專利授權洽詢窗口
- 國家度量衡標準實驗室
- TEL：(03)574-3705 曾莉莉經理
| 中文專利名稱 | 國家 | 專利證號 | 專利起期 | 專利迄期 |
| 旋轉軸的幾何誤差的獲取方法與獲取設備 | 中華民國 | I791343 | 20230201 | 20411130 |
| 雙旋轉軸的幾何誤差的獲取方法與獲取設備 | 中華民國 | I785914 | 20221201 | 20411201 |
| 削尖毛細管製作方法及裝置 | 中華民國 | I783693 | 20221111 | 20410921 |
| 雷射測距裝置 | 中華民國 | I616646 | 20180301 | 20370223 |
| 光學共振腔之腔長量測裝置 | 美國 | 10041782 | 20180807 | 20351227 |
| 中國大陸 | ZL201610461302.8 | 20191018 | 20360622 | |
| 測距裝置及其測距方法 | 美國 | 10101451 | 20181016 | 20361207 |
| 中華民國 | I595252 | 20170811 | 20360509 | |
| 中國大陸 | ZL201610430722.X | 20201113 | 20360615 | |
| 熱探針 | 美國 | 9891180 | 20180213 | 20360519 |
| 中華民國 | I570412 | 20170211 | 20360103 | |
| 增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | 美國 | 9297772 | 20160329 | 20340524 |
| 中華民國 | I538565 | 20160611 | 20341013 | |
| 荷蘭 | EP2863213 | 20191127 | 20341013 | |
| 日本 | 6006768 | 20160916 | 20341014 | |
| 英國 | EP2863213 | 20191127 | 20341013 | |
| 法國 | EP2863213 | 20191127 | 20341013 | |
| 德國 | EP2863213 | 20191127 | 20341013 | |
| 中國大陸 | ZL201410544535.5 | 20180126 | 20341014 | |
| 比利時 | EP2863213 | 20191127 | 20341013 | |
| 基於靜電式位移偵測與致動技術之力量量測裝置與方法 | 美國 | 8800371 | 20140812 | 20321207 |
| 干擾量測系統與干擾量測方法 | 中華民國 | I478576 | 20150321 | 20311219 |
| 光學量測裝置 | 中華民國 | I476391 | 20150311 | 20311101 |
| 中國大陸 | ZL201210421089.X | 20150121 | 20321028 | |
| 定位裝置 | 中華民國 | I431636 | 20140321 | 20301212 |
| 缺陷量測裝置和缺陷量測方法 | 中華民國 | I426263 | 20140211 | 20301214 |
| 測定液晶參數的方法及裝置 | 中華民國 | I432715 | 20140401 | 20301215 |
| 韓國 | 10-1374328 | 20140305 | 20310103 | |
| 中國大陸 | ZL201010610643.X | 20140924 | 20301227 | |
| 熱流情境的控制裝置及方法 | 中華民國 | I401401 | 20130711 | 20300715 |
| 濾光鏡頭、燈具及燈具的操作方法 | 中華民國 | I387708 | 20130301 | 20291213 |
| 二維亮度色度計的校正裝置 | 中華民國 | I408698 | 20130911 | 20291214 |
| 可調式標準低亮度裝置 | 中華民國 | I408345 | 20130911 | 20291209 |
| 垂直度量測方法及其系統 | 中華民國 | I392845 | 20130411 | 20291209 |
| 光學特性量測裝置 | 中華民國 | I408352 | 20130911 | 20291020 |
| 液晶預傾角量測系統與方法 | 中華民國 | I437220 | 20140511 | 20291026 |
| 中國大陸 | ZL200910221056.9 | 20121010 | 20291108 | |
| 動態模糊標準產生器及其產生方法 | 中華民國 | I387342 | 20130221 | 20281218 |
| 顯示器的檢測方法及其系統 | 中國大陸 | ZL200810187832.3 | 20120118 | 20281222 |
| 標準階調特性光源提供裝置及方法 | 中華民國 | I387734 | 20130301 | 20281224 |
| 相位差檢測裝置 | 美國 | 8130378 | 20120306 | 20300523 |
| 中國大陸 | ZL200810177684.7 | 20110914 | 20281123 | |
| 可檢測撓曲力量與電性之夾具 | 美國 | 7882748 | 20110208 | 20291002 |
| 中華民國 | I377343 | 20121121 | 20281110 | |
| 中國大陸 | ZL200810181063.6 | 20121010 | 20281119 | |
| 軟性元件之撓曲裝置 | 中華民國 | I367324 | 20120701 | 20280914 |
| 中國大陸 | ZL200810211479.8 | 20110406 | 20280925 | |
| 雲紋特徵量化裝置及其操作方法 | 中華民國 | I375792 | 20121101 | 20280724 |
| 吸附式撓曲裝置及其方法 | 中華民國 | I374263 | 20121011 | 20280427 |
| 軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統 | 美國 | 7971492 | 20110705 | 20290723 |
| 中華民國 | I370248 | 20120811 | 20280501 | |
| 中國大陸 | ZL200810099009.7 | 20120627 | 20280511 | |
| 動態光源標準方法與裝置 | 中華民國 | I356289 | 20120111 | 20280313 |
| 全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法 | 美國 | 8028643 | 20111004 | 20300427 |
| 中華民國 | I375033 | 20121021 | 20290401 | |
| 中國大陸 | ZL200910129961.1 | 20110615 | 20290409 | |
| 反射式膜厚量測方法及光譜影像處理方法 | 美國 | 8059282 | 20111115 | 20291224 |
