵蓋因子(Coverage factor)。本系統提供50 Hz至7 kHz之頻率校正範圍,輸入振幅為100 m/s2。電荷靈敏度之相對擴充不確定度於100 Hz及160 Hz小於1.4 %;電壓靈敏度相對擴充不確定度3000 Hz以下小於1.4 %;3000 Hz(含)以上小於3.4 %。

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振動計校正程序-比較法

本系統隸屬振動比較校正系統(V02),提供振動計以比較式方法進行校正。乃將待校振動計之加速規與工作標準加速規,安裝在一激振器上。同時,由本系統工作標準加速規組之電壓靈敏度、電表的輸出及待校頻率,轉換成標準加速度、速度與位移輸入值,再與待校振動計之輸出作比較。
本程序說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等。本系統之擴充不確定度,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,
1. 加速度相對擴充不確定度為 1.3 %,校正頻率範圍為2000 Hz (含)以下。加速度相對擴充不確定度為 2.6 %,校正頻率範圍為2000 Hz至5000 Hz。
2. 速度相對擴充不確定度為 1.5 %;校正頻率範圍為50 Hz至2000 Hz。
3. 位移相對擴充不確定度為2.1 %;校正頻率範圍為50 Hz至200 Hz。

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聲音校正器校正程序-比較法

本校正程序為聲音校正器校正系統(系統代碼為A03)中比較校正法之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析及校正報告撰寫範例等程序。

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衝擊加速規校正系統評估報告-比較法

本量測系統隸屬於衝擊振動比較校正系統,系統代碼為V03。本篇報告採用A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的評估方法,進行加速規電壓靈敏度相對擴充不確定度評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保。本校正系統經評估後,可校正的範圍為200 m/s2至10 000 m/s2,衝擊時間為0.6 ms至3 ms,在95 %信賴水準之涵蓋因子為1.97,校正與量測能力為相對擴充不確定度1.9 %。

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聲音校正器校正系統評估報告-比較法

本系統評估報告乃針對聲音校正器校正系統(系統代碼 A03)中之比較校正法進行評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。

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加速規校正程序-比較法

本量測系統屬於振動比較校正系統(系統代碼:V02)。振動比較校正系統乃將待校加速規與工作標準加速規安裝於同一台激振器上後進行校正。經由比較兩個加速規之電壓輸出,再配合工作標準加速規之追溯靈敏度,換算成待校加速規的靈敏度。本系統已自動化,目前提供50 Hz至7 kHz之頻率校正範圍,輸入振幅為100 m/s2。在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,其電荷靈敏度於100 Hz及160 Hz,相對擴充不確定度小於1.4%;電壓靈敏度相對擴充不確定度於3000 Hz以下小於1.4 %;3000 Hz(含)以上小於3.4 %。

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加速規校正程序-條紋計數法

絕對式校正係指校正參數能直接追溯至基本物理量;如長度、時頻、…等。本系統隸屬雷射干涉振動校正系統(V01),利用He-Ne雷射波長,使加速規靈敏度直接追溯於物理基本量,故稱之為振動加速規絕對校正。而採用之方法為條紋計數法(Fringe-Counting Method),乃將激振器輸入之位移量換算成加速度值,再配合加速規本身之電壓輸出,可得其靈敏度。
本程序說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等。目前數據擷取及計算皆以自動化程式進行。本系統之校正與量測能力,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,電荷靈敏度之最大相對擴充不確定度為0.49 %;電壓靈敏度之最大相對擴充不確定度為0.44 %。校正系統能量則為50 Hz至700 Hz之頻率範圍。

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麥克風音壓靈敏度校正程序─互換法

本校正程序為標準麥克風互換校正系統(系統代碼為A01)之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析及校正報告撰寫範例等程序。
可供校正口徑為一英吋電容式麥克風之依據,適用校正範圍為符合IEC 61094-1 LS1P之一英吋電容式麥克風,校正頻率範圍為20 Hz至12.5 kHz。

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聲音校正器校正程序-內插電壓法

本校正程序為聲音校正器校正系統(系統代碼為A03)中內插電壓校正法之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析及校正報告撰寫範例等程序。

25

麥克風音壓靈敏度校正系統評估報告-互換法

本系統隸屬於標準麥克風音壓靈敏度互換校正系統(系統代碼A01),本評估報告乃針對麥克風音壓靈敏度校正系統-互換法進行系統評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。
本系統可提供校正一英吋(23.77 mm)麥克風,適用校正範圍為:
符合IEC 61094-1 LS1P之1英吋電容式麥克風,校正頻率範圍為20 Hz至12.5 kHz。

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加速規校正系統評估報告-條紋計數法

本量測系統隸屬於雷射干涉振動校正系統 (系統代號:V01)。使用雷射光干涉條紋計數法(Fringe-Counting Method)對加速規進行靈敏度原級校正。本篇報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估加速規電壓靈敏度及電荷靈敏度之量測不確定度。且計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定涵蓋因子(Coverage factor)。目前本系統之校正與量測能力,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,電荷靈敏度之最大相對擴充不確定度為0.49 %;電壓靈敏度之最大相對擴充不確定度為0.44 %。校正系統能量則為50 Hz至700 Hz之頻率範圍。

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低頻振動計校正程序-比較法

本系統隸屬低頻振動校正系統(V04),提供振動計以比較式方法進行校正。乃將待校低頻振動計之加速規與工作標準加速規,安裝在一激振器上。同時,由本系統工作標準加速規組之電壓靈敏度、電表的輸出及待校頻率,轉換成標準加速度、速度與位移輸入值,再與待校低頻振動計之輸出作比較。
本程序說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等。目前本系統之擴充不確定度,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2。

1. 加速度相對擴充不確定度為1.3 %;
2. 速度相對擴充不確定度為1.5 %;
3. 位移相對擴充不確定度為2.3 %。
校正頻率範圍為3.15 Hz至50 Hz。

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低頻加速規校正程序-比較法

本校正程序詳細的描述國家度量衡標準實驗室所建立的低頻加速規校正系統,以比較式的方法校正低頻加速規靈敏度的過程。使用工作標準加速規組當做校正標準件,比較待校加速規與工作標準件由數位擷取卡(NI PCI-4461)得到兩加速規的輸出電壓值,進行校正工作,系統代碼為V04。
本版文件中,所用的語彙、用辭、符號、與量測不確定度的評估過程,皆符合最新版ISO/IEC Guide 98-3:2008 與財團法人全國認證基金會(TAF)的規範,低頻加速規校正範圍:0.5 Hz到160 Hz。

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低頻加速規校正系統評估報告-比較法

本校正系統用於低頻加速規之校正(低頻振動校正系統,系統代號:V04)。評估報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估低頻加速規電壓靈敏度之量測不確定度。計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定擴充係數(Coverage factor)。目前本系統在95 %的信賴水準(Confidence level)之下,擴充係數約為2,相對擴充不確定度小於1.5 %。校正與量測能量為0.5 Hz至160 Hz之頻率範圍。

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低頻加速規校正程序-正弦逼近法

此份校正程序詳細的描述國家度量衡標準實驗室所建立的低頻振動校正系統,依據ISO16063-11:1999以正弦逼近法校正加速規電壓靈敏度的過程,記錄待校低頻加速規組輸出電壓值及雷射干涉光(具有90度相位差之干涉訊號)經由調製及計算得到振動位移,完成加速規之電壓靈敏度計算。本校正系統歸屬於低頻振動校正系統,系統代碼為V04。
本版文件中,所用的語彙、用辭、符號與量測不確定度的評估過程,皆符合最新版ISO/IEC Guide 98-3:2008與全國認證基金會(TAF)的規範。此系統之校正服務能量頻率量測為0.1 Hz到160 Hz,信賴水準為95 %,涵蓋因子為2。適用之量測服務項目為低頻加速規電壓靈敏度。

