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專利

專利授權洽詢窗口

  • 國家度量衡標準實驗室
  • TEL:(03)574-3705 曾莉莉經理
專利名稱專利證號國家獲得證書日專利起期專利迄期
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置  EP2863213 英國  20191212  20191127  20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置  EP2863213 法國  20191212  20191127  20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置  EP2863213 德國  20191212  20191127  20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置  EP2863213 比利時  20191212  20191127  20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置  EP2863213 荷蘭  20191212  20191127  20341013
光學共振腔的腔長量測裝置  ZL201610461302.8 中國大陸  20191127  20191018  20360622
測距裝置及其測距方法 10,101,451                     美國 20181115 20181016 20361207
光學共振腔之腔長量測裝置 10,041,782                     美國 20181016 20180807 20351227
熱探針 9,891,180                      美國 20180321 20180213 20360519
增加穿透式小角度X光散射的散射強度的裝置 ZL201410544535.5               中國大陸 20180321 20180126 20341014
雷射測距裝置 I616646                        中華民國 20180316 20180301 20370223
測距裝置及其測距方法 I595252                        中華民國 20170904 20170811 20360509
熱探針 I570412                        中華民國 20170302 20170211 20360103
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 9,297,772                      美國 20161130 20160329 20340524
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 6006768                        日本 20161017 20160916 20341014
光頻量測方法及裝置 EP2051053                      法國 20161004 20160907 20280117
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 I538565                        中華民國 20160616 20160611 20341013
光學式奈米拉伸測試裝置及其方法 I477775                        中華民國 20150408 20150321 20281225
干擾量測系統與干擾量測方法 I478576                        中華民國 20150408 20150321 20311219
光學量測裝置 I476391                        中華民國 20150407 20150311 20311101
光學測量裝置 ZL201210421089.X               中國大陸 20150311 20150121 20321028
光學式奈米壓痕量測裝置及其方法 I470221                        中華民國 20150224 20150121 20281225
基於靜電式位移偵測與致動技術之力量量測裝置與方法 8,800,371                      美國 20141205 20140812 20321207
測定液晶參數的方法及裝置 ZL201010610643.X               中國大陸 20141023 20140924 20301227
光譜影像處理方法 I454655                        中華民國 20141022 20141001 20280424
液晶預傾角量測系統與方法 I437220                        中華民國 20140520 20140511 20291026
測定液晶參數的方法及裝置 I432715                        中華民國 20140415 20140401 20301215
定位裝置 I431636                        中華民國 20140407 20140321 20301212
測定液晶參數的方法及裝置 10-1374328                     韓國 20140403 20140305 20310103
缺陷量測裝置和缺陷量測方法 I426263                        中華民國 20140303 20140211 20301214
二維亮度色度計的校正裝置 I408698                        中華民國 20130930 20130911 20291214
可調式標準低亮度裝置 I408345                        中華民國 20130917 20130911 20291209
光學特性量測裝置 I408352                        中華民國 20130917 20130911 20291020
熱流情境的控制裝置及方法 I401401                        中華民國 20130729 20130711 20300715
影像處理控制系統 I394453                        中華民國 20130429 20130421 20271226
垂直度量測方法及其系統 I392845                        中華民國 20130416 20130411 20291209
濾光鏡頭、燈具及燈具的操作方法 I387708                        中華民國 20130401 20130301 20291213
標準階調特性光源提供裝置及方法 I387734                        中華民國 20130318 20130301 20281224
反射式膜厚量測方法 I386617                        中華民國 20130308 20130221 20280424
動態模糊標準產生器及其產生方法 I387342                        中華民國 20130301 20130221 20281218
液晶預傾角量測系統與方法 ZL200910221056.9               中國大陸 20130131 20121010 20291108
可檢測撓曲力量與電性的夾具 ZL200810181063.6               中國大陸 20130131 20121010 20281119
可檢測撓曲力量與電性之夾具 I377343                        中華民國 20121203 20121121 20281110
雲紋特徵量化裝置及其操作方法 I375792                        中華民國 20121112 20121101 20280724
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法 I375033                        中華民國 20121102 20121021 20290401
吸附式撓曲裝置及其方法 I374263                        中華民國 20121019 20121011 20280427
影像處理控制系統 8,212,931                      美國 20121019 20120703 20310501
洩壓裝置及其洩壓元件之製造方法以及應用該洩壓元件之血壓計 I371260                        中華民國 20120913 20120901 20280324
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統 I370248                        中華民國 20120821 20120811 20280501
軟性元件之撓曲裝置 I367324                        中華民國 20120718 20120701 20280914
軟性元件撓曲特性的檢測方法及其系統 ZL200810099009.7               中國大陸 20120716 20120627 20280511
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置 8,186,840                      美國 20120613 20120529 20310329
全方位落體偵測器 8,028,643                      美國 20120417 20111004 20300427