| 光譜影像處理方法 | 中華民國 | I454655 | 20141001 | 20280424 |
| 反射式膜厚量測方法 | 中華民國 | I386617 | 20130221 | 20280424 |
| 光學式奈米壓痕量測裝置及方法 | 美國 | 7845214 | 20101207 | 20290721 |
| 光學式奈米拉伸測試裝置及其方法 | 中華民國 | I477775 | 20150321 | 20281225 |
| 光學式奈米壓痕量測裝置及其方法 | 中華民國 | I470221 | 20150121 | 20281225 |
| 影像處理控制系統 | 美國 | 8212931 | 20120703 | 20310501 |
| 中華民國 | I394453 | 20130421 | 20271226 | |
| 具防止熱對流機制之輻射標準裝置 | 美國 | 7838802 | 20101123 | 20290723 |
| 中華民國 | I346199 | 20110801 | 20271129 | |
| 中國大陸 | ZL200710199057.9 | 20101103 | 20271206 | |
| 雲紋圖像模擬裝置、方法與記錄媒體 | 中華民國 | I345156 | 20110711 | 20271227 |
| 提供標準發光二極體光源之標準光源裝置 | 美國 | 8186840 | 20120529 | 20310329 |
| 中華民國 | I354097 | 20111211 | 20271230 | |
| 檢測晶圓表面缺陷及微粒之光偏振量測裝置及方法 | 中華民國 | I357628 | 20120201 | 20270820 |
| 表面電漿共振檢測裝置與方法 | 美國 | 7593110 | 20090922 | 20280413 |
| 中華民國 | I361275 | 20120401 | 20271011 | |
| 光頻量測方法及裝置 | 美國 | 7830526 | 20101109 | 20290102 |
| 中華民國 | I336771 | 20110201 | 20271015 | |
| 日本 | 4633103 | 20101126 | 20271106 | |
| 法國 | EP2051053 | 20160907 | 20280117 | |
| 用於檢測生物晶片磁標誌陣列之檢測裝置及其方法 | 中華民國 | I335429 | 20110101 | 20270514 |
| 洩壓裝置及其洩壓元件之製造方法以及應用該洩壓元件之血壓計 | 中華民國 | I371260 | 20120901 | 20280324 |
| 標準輻射源 | 美國 | 7866882 | 20110111 | 20281126 |
| 中華民國 | I312861 | 20090801 | 20270212 | |
| 標準輻射源及其紅外線元件校驗系統 | 中華民國 | I311193 | 20090621 | 20261226 |
| 偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 | 中華民國 | I310831 | 20090611 | 20261114 |
| 偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 | 中華民國 | I314641 | 20090911 | 20261114 |
| 霧度量測裝置、霧度量測方法 | 中華民國 | I319811 | 20100121 | 20261026 |
| 金屬材料的磁性量測裝置以及其方法 | 中華民國 | I310841 | 20090611 | 20261228 |
| 血壓計之檢查測試裝置 | 中華民國 | I311049 | 20090621 | 20261213 |
| 光頻量測方法 | 美國 | 7564561 | 20090721 | 20280403 |
| 中華民國 | I300471 | 20080901 | 20261024 | |
| 日本 | 4620701 | 20101105 | 20270314 | |
| 粒徑檢測裝置 | 中華民國 | I319085 | 20100101 | 20260718 |
| 光電型全立體角電磁場量測系統 | 美國 | 7528358 | 20090505 | 20270403 |
| 中華民國 | I280374 | 20070501 | 20251229 | |
| 奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法 | 美國 | 7621173 | 20091124 | 20271206 |
| 中華民國 | I282858 | 20070621 | 20251229 | |
| 光電型電場訊號量測系統 | 美國 | 7583866 | 20090901 | 20270420 |
| 中華民國 | I286023 | 20070821 | 20251229 | |
| 流量量測裝置及其製造方法 | 美國 | 7377183 | 20080527 | 20260921 |
| 中華民國 | I272374 | 20070201 | 20251128 | |
| 中國大陸 | ZL200510129617.4 | 20081203 | 20251212 | |
| 味道感測組合物和其感測器及其感測系統 | 中華民國 | I301542 | 20081001 | 20250104 |
| 物體端點量測系統 | 中華民國 | I251074 | 20060311 | 20241214 |
| 次毫米波輻射產生系統及其方法 | 中華民國 | I278157 | 20070401 | 20241223 |
| 非線性位移校正裝置及方法 | 中華民國 | I243887 | 20051121 | 20241125 |
| 結合奈米壓痕系統及光學干涉法於量測材料性質之裝置及方法 | 中華民國 | I247100 | 20060111 | 20241102 |
| 使用光學共振腔量測氣體壓力與真空的方法 | 美國 | 7104135 | 20060912 | 20250128 |
| 電磁訊號量測裝置 | 中華民國 | I247119 | 20060111 | 20241026 |
| 亮度量測裝置及其量測方法 | 中華民國 | I242637 | 20051101 | 20241026 |
| 濕度感測膜之材料與製作方法 | 中華民國 | I263670 | 20061011 | 20240920 |
| 可攜式黑體爐 | 美國 | 7148450 | 20061212 | 20251016 |
| 中華民國 | I276787 | 20070321 | 20241019 | |
| 中國大陸 | ZL200410090981.X | 20080213 | 20241110 | |
| 量測孔徑修正係數之裝置及方法 | 中華民國 | I263780 | 20061011 | 20240323 |
| 濕度感測元件、裝置及其製造方法 | 美國 | 7270002 | 20070918 | 20240920 |
| 英國 | 2407384 | 20061122 | 20240627 |