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低頻加速規校正系統評估報告-正弦逼近法

本文主要為系統驗證程序(MSVP)描述ISO 16063-11:1999規範中正弦逼近法,建立低頻加速規校正系統(系統代碼:V04),對於低頻加速規進行不確定度評估,其電壓靈敏度的結果單位表示為V/(m/s^2)。
系統以國際標準組織所訂的ISO/IEC Guide 98-3:2008進行評估,文字、符號及測量不確定度評估的過程參考ISO/ IEC 98-3:2008和TAF相關規範。頻率範圍0.1 Hz至160 Hz。系統的相對擴充不確定度為1.3%至1.7 %,與涵蓋因子約2,信賴水準95 %。

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加速規校正程序-正弦逼近法

絕對式校正係指校正參數能直接追溯至基本物理量;如長度、時頻、…等。本系統隸屬雷射干涉振動校正系統(V01),利用He-Ne雷射波長,使加速規靈敏度直接追溯於物理基本量,故稱之為振動加速規絕對校正。而採用之方法為正弦逼近法(Sine-Approximation Method),乃將激振器輸入之位移量換算成加速度值,再配合加速規本身之電壓輸出,可得其靈敏度。
本程序說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等。目前數據擷取及計算皆以自動化程式進行。本系統之校正與量測能力,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,電壓靈敏度之相對擴充不確定度於5000 Hz以下,小於0.76 %;於5000 Hz至10000 Hz,小於1.78 %;電荷靈敏度之相對擴充不確定度於5000 Hz以下,小於0.79 %;於5000 Hz至10000 Hz,小於1.79 %。校正系統能量則為50 Hz至10000 Hz之頻率範圍。

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加速規校正系統評估報告-正弦逼近法

本量測系統隸屬於雷射干涉振動校正系統(系統代號:V01)。使用雷射光干涉正弦逼近法(Sine Approximation Method)對加速規進行靈敏度原級校正。本篇報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估加速規電壓靈敏度及電荷靈敏度之量測不確定度。且計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定涵蓋因子(Coverage factor)。目前本系統之校正與量測能力,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,電壓靈敏度之相對擴充不確定度於5000 Hz以下,小於0.76 %;於5000 Hz至10000 Hz,小於1.78 %;電荷靈敏度之相對擴充不確定度於5000 Hz以下,小於0.79 %;於5000 Hz至10000 Hz,小於1.79 %。校正系統能量則為50 Hz至10000 Hz之頻率範圍。

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聲音校正器校正系統評估報告─內插電壓法

本系統評估報告乃針對聲音校正器校正系統(系統代碼為A03)中內插電壓法量測不確定度進行評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。

35

振動計校正系統評估報告-比較法

本量測系統隸屬於振動比較校正系統(系統代碼:V02)。本篇報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估振動計加速度、速度及位移之量測不確定度。且計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定涵蓋因子(Coverage factor)。目前本系統之擴充不確定度,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2:
1. 加速度相對擴充不確定度為 1.3 %;校正頻率範圍為2000 Hz (含)以下。加速度相對擴充不確定度為 2.6 %;校正頻率範圍為2000 Hz至5000 Hz。
2. 速度相對擴充不確定度為 1.5 %;校正頻率範圍為50 Hz至2000 Hz。
3. 位移相對擴充不確定度為2.1 %;校正頻率範圍為50 Hz至200 Hz。

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低頻振動計校正系統評估報告-比較法

本量測系統屬於低頻振動校正系統(系統代碼:V04)。本篇報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估振動計加速度、速度及位移之量測不確定度。且計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定涵蓋因子(Coverage factor)。目前本系統之擴充不確定度,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2:
1. 加速度相對擴充不確定度為1.3 %;
2. 速度相對擴充不確定度為1.5 %;
3. 位移相對擴充不確定度為2.3 %。
校正頻率範圍為3.15 Hz至50 Hz。

37

電荷放大器校正程序

本量測系統隸屬於雷射干涉振動校正系統,系統代碼為V01。電荷放大器靈敏度的校正方法乃利用標準電容器將輸入電壓轉換成電荷輸出,再將電荷訊號輸入待校之電荷放大器,由此電荷放大器的輸出與輸入間之關係,進行電荷放大器靈敏度校正。
本校正系統經評估後,可校正的範圍為10 Hz 至10 kHz。在95 %信賴水準之涵蓋因子約為2,相對擴充不確定度於10 Hz以下相對擴充不確定度小於1.2 %;10 Hz以上相對擴充不確定度小於0.10 %。

38

電荷放大器校正系統評估報告

本量測系統隸屬於雷射干涉振動校正系統,系統代碼為V01。本篇報告以A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的方法,評估電荷放大器靈敏度之量測不確定度。且計算有效自由度(Effective degrees of freedom),以決定涵蓋因子(Coverage factor)。目前本系統之校正與量測能力,在95 %的信賴水準(Level of confidence)之下,涵蓋因子約為2,於10 Hz以下相對擴充不確定度小於1.2 %;10 Hz以上相對擴充不確定度小於0.10 %。校正系統頻率範圍則為10 Hz至10 kHz。

39

噪音計音壓位準校正系統評估報告

本系統評估報告隸屬於聲音校正系統(系統代碼為A03),乃針對噪音計音壓位準進行量測不確定度的評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。
可提供噪音計音壓位準校正,其適用頻率範圍為31.5 Hz至16 kHz,在95 %信賴水準,涵蓋因子約為2之擴充不確定度範圍為0.2 dB至0.6 dB。

40

噪音計音壓位準校正程序

本校正程序隸屬於聲音校正系統(系統代碼為A03),為提供校正噪音計音壓位準器差值之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析及校正報告撰寫範例等程序。
可提供噪音計音壓位準校正,其適用頻率範圍為31.5 Hz至16 kHz,在95 %信賴水準,擴充係數約為2之擴充不確定度範圍為0.2 dB至0.6 dB。

41

衝擊加速規校正系統評估報告-相位運算法

本量測系統隸屬於衝擊振動原級校正系統V06。本篇報告採用A類(Type A)與B類(Type B)不確定度的評估方法,進行加速規電壓靈敏度相對擴充不確定度評估,內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保。
可校正的範圍為:200 m/s2 至 10 000 m/s2,衝擊時間介於0.3 ms 至 3 ms,在95 %信賴水準下之涵蓋因子約為1.96,校正與量測能力為相對擴充不確定度0.8 %。

42

衝擊加速規校正程序—相位運算法

本量測系統屬於衝擊振動原級校正系統。本校正程序主要運用雙通道雷射干涉訊號相位運算法,進行加速規於不同衝擊值下電壓靈敏度校正。文中針對校正方法以及校正步驟加以敘述,除此之外並包括校正注意事項,以及數據處理方法。本程序可作為衝擊振動量測之參考,及衝擊加速規校正人員之教材訓練。
本校正系統經評估後,可校正的範圍為200 m/s2至10 000 m/s2,衝擊時間介於0.3 ms 至 3 ms,在95 %信賴水準之涵蓋因子約為1.96,校正與量測能力為相對擴充不確定度0.8 %。

43

麥克風自由場靈敏度校正程序-互換法

本校正程序為麥克風自由場靈敏度互換校正系統(系統代碼A04)之操作依據。文中說明校正過程中的準備事項、校正步驟、完成校正後應有的步驟、資料分析等程序。

44

麥克風自由場靈敏度校正系統評估報告-互換法

本系統隸屬於麥克風自由場靈敏度校正系統(系統代碼A04),本評估報告乃針對麥克風自由場靈敏度校正系統-互換法進行系統評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。

45

麥克風音壓靈敏度校正系統評估報告-比較法

本系統隸屬於標準麥克風音壓靈敏度比較校正系統(系統代碼A02),本評估報告乃針對麥克風音壓靈敏度校正系統-比較法進行評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度估算及量測品保,作為操作者與系統負責人之參考依據。

46

貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶定點量測系統評估報告

本資料為國家度量衡標準實驗室,貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶點量測系統(隸屬於熱電偶溫度計量測系統-系統編號T03)之評估報告。評估之溫度點係採用現今通用的國際溫標(ITS-90)之補充指引作為依據,在鈷碳合金(Co-C;~1324 °C)與鈀碳合金(Pd-C;~1492 °C)的共晶固定點校正熱電偶溫度計。溫度量測範圍在1100 °C至1500 °C。

47

輻射溫度計共晶定點校正系統評估報告

本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計校正系統(系統代碼為T01),針對輻射共晶定點校正系統進行定點校正系統評估。本報告包括系統描述、量測原理、量測方法等介紹。並依據ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 之統計分析理論,設計評估、品保方法、分析系統誤差來源,最後對量測系統予以估算,以計算出量測系統之擴充不確定度。經評估後,訂定本量測系統對外服務的能量如下:溫度範圍1085 ℃至 3000 ℃間,波長為650 nm時,其擴充不確定度為0.14 ℃至3.6 ℃

48

白金電阻溫度計熱力學溫度量測系統評估報告

本技術文件為國家度量衡標準實驗室白金電阻溫度計熱力學溫度量測系統(系統代碼T05)之評估報告。此量測系統係利用量測聲學氣體聲速方式以決定熱力學溫度之原級聲學氣體溫度量測系統(primary acoustic gas thermometry system),又簡稱PAT-Q系統。其組成主要包括了氣壓控制系統、溫度系統、微波系統、聲學系統四個次系統。
本文簡介量測系統及原理,並依據ISO GUM之統計分析理論,建立量測模式、分析不確定度來源及估算、評估共變數(Covariance)、估算組合標準不確定度(包括標準不確定度、機率分布與自由度)、及決定擴充不確定度(包括有效自由度、信賴水準與涵蓋因子),以評估出量測系統之不確定度。經評估後,訂定本系統目前的校正服務能量如下所示。

(1) 量測範圍:213.15 K至373.15 K
(2) 擴充不確定度於約95 % 信賴水準為0.40 mK(涵蓋因子k=2.00)

49

絕對輻射系統照度計評估報告

本報告主要敘述絕對輻射量測系統(系統代碼:O06)中照度計與光源光強度校正之評估,待校項目為照度計、照度色度計、及光強度標準燈。依據校正原理及所建立之校正程序,進行數據的擷取與不確定度分析,並依照分析結果訂定目前可提供之系統校正能量:
l 照度:
量測範圍 (lx) 相對擴充不確定度 (%) 涵蓋因子
25 至 90000 1.4 2.00
l 光強度:
量測範圍 (cd) 相對擴充不確定度 (%) 涵蓋因子
25 至 90000 1.2 2
l 色度:
   色度項目 x y u v
擴充不確定度 0.0012 0.0007 0.0008 0.0003
涵蓋因子 1.97 1.97 1.97 1.97
l 色溫:
相對擴充不確定度 涵蓋因子
29 K 1.97

本報告中所述之量測不確定度係依據 ”ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)”指引之方法進行不確定度評估。

50

低溫絕對輻射系統光偵測器分光響應校正評估報告

本文件為低溫絕對輻射系統(O07)光偵測器分光響應校正之評估報告,內文描述光偵測器分光響應標準之實現方式與校正系統概況(第二章)、不確定度來源與其估算方法(第三章)、量測品保設計(第四章)、以及不確定度評估結果(第五章)。目前系統可提供之分光響應校正範圍與其量測不確定度摘要如下,詳見附錄8.6。

光偵測器種類: 波長範圍/相對擴充不確定度 (依波長而定)/涵蓋因子(k) (依波長而定)
矽(Si)光偵測器: 330 nm ~ 1100 nm/0.14 % ~ 3.4 %/1.96 ~ 2.45
捕捉型矽光偵測器(Si-based trap detector): 330 nm ~ 1100 nm/0.15 % ~ 2.3 %/1.96 ~ 2.57
鍺(Ge)光偵測器: 800 nm ~ 1650 nm/0.44 % ~0.72 %/1.97 ~ 2.09
信賴水準: 95 %

51

發光二極體分光輻射光譜量測系統評估報告

本技術文件係發光二極體(LEDs)分光輻射光譜量測之評估報告,包含了系統描述,量測原理,量測方法等介紹。並設計量測品保方法,分析誤差來源,對量測系統作一系列之評估計算,導出系統之不確定度值。
本系統發光二極體色度量測係針對可見光發光二極體,分光波長範圍從380nm至780nm。

52

分光輻射通量標準燈評估報告

本報告主要敘述分光輻射通量標準校正系統(O10),待校項目為分光輻射通量標準燈。依據校正原理及所建立之校正程序,進行數據的擷取與不確定度分析,並依照分析結果訂定目前系統可提供之系統校正能量。

53

全光通量系統光通量標準燈量測系統評估報告─3 m 積分球

本技術文件係O02全光通量量測系統光通量標準燈評估報告,包含了積分球光度計量測系統描述,量測原理,量測方法之介紹。並設計量測品保方法,分析誤差來源、量測系統不確定度評估。
   本系統全光通量值量測範圍在1 lm至20000 lm,在95 %信賴水準,涵蓋因子為1.98,其相對擴充不確定度為1.0 %。

54

全光通量系統光通量標準燈校正程序─3 m 積分球

本技術文件敘述如何利用全光通量量測系統(系統代碼O02)之3 m積分球方法,執行鹵素燈及鎢絲燈的全光通量校正,校正範圍為1 lm至 20000 lm。利用替換法及自吸收修正法經由全光通量標準燈與待校標準燈互相比對,而得出待校件的全光通量值。

55

低溫絕對輻射系統光度標準評估報告

本文件為偵測器式(detector-based)光度標準評估報告,隸屬低溫絕對輻射系統(O07)。內文描述光強度標準之實現方式與校正系統概況(第二章)、不確定度來源與其估算方法(第三章)、量測品保設計(第四章)、以及不確定度評估結果(第五章)。目前系統可提供之光強度校正範圍與其量測不確定度如下所示。

56

低溫絕對輻射系統光度標準校正程序

本技術文件描述偵測器式(detector-based)光度標準之實現步驟,以及光強度燈之校正程序。光強度標準追溯至低溫絕對輻射計,隸屬於低溫絕對輻射量測系統(O07)。

57

極紫外(EUV)分光響應校正之不確定度評估

本文件描述極紫外(EUV)光偵測器分光響應校正之不確定度評估,內文描述EUV光偵測器分光響應之校正方式與系統概況(第二章)、不確定度來源與其估算方法(第三章)、以及不確定度評估結果(第四章)。目前系統可提供之分光響應校正範圍與其量測不確定度如下所示。光偵測器種類: 矽光偵測器; 波長: 13.5 nm; 相對擴充不確定度: 4.6 %; 涵蓋因子(k): 2.00; 信賴水準: 95 %。

58

洛氏硬度標準塊校正程序

本校正程序為國家度量衡標準實驗室,力學與醫學計量研究室針對洛氏硬度之標準塊校正,校正能量範圍是適用於各種洛氏硬度標尺。
主要參考資料為國際標準組織規範ISO 6508-3:2015。

59

洛氏硬度標準系統評估報告

量測系統隸屬於洛氏及表面洛氏硬度標準機系統,系統編號No.6,量測服務範圍、擴充不確定度、擴充係數、信賴水準、如下表示:
HRA ≧ 70,擴充不確定度0.30
HRB ≧ 50,擴充不確定度0.40
18 ≦ HRC ≦ 70,擴充不確定度0.30
涵蓋因子:2
信賴水準:95%

60

公斤質量量測系統評估報告—METTLER M_one真空質量比較儀

本報告針對Mettler-Toledo M_ONE質量比較儀之原器天平系統評估做說明,提供本實驗室同仁實行鉑銥公斤原器與不鏽鋼原級標準法碼間質量導引實驗時,不確定度估算之依據。
經評估分析後,本系統校正服務能量為:
校正範圍:1 kg
當信賴水準約為95 %時,涵蓋因子取 ,得擴充不確定度為:29 μg。

本系統隸屬於公斤質量(M02)量測系統。

61

顯微維克氏硬度標準機校正程序

本校正程序為顯微維克氏硬度標準機校正顯微維克氏硬度標準塊的操作依據,說明校正前的準備事項、校正步驟、校正後之儀具及校正數據的處理方式,此外也說明若干此標準機常用的調整程序。本程序適用的量測範圍為100HV~900HV。

62

顯微維克氏硬度標準機系統評估報告

由評估結果可歸納出本系統的量測範圍及其相對擴充不確定度(涵蓋因子為2,相對應約95 % 之信賴水準):
使用儀器 : Akashi HM-124顯微維克氏硬度標準機
校正服務項目: 顯微維克氏硬度標準塊
量測範圍 : 100 HV ~ 900 HV
使用荷重與相對擴充不確定度:
489.46 mN 7.1 %
978.91 mN 5.8 %
1957.83 mN 5.4 %
2936.74 mN 5.2 %
4894.57 mN 5.1 %
9789.14 mN 5.0 %

63

500 N靜法碼力標準機系統評估報告

本系統隸屬於500N力量標準機,主要目的是為了維持國內力量參考標準,並提供國內二級力量標準器的追溯管道。本系統採用ISO/IEC Guide 98-3:2008,中所建議的方式進行評估,並配合量測品保的規劃,確保系統的穩定與可信度。
由評估結果可歸納出本系統的量測範圍及其不確定度如下:
系統 量測範圍
(N) 相對擴充不確定度(95%的信賴水準) 涵蓋因子
NML 500 N S/N:54041501 1~500 2×10-5 2

64

小質量量測系統評估報告-Sartorius CCR 10-1000全自動質量比較儀

本報告為提供本實驗室校正100 g, 200 g, 500 g及1 kg法碼之不確定度評估說明,以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。
本實驗室實際量測時,係對法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。量測時,藉由個人電腦設定法碼倉各位置所放置的法碼編號及分別讀出各位置法碼之值;重複多次後求出其差值,算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation),再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。
經測試分析後,設定本系統校正服務能量為:100 g, 200 g, 500 g及1 kg。
當信賴水準為95 % 時涵蓋因子及擴充不確定度如下:
校正能量 涵蓋因子 擴充不確定度(mg)
1 kg         1.96 0.050
500 g 1.97 0.023
200 g 1.97 0.011
100 g 1.97 0.010

本系統隸屬於小質量(M01)量測系統。

65

小質量量測系統評估報告-METTLER a10XL 全自動質量比較儀

本報告為提供本實驗室校正1 mg, 2 mg, 5 mg, 10 mg, 20 mg, 50 mg, 100 mg, 200 mg, 500 mg, 1 g, 2 g, 5 g及10 g法碼之不確定度評估說明,以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。
本實驗室實際量測時,係對法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。量測時,藉由個人電腦設定法碼倉各位置所放置的法碼編號及分別讀出各位置法碼之值;重複多次後求出其差值,算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation),再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。
經測試分析後,設定本系統校正服務能量為:1 mg, 2 mg, 5 mg, 10 mg, 20 mg, 50 mg, 100 mg, 200 mg, 500 mg, 1 g, 2 g, 5 g及10 g。

66

小質量量測系統評估報告-METTLER a107XL全自動質量比較儀

本報告為提供本實驗室校正10 g、20 g、50 g及100 g法碼之不確定度評估說明,以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。
本實驗室實際量測時,係對法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。量測時,藉由個人電腦設定法碼倉各位置所放置的法碼編號及分別讀出各位置法碼之值;重複多次後求出其差值,算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation),再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。
經測試分析後,設定本系統校正服務能量為:10 g、20 g、50 g及100 g。

67

小力量校正系統力量傳感器校正程序

本校正程序內容為10 N小力量校正系統包含校正過程中的準備事項、校正程序、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等。系統可校正範圍由1 mN至10 N的力量傳感器。
本程序做為力量校正人員在執行力量量測儀器校正時之遵循依據,以減少人為之校正差異,此外本資料也可做為新進人員訓練之教材。

68

小力量校正系統評估報告

本文件提供小力量校正系統評估力量傳感器校正範圍為10 mN至10 N(1 gf ~ 1000 gf)之量測不確定度估算。本系統採用ISO/IEC Guide 98-3:2008中所建議的方式進行評估,並配合量測品保的規劃,藉由查核件及管制圖之手法確保系統的穩定與可信度。本系統係隸屬於力量比較校正系統(四)(系統代碼:N11)。

69

500 kN 萬能校正機系統影像辨識操作手冊

目前力量校正系統待校件數據擷取依然仰賴人力抄寫,人力抄寫除費時費力等不便因素外,且出錯率較高,對於校正業務及服務品質有一定程度之影響。透過機器視覺模組以及辨識軟體相關技術應用,直接讀取待校件之顯示器影像。
本操作手冊提供本實驗室同仁執行校正時使用影像辨識系統時之參考。

70

力量比較校正設備驗收報告

國家度量衡標準實驗室N03系統設備汰換,以確保校正服務品質

71

氣體動態膨脹真空校正系統評估報告

本技術資料為國家度量衡標準實驗室氣體動態膨脹真空校正系統(系統代碼:LO2)之評估報告,係依據國際標準組織ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)所述之方法計算出系統能量及不確定度源,針對真空計校正時所產生之各項誤差來源,予以仔細的評估,並分析其對本校正系統所造成量測不確定度的影響,藉以訂定本校正系統之校正能量與量測不確定度。

72

洛氏硬度標準塊校正程序

本校正程序描述了國家度量衡標準實驗室的洛氏硬度標準機用於校正各種洛氏與表面洛氏硬度塊的校正步驟。本文說明了應在校正前準備的事項、校正步驟以及校正後如何處理儀器和原始數據,主要參考資料為國際標準組織規範ISO 6508-3:2015。

73

真圓度標準件校正程序

本文件係國家度量衡標準實驗室真圓度量測之校正程序,採用 FEDERAL FORMSCAN 3000 旋轉盤式真圓度量測儀,以機械電子式探頭擷取繞一固定軸旋轉送校件之輪廓,依最小平方圓法及分離轉軸誤差之量測分析方法,計算送校件的真圓度值。
本校正系統係隸屬於真圓度量測系統(系統代碼:Dl2),其服務範圍:(0~2)μm(真圓度),於95%之信賴水準下涵蓋因子k=2.01。擴充不確定度(U)為0.020 μm。

74

真圓度量測系統評估報告

本文件係國家度量衡標準實驗室真圓度量測系統評估報告,本系統為 FEDERAL FORMSCAN 3000 旋轉盤轉動式真圓度量測儀,以槓桿式電子測頭擷取繞一固定軸旋轉之送校件輪廓偏移量並以最小平方圓法及分離旋轉軸誤差的分析方法,計算出送校件的真圓度及旋轉軸誤差(失圓度)。
本系統之量測品保模式係採用本系統之旋轉軸誤差(失圓度)作為查核參數,以監控系統之穩定性,依長期累積之查核參數數據加以評估的結果,訂定本系統之校正能量及量測不確定度分別如下:
本校正系統係隸屬於真圓度量測系統(系統代碼:D12),應用於真圓度標準件校正服務,其服務範圍:(0~2) μm (真圓度)。於95 %之信賴水準下涵蓋因子k=2.01,本系統之擴充不確定度(U)為 0.020 μm。

75

角度塊規校正程序

本技術資料為國家度量衡標準實驗室(NML)對角度塊規實施校正之依據,主要說明角度塊規校正所需之儀具及校正步驟,適用範圍為1" ~ 45°之角度塊規,其校正方法係以標準角度塊規作標準參考,與待校角度塊規作比較校正,計算出待校角度塊規之器差值。本校正系統係隸屬於角度塊規校正系統(系統代碼:D06)。

76

量錶測定器校正程序─雷射干涉法

本文件為對各種量錶校正器實施校正時之操作依據,校正方法為使用雷射干涉儀,對量錶校正器之測砧位移進行校正。

77

量錶測定器校正系統評估報告-雷射干涉法

本文件係量錶校正器校正系統評估報告-雷射干涉法,該系統係以雷射干涉儀為標準器,以其雷射干涉儀量測待校量錶校正器測砧位移行程為標準值,計算待校量錶校正器之器示值器差,故可提供量錶校正器之校正服務。本系統隸屬於雷射干涉儀校正系統(D18)。

78

環形編碼器校正系統評估報告

本技術文件為國家度量衡標準實驗室(NML)對環形編碼器校正系統的不確定度評估之參考依據,該校正系統係以比較方式進行校正,由自我校正型角度量測設備作為標準件,其包含作為標準追溯之標準環形編碼器及12顆光學讀頭,由自我校正角度方法實現封閉圓原理,可計算標準環形編碼器中每個角度值作為標準值,並由待校環形編碼器角度值與標準環形編碼器角度值進行比較,得到待校環形編碼器之角度器差量,並依據國際標準組織(ISO)的〝量測不確定度表示法之指引〞(ISO/IEC Guide 98-3:2008)所述的估算步驟作評估,分析本系統各項誤差源及其對不確定度之影響,評估不確定度時,係採95 % 的信賴水準,最後擬訂本系統之校正服務能量。本校正系統係隸屬於角度塊規校正系統(系統代碼:D06)。

79

環形編碼器校正程序

本技術文件為國家度量衡標準實驗室對環形編碼器(Angular Encdoer)實施校正之依據,主要說明環形編碼器校正所需之儀具及校正步驟,適用範圍為0° ~ 360°之環形編碼器,其校正方法係以比較方式,由自我校正型角度量測設備作為標準件,其包含作為標準追溯之標準環形編碼器及12顆光學讀頭,由自我校正角度方法實現封閉圓原理,計算標準件內環形編碼器中每個角度值作為標準值,得到待校環形編碼器角度值與標準環形編碼器角度值間之角度器差量。本校正系統係隸屬於角度塊規校正系統(系統代碼:D06)。

80

GPS靜態及動態定位校正系統評估報告

本文件係量測技術發展中心在執行國家度量衡標準實驗室計畫之GPS靜態及動態定位校正系統(系統代碼:D2O)本文件係國家度量衡標準實驗室(NML)執行衛星定位儀校正的量測不確定度評估報告,主要說明以GPS定位校正場進行衛星定位儀(Global Positioning System Receivers)校正作業時,應考慮之各項不確定度來源,並分析校正系統之不確定度。
校正系統之估算不確定度係參考國際標準組織(ISO)出版的ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)(量測不確定度表示方式指引)評估。

81

奈米粒徑量測系統評估報告-電重力氣膠平衡法

本文件係量測技術發展中心在執行標準檢驗局委託的奈米技術計量標準計畫中,使用電重力氣膠平衡法(Electro-gravitational Aerosol Balance, EAB)校正奈米粒徑尺寸之系統評估報告。本校正系統為量測技術發展中心自行設計組裝之粒徑量測儀器。本校正系統提供原級尺寸為100 nm至500 nm之粒徑追溯校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒徑量測系統,系統代碼為D26。
本校正系統之評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008分析各誤差源及標準不確定度,並計算擴充不確定度,最後,訂出本校正系統的校正能量為:
‧ 校正項目:標準粒子(聚苯乙烯,PSL)
‧ 量測範圍:100 nm至500 nm
‧ 擴充不確定度:3.0 nm
‧ 信賴水準:95 %
‧ 擴充係數:2.23

82

奈米粒徑校正程序-電重力氣膠平衡法

本文件係使用電重力氣膠平衡法(Electro-Gravitational Aerosol Balance, EAB)校正奈米粒徑尺寸之系統操作說明。本校正系統為量測技術發展中心自行設計組裝之粒徑量測儀器。本校正系統提供原級尺寸為100 nm至500 nm之粉體粒徑追溯校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒徑量測系統,系統代碼為D26。本校正系統之評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008分析各誤差源及標準不確定度,並計算擴充不確定度,最後,訂出本校正系統的校正能量為: ‧ 校正項目:標準粉體(聚苯乙烯球PSL) ‧ 量測範圍:100 nm至500 nm ‧ 擴充不確定度:3.0 nm ‧ 信賴水準:95 % ‧ 擴充係數:2.23

83

奈米粒徑校正系統評估報告–微分電移動度分析法

本文件係使用微分電移動度分析法(Differential mobility analysis,DMA)校正奈米粒徑尺寸之系統評估報告,本校正系統屬於奈米粒徑量測系統(D26)。本校正系統的量測設計係以TSI商用儀器建立的奈米粒徑量測系統,提供20 nm至500 nm之奈米粒子粒徑追溯校正服務。
本校正系統之評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008分析各誤差源及標準不確定度,並計算擴充不確定度。最後,訂出本校正系統的校正能量為:
‧ 校正項目:標準粒子(聚苯乙烯,PSL)
‧ 量測範圍:20 nm至500 nm
‧ 信賴水準:95 %
‧ 擴充不確定度:
量測範圍 擴充不確定度 涵蓋因子
20 nm ≦ D ≦ 250 nm 0.068D + 0.343 nm 2.16
250 nm < D < 350 nm 0.064D 1.97
350 nm ≦ D ≦ 500 nm 0.065D + 0.985 nm 1.96
其中,D為粒徑值(nm)。

84

奈米粒徑校正程序 – 微分電移動度分析法

本文件係使用微分電移動度分析法(Differential Mobility Analysis,DMA)校正奈米粒徑尺寸之系統操作說明,本校正系統隸屬於奈米粒徑量測系統(D26)。本校正系統的量測設計係以TSI商用儀器建立的奈米粒徑量測系統,提供20 nm至500 nm之奈米粒子粒徑追溯校正服務。
本校正系統之評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008分析各誤差源及標準不確定度,並計算擴充不確定度。最後,訂出本校正系統的校正能量為:
‧ 校正項目:標準粒子(聚苯乙烯,PSL)
‧ 量測範圍:20 nm至500 nm
‧ 信賴水準:95 %
‧ 擴充不確定度:
量測範圍 擴充不確定度 涵蓋因子
20 nm ≦ D ≦ 250 nm 0.068D + 0.343 nm 2.16
250 nm < D < 350 nm 0.064D 1.97
350 nm ≦ D ≦ 500 nm 0.065D + 0.985 nm 1.96
其中,D為粒徑值(nm)。

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奈米粒子功能性量測系統校正程序 -標準粒子計數器偵測效率校正

本文件係標準粒子計數器偵測效率量測系統操作標準程序。本校正系統為量測技術發展中心自行設計,並搭配TSI公司生產的法拉第杯氣膠電流計組裝而成之奈米級氣膠濃度量測設備。本校正系統提供標準粒子計數器量測範圍介於50 nm ~ 200 nm,濃度範圍10^3 cm^-3~10^4 cm^-3校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒子功能性量測系統,系統代碼為D27。

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奈米粒子功能性量測系統評估報告 -標準粒子計數器偵測效率校正

本文件係量測技術發展中心在執行標準檢驗局委託的奈米技術計量標準計畫中,使用法拉第杯氣膠電流計(Faraday-Cup Aerosol Electrometer, FCAE)校正標準粒子計數器偵測效率(Detection Efficiency)之系統評估報告。本校正系統為量測技術發展中心自行設計,並搭配TSI公司生產的法拉第杯氣膠電流計組裝而成之標準粒子計數器偵測效率量測設備。本校正系統提供標準粒子計數器,於粒徑介於50 nm ~ 200 nm,濃度介於10^3 cm^-3~10^4 cm^-3之偵測效率校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒子功能性量測系統,系統代碼為D27。

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奈米粒子功能性量測系統校正程序 -低濃度標準粒子計數器偵測效率校正

本文件係國家度量衡標準實驗室對低濃度標準粒子計數器偵測效率校正時使用之校正程序。本校正系統為國家度量衡標準實驗室自行設計,並搭配TSI公司生產的法拉第杯氣膠電流計(Faraday-Cup Aerosol Electrometer, FCAE)、微分電移動度篩分器(Differential Electrical Mobility Classifier, DEMC)與凝結粒子計數器(Condensation Particle Counter, CPC)組裝而成之標準粒子計數器偵測效率量測設備。本校正系統提供標準粒子計數器於粒徑100 nm,濃度介於1 cm^-3~10^3 cm^-3之偵測效率校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒子功能性量測系統,系統代碼為D27。

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奈米粒子功能性量測系統評估報告-低濃度標準粒子計數器偵測效率校正

本文件係國家度量衡標準實驗室對低濃度標準粒子計數器偵測效率校正時使用之系統評估報告。本校正系統為國家度量衡標準實驗室自行設計,並搭配TSI公司生產的法拉第杯氣膠電流計(Faraday-Cup Aerosol Electrometer, FCAE)、微分電移動度篩分器(Differential Electrical Mobility Classifier, DEMC)與凝結粒子計數器(Condensation Particle Counter, CPC)組裝而成之標準粒子計數器偵測效率量測設備。本校正系統提供標準粒子計數器於粒徑100 nm,濃度介於1 cm-3~103 cm-3之校正服務。本校正系統隸屬於奈米粒子功能性量測系統,系統代碼為D27。
本校正系統之評估方法參考國際標準組織(ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008分析各誤差源及相對標準不確定度,並計算相對擴充不確定度,最後,訂出本校正系統的校正能量為:
‧校正項目:標準粒子計數器(Standard particle counter)
‧量測範圍:粒子粒徑100 nm,濃度1 cm^-3~103 cm^-3
‧相對擴充不確定度:
粒子粒徑 目標濃度(cm^-3) 偵測效率相對擴充不確定度(%)
100 nm 1                         3.1
100 nm 10                         1.6
100 nm 100                         1.2
100 nm   1000                         0.8
‧信賴水準:95 %
‧涵蓋因子:2.0

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利用自製微粒充電器提升DMA-CPC於超微細氣膠量測之效能

空氣中存在許多懸浮微粒,如PM2.5、PM1.0等,當這些微粒粒徑越小或數量越多時,就越容易進入人體,造成肺組織病變、發炎反應或免疫系統受損,甚至導致癌症的發生,因此,粒子粒徑與濃度是環境汙染的一項重要指標。
微分電移動度分析儀-凝結粒子計數器(Differential Mobility Analyzer - Condensation Particle Counter, DMA-CPC)目前被廣泛應用在奈米粒子粒徑篩分與濃度的量測,DMA的原理是利用不同尺寸的帶電粒子於電場下電移動速度的差異,來進行顆粒的篩分,篩分後特定尺寸的粒子進入CPC進行計數;然而於小粒徑粒子(100 nm以下)量測時,由於微粒的充電效率下降,使得DMA能夠篩分的帶電粒子變少,導致小尺寸粒子之量測結果不佳,為了提升DMA-CPC在小尺寸粒子量測的性能,本研究開發了自製的微粒充電器,並使用不同粒徑標準品(10 nm 及20 nm金奈米粒子)來評估自製微粒充電器之效能,並與傳統軟X光充電器進行比較。

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單一粒子感應耦合電漿質譜儀驗收報告

國家度量衡標準實驗室D27系統汰換,以確保系統能量

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低壓氣體流量校正系統(F06)氣量計校正程序-比較法/MOLBLOC

本校正程序係提供國家度量衡標準實驗室MOLBLOC/MOLBOX1氣體流量校正系統 (系統代碼:F06) 校正氣量計之依據。校正時調整MOLBLOC上游的壓力值,等候壓力、溫度穩定後,開始擷取MOLBLOC流量,被校氣量計流量讀值、壓力及溫度。直到設定之時間為止。MOLBLOC的流量為其校正期間之平均值,被校氣量計則透過狀態轉換至標準件之狀態,利用此兩項即可算出器差。
氣量計校正結果之不確定度是依據 ISO/IEC Guide 98-3: 2008建議的A類及B類評估方式,分別計算各個物理量之標準不確定度 (或相對標準不確定度),並依據計算公式計算組合標準不確定度 (或相對組合標準不確定度),並以95 % 的信賴水準和有效自由度獲得學生t分布值求得涵蓋因子,擴充不確定度 (或相對擴充不確定度) 即為涵蓋因子與組合標準不確定度 (或相對組合標準不確定度) 的乘積。本系統之校正範圍如下。
環境溫度:22 °C至24 °C。
MOLBLOC/MOLBOX1上游壓力:350 kPa。
MOLBLOC/MOLBOX1體積流率:2 cm3/min至24 L/min。
氣體:空氣或氮氣。
體積流率之相對組合標準不確定度:0.067 %,相對擴充不確定度:0.14 %,
涵蓋因子為1.97。
性能指標之相對組合標準不確定度:0.068 %,相對擴充不確定度:0.14 %,
涵蓋因子為1.97。
質量流率之相對組合標準不確定度:0.061 %,相對擴充不確定度:0.13 %,
涵蓋因子為1.98。
性能指標之相對組合標準不確定度:0.064 %,相對擴充不確定度:0.13 %,
涵蓋因子為1.97。

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CNPA 137 膜式氣量計型式認證技術規範修正草案

本規範適用於膜式氣量計;即利用具有可變形的室壁之量測室來量測氣體流量之氣體體積流量計;包括內建的修正裝置與內部溫度補償裝置,以及其它附加於氣量計,且影響計量性能之 (電子)裝置。

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FY109品質典範-家用膜式氣量計長期準確性研究

天然氣又稱天然瓦斯,不僅是重要的民生與工業物資,更在國家須同時滿足用電需求與推動節能減碳的矛盾中扮演關鍵策略性的角色。一般家庭用瓦斯須透過「瓦斯表」,作為瓦斯公司計量及計價的依據,由於「瓦斯表」內部構造主要以薄膜為主,故又稱為「膜式氣量計」。為有效確保及提升膜式氣量計的品質,標準局自2004年開始對膜式氣量計實施型式認證制度,此制度實施迄今已逾10年,目前全國膜式氣量計之總用戶數逾350萬戶。經過多年管理,標準局日前於「104年度政風機構會同業務單位辦理自行檢定業者查核研提興革措施實施計畫」中,透過與業務單位至膜式氣量計自行檢定廠進行查核過程,檢視各項查核流程有無確切落實,以及是否符合標準局103年度新增或修訂之相關法規,經查核發現市場上流通或使用中之膜式氣量計,有少部分未經型式認可之情況,且目前對維修檢定合格後之膜式氣量計並未規範退場機制與最長使用年限等,標準局考量於規範中,訂定最長使用年限可能會影響到製表商對產品持續改良的意願,影響層面相當廣泛,需審慎評估,因此委託量測技術發展中心進行家用膜式氣量計長期準確性研究計畫。
本計畫透過六標準差DMADV進行計畫管理,並運用品質手法(如:品質機能展開(QFD)、5M1E分析法、失效模式與效應分析(FMEA)等),及依據CNMV31[3]、ISO/IEC 17043[5]、ISO 9001[6]、ISO/IEC 17025[7]等標準/規範,以工研院會議管理系統、TeamSpace系統進行計畫執行管控與團隊合作,使本計畫能按預期進度與目標完成研究內容,以期透過研究成果協助主管機關確保家用瓦斯表之計量公平、公正與安全。

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循環式高壓氣體流量校正系統自動化軟體操作手冊

本自動化軟體操作程序係提供流量與綠色能源計量研究室之循環式高壓氣體流量系統校正時之依據。

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氣油比檢測儀檢驗方法之研究與評估

本計畫為110年度法定計量技術分項子計畫「氣油比檢測儀」,協助提供標準檢驗局納檢氣油比檢測儀技術支持,工作項目包含氣油比檢測儀檢定檢查技術規範研擬及檢定檢查設備建置等。本文件技術內容包括,氣油比檢測儀檢定檢查設備操作程序書以及氣油比檢測儀檢定檢查設備評估報告。

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法定度量衡器控制軟體要求與評估方法研究-控制軟體要求與評估方法研究報告

本件內容為計量器具的控制軟體要求與評估方法

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循環式高壓氣體流量系統校正程序

本校正程序係提供國家度量衡標準實驗室之循環式高壓氣體流量系統(系統代碼為F05)校正氣體流量計之依據。校正時先充氣調整壓力值後,運轉鼓風機並設定轉速達到要求的校正流率,運轉冰水系統以達到設定的流體溫度。等候壓力、溫度穩定時,開始記錄被校流量計與標準器經過之體積量,溫度,壓力及對應校正時間,依據這些參數計算被校流量計之相對器差值。
     系統量測不確定度的評估是依據ISO/IEC Guide 98-3:2008(GUM)所建議的A類或B類方式,評估求得各變數量測的標準不確定度,然後將各量測變數的標準不確定度乘以其各自的靈敏係數值,再以和方根(RSS)方式將其合併,所得即為校正系統的組合標準不確定度。校正系統藉由Welch-Satterthwaite公式計算的有效自由度和95 %信賴水準所查得的涵蓋因子,與其組合標準不確定度相乘可得擴充不確定度。
本系統適用於差壓式、科氏力、層流式、渦輪式、轉子式、熱質式、超音波式、渦流式等各式氣體流量計之校正,量測範圍如下:
工作流體:乾燥空氣;
實際體積流率範圍:( 25 to 2000 ) m3/h;
基準體積流率範圍:( 125 to 110000 ) m3/h @ ( 101.325 kPa , 23 ℃ );
質量流率範圍:( 150 to 132000 ) kg/h;
累計體積總量範圍:( 6.25 to 166.67) m3 @ ( 25 to 2000 ) m3/h;
壓力:( 500 to 5500 ) kPa (絕對壓力);
溫度:常溫。

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高壓氣體流量系統評估報告-比較法/循環式

本文件係說明國家度量衡標準實驗室之循環式高壓氣體流量校正系統(系統代碼為F05)的量測不確定度評估程序,使用的工作標準件分別為八具2吋轉子流量計及二具6吋超音波流量計。標準件的質量流率是由量測標準件的溫度、壓力及實際體積流率值直接計算而來,將標準件的質量流率除以器差修正係數,即可求得通過標準件的標準質量流率。亦可將標準件的標準質量流率轉換至被校流量計的實際狀態(或參考狀態),再比較標準件與被校流量計得到的實際狀態(或參考狀態)體積流率。 系統量測不確定度的評估是依據ISO/IEC Guide 98-3:2008(GUM)所建議的A類或B類方式,評估求得各變數量測的標準不確定度(或相對標準不確定度),然後將各量測變數的標準不確定度乘以其各自的靈敏係數值,再以和方根(RSS)方式將其合併,再計算相對組合標準不確定度。校正系統藉由Welch-Satterthwaite公式計算的有效自由度和95 %信賴水準所查得的涵蓋因子,與其相對組合標準不確定度相乘可得相對擴充不確定度。 本系統之校正能量範圍如下: 工作流體:乾燥空氣; 實際體積流率範圍:( 25 to 2000 ) m3/h; 基準體積流率範圍:( 125 to 110000 ) m3/h @ ( 101.325 kPa , 23 ℃ ); 質量流率範圍:( 150 to 132000 ) kg/h; 累計體積總量範圍:( 6.25 to 166.67) m3 @ ( 25 to 2000 ) m3/h; 壓力:( 500 to 5500 ) kPa (絕對壓力); 溫度:常溫。 量測系統於95 %的信賴水準所宣告的系統量測不確定度UCMC: 標準件 標準系統基值 含被校流量計 2吋轉子傳遞標準件 UBase = 0.20 % UCMC = 0.20 % k = 1.98 k = 1.98 veff = 150 veff = 151 八具2吋轉子流量計 UBase = 0.23 % UCMC = 0.23 % k = 1.97 k = 1.97 veff = 239 veff = 240 二具6吋超音波流量計 UBase = 0.25 % UCMC = 0.25 % k = 1.97 k = 1.97 veff = 299 veff = 300

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油量計準確性研究結果報告

加油站業者使用之10 L黑桶量桶和10 L不鏽鋼量桶相比具有重量輕、壁面薄之特性,黑桶量桶可能因為環境溫度變化或長期使用而影響其計量特性。本研究透過殘餘水量實驗、短期和長期環境溫度實驗了解黑桶量桶和不鏽鋼量桶的計量特性差異。研究結果顯示殘餘水量、環境溫度、再現性對於黑桶量桶影響不大。此外,黑桶頸部壁面為深黑色,視讀弧形液面和刻度較不清楚且解析度為較大之10 mL,因此,視讀黑桶量桶弧形液面和刻度時應在光線充足環境下進行,避免造成額外視讀誤差。

100

驗證參考混合氣體穩定度評估技術紀錄

本技術報告,藉由氣相層析儀搭配熱傳導偵測器/火焰離子偵測器/硫化學發光偵測器(GC-TCD/FID/SCD)、氣相層析質譜儀(GC-MS)、傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR)、氮氧化物分析儀(NOx Analyzer)與二氧化硫分析儀(SO2 Analyzer)系統檢驗能力,針對所配製之CO in N2、CO2 in N2、CH4 in N2、C3H8 in N2、CF4 in N2、SF6 in N2、NO in N2、SO2 in N2、O2 in N2、CH4 in air、CO+CO2+C3H8 in N2、H2S in N2、 N2O in N2、C2H5OH in N2、C2H5OH in air以及VOCs in N2(含Benzene、Toluene、Ethylbenzene、Xylenes)等驗證參考氣體進行濃度比對分析及進行濃度穩定度評估,將其評估紀錄記錄於此技術文件中。

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原級參考氣體配製用原物料純度評估紀錄

本技術報告說明質量法高壓混合氣體供應驗證系統(C08),藉由氣相層析儀(GC-DID/FID與GC-SCD/FID)、氣相層析質譜儀(GC-MS)、傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR)、氮氧化物分析儀(NOx Analyzer)與二氧化硫分析儀(SO2 Analyzer)等分析儀器,針對配製原級參考氣體(Primary Reference Gas Mixtures,PRM)所使用的原物料進行純度分析,藉以評估是否符合配製用原物料規格需求,並彙整歷年原物料純度分析紀錄。

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氣瓶氣體濃度量測系統評估報告

本評估報告針對氣瓶氣體濃度量測之不確定度評估程序進行說明,以作為實驗室對外執行服務時不確定度估算的依據。根據量測程序以及濃度量測方程式所列參數,不確定度來源評估項目包含:1) 量測重複性之標準不確定度, ;2)標準件之濃度標準不確定度, ;以及3)系統穩定性之標準不確定度。本文針對各項目估算方式進行說明,以建立系統量測濃度範圍及其量測擴充不確定度,進而作為產業申請量測服務之參考。本系統隸屬於C03 “鋼瓶氣體濃度量測系統”,可提供氣瓶氣體成分CO、CO2、CH4、C3H8、O2、C2H5OH、NO與SO2濃度量測服務,各成分之量測濃度範圍如下所示,其所對應之最小擴充不確定度如下表,其結果乃由該濃度區間內所評估結果之相對擴充不確定度換算而得。
n CO成分濃度量測範圍為(10至200000) mmol/mol。
n CO2成分濃度量測範圍為(100至300000) mmol/mol。
n CH4成分濃度量測範圍為(100至100000) mmol/mol。
n C3H8成分濃度量測範圍為(100至50000) mmol/mol。
n O2成分濃度量測範圍為(1000至250000) mmol/mol。
n C2H5OH成分濃度量測範圍為(137至547) mmol/mol。
n NO成分濃度量測範圍為(50至2000) mmol/mol。
n SO2成分濃度量測範圍為(50至2000) mmol/mol。


成分 量測範圍
(μmol/mol) 最小擴充不確定度
(μmol/mol)
CO 10至1000
>1000至10000
>10000至200000 0.08
9
90
CO2 100至1000
>1000至10000
>10000至300000 1.1
12
120
CH4 100至1000
>1000至10000
>10000至100000 0.9
8
80
C3H8 100至1000
>1000至10000
>10000至50000 1.0
6
60
O2 1000至10000
>10000至250000 12
120
C2H5OH 137
301
547 1.7
3.2
4.3
NO 50至2000 0.89
SO2 50至2000 0.82

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氣體濃度稀釋裝置校正程序─氣相層析分析儀

本程序參考ISO 6145-7:2009以及美國EPA/600/R-12/531,利用不同濃度具計量追溯性之標準鋼瓶氣體以及氣相層析分析儀,搭配不同偵測器校正混合氣體濃度(CO2 in N2與CO in N2混合氣體使用火焰離子偵測器,CH4 in air混合氣體使用熱導式偵測器),其方法可用以評估氣體濃度稀釋裝置的稀釋分率。此方法有別於流量校正的濃度稀釋分率校正方式。執行方法為:1)以不同濃度標準鋼瓶氣體進行氣相層析分析儀的檢量線建立;2)進行待校稀釋裝置之稀釋分率設定;3)利用跨距或全幅氣體(Span Gas)結合稀釋用零氣體(Zero Gas)搭配已設定稀釋分率的待校正稀釋裝置,動態配製出混合氣體,此混合氣體運用標準鋼瓶氣體所建立之檢量線進行濃度校正,即可求得稀釋裝置所配製之混合氣體的濃度;4)計算不同設定條件之實際稀釋分率及其量測擴充不確定度。本文件針對執行濃度稀釋裝置校正之儀器設備需求、校正步驟、資料分析和報告格式逐一說明。氣體成分濃度校正範圍如下表所列。氣體濃度分析實驗室運用經校正的濃度稀釋裝置搭配具計量追溯之標準鋼瓶氣體,即可自行產生不同濃度的工作標準混合氣體,用以進行各類分析儀或偵測器校正。可成為室內空氣品質管理或作業環境管理等領域或產業之檢測技術建立之有利工具。

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氣體濃度稀釋裝置校正系統評估報告─氣相層析分析儀

本評估報告針對氣體濃度稀釋裝置校正之準確度評估程序進行說明,以作為實驗室對外執行氣體濃度稀釋裝置校正服務時不確定度估算的依據。根據校正程序以及量測方程式所列參數,不確定度來源評估項目包含1) 動態配製混合氣體濃度之標準不確定度;2) 跨距氣體(Span gas)之濃度擴充不確定度, 以及;3) 系統穩定性之標準不確定度。本文針對各項目之估算方式進行說明,以建立此技術系統校正執行的濃度範圍及其量測擴充不確定度如文件內文所示,進而作為產業申請校正服務之參考。本校正程序評估報告隸屬於氣體量測系統(C07)。

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鉛標準液驗證參考物質生產作業指引

本文件係針對鉛標準液(Lead Standard Solution)配製作業流程進行概要說明,並依據ISO Guide 34:2009,說明生產程序中應遵循參照之品質文件以及相關注意事項,以作為鉛標準液驗證參考物質製造生產之作業指引。

106

同位素比例校正程序-質譜法

本校正程序係提供國家度量衡標準實驗室同位素比例量測系統(C14),以多接收器感應耦合電漿質譜儀(multicollector inductively coupled plasma mass spectrometer,MC-ICP-MS)量測溶液元素同位素比例之操作依據,主要量測元素為矽(Si)。主要方法:將純度大於99.9 %之適當濃度矽溶液(0.5 mg/kg to 50 mg/kg)導入MC-ICP-MS,該儀器能以三個訊號接收器同時量測三種矽同位素(28Si、29Si、30Si)訊號,準確求得矽同位素比例。

107

同位素比例量測系統評估報告-質譜法

本評估報告係提供國家度量衡標準實驗室同位素比例量測系統(代碼為C14),校正矽同位素比例之不確定度評估程序進行說明,以作為執行校正服務時不確定度估算的依據。根據量測方程式,待校件之矽同位素比例之不確定度來源評估項目包含:(1) 標準件同位素比例標準值之不確定度; (2)標準件同位素比例量測過程之不確定度;(3)待校件同位素比例量測過程之不確定度。
本校正系統的量測不確定度評估方法分析各不確定度來源及相對標準不確定度,並計算相對擴充不確定度。在約95 %的信賴水準下,本校正系統的校正能量訂定如下表所示。

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線上熱值分析儀之重複性測試公證技術應用

天然氣量測成分重複性測試公證,依據ASTM D1945及ASTM D7164之規範。

 

     
     
     

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  • 網站最新更新日期 : 2022/06/30
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