表面電漿共振檢測裝置與方法 I361275                        中華民國 20120416 20120401 20271011
顯示器的檢測方法及其系統 ZL200810187832.3               中國大陸 20120406 20120118 20281222
相位差檢測裝置 8,130,378                      美國 20120402 20120306 20300523
檢測晶圓表面缺陷及微粒之光偏振量測裝置及方法 I357628                        中華民國 20120312 20120201 20270820
動態光源標準方法與裝置 I356289                        中華民國 20120118 20120111 20280313
反射式膜厚量測方法及光譜影像處理方法 8,059,282                      美國 20111222 20111115 20291224
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置 I354097                        中華民國 20111218 20111211 20271230
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法 ZL200910129961.1               中國大陸 20111003 20110615 20290409
相位差檢測裝置 ZL200810177684.7               中國大陸 20111003 20110914 20281123
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統 7,971,492                      美國 20111003 20110705 20290723
具防止熱對流機制之輻射標準裝置 I346199                        中華民國 20111003 20110801 20271129
雲紋圖像模擬裝置、方法與記錄媒體 I345156                        中華民國 20111003 20110711 20271227
標準輻射源 7,866,882                      美國 20111003 20110111 20281126
光頻量測方法 4620701                        日本 20111003 20101105 20270314
光學式奈米壓痕量測裝置及方法 7,845,214                      美國 20110824 20101207 20290721
軟性組件的撓曲裝置 ZL200810211479.8               中國大陸 20110504 20110406 20280925
光頻量測方法及裝置 4633103                        日本 20110321 20101126 20271106
可檢測撓曲力量與電性之夾具 7,882,748                      美國 20110308 20110208 20291002
光頻量測方法及裝置 I336771                        中華民國 20110214 20110201 20271015
具防止熱對流機制之輻射標準裝置 7,838,802                      美國 20110131 20101123 20290723
光頻量測方法及裝置 7,830,526                      美國 20110131 20101109 20290102
用於檢測生物晶片磁標誌陣列之檢測裝置及其方法 I335429                        中華民國 20110131 20110101 20270514
具防止熱對流機制的輻射標準裝置 ZL200710199057.9               中國大陸 20101207 20101103 20271206
粒徑檢測裝置 I319085                        中華民國 20100209 20100101 20260718
霧度量測裝置、霧度量測方法 I319811                        中華民國 20100204 20100121 20261026
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法 7,621,173                      美國 20100101 20091124 20271206
表面電漿共振檢測裝置與方法 7,593,110                      美國 20091008 20090922 20280413
光電型電場訊號量測系統 7,583,866                      美國 20091008 20090901 20270420
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 I314641                        中華民國 20090916 20090911 20261114
標準輻射源 I312861                        中華民國 20090901 20090801 20270212
光頻量測方法 7,564,561                      美國 20090901 20090721 20280403
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 I310831                        中華民國 20090715 20090611 20261114
光電型全立體角電磁場量測系統 7,528,358                      美國 20090709 20090505 20270403
血壓計之檢查測試裝置 I311049                        中華民國 20090707 20090621 20261213
金屬材料的磁性量測裝置以及其方法 I310841                        中華民國 20090707 20090611 20261228
標準輻射源及其紅外線元件校驗系統 I311193                        中華民國 20090707 20090621 20261226
流量測量裝置及其制造方法 ZL200510129617.4               中國大陸 20090108 20081203 20251212
味道感測組合物和其感測器及其感測系統 I301542                        中華民國 20081007 20081001 20250104
光頻量測方法 I300471                        中華民國 20081001 20080901 20261024
流量量測裝置及其製造方法 7,377,183                      美國 20080811 20080527 20260921
濕度感測元件、裝置及其製造方法 7,270,002                      美國 20080701 20070918 20240920
便攜式黑體爐 ZL200410090981.X               中國大陸 20080307 20080213 20241110
光電型電場訊號量測系統 I286023                        中華民國 20071001 20070821 20251229
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法 I282858                        中華民國 20070709 20070621 20251229
光電型全立體角電磁場量測系統 I280374                        中華民國 20070607 20070501 20251229
流量量測裝置及其製造方法 I272374                        中華民國 20070504 20070201 20251128
次毫米波輻射產生系統及其方法 I278157                        中華民國 20070418 20070401 20241223
可攜式黑體爐 I276787                        中華民國 20070414 20070321 20241019
可攜式黑體爐 7,148,450                      美國 20070208 20061212 20251016
濕度感測元件、裝置及其製造方法 2407384                        英國 20070101 20061122 20240627
使用光學共振腔量測氣體壓力與真空的方法 7,104,135                      美國 20061110 20060912 20250128
濕度感測膜之材料與製作方法 I263670                        中華民國 20061020 20061011 20240920
量測孔徑修正係數之裝置及方法 I263780                        中華民國 20061019 20061011 20240323
物體端點量測系統 I251074                        中華民國 20060324 20060311 20241214
結合奈米壓痕系統及光學干涉法於量測材料性質之裝置及方法 I247100                        中華民國 20060207 20060111 20241102
電磁訊號量測裝置 I247119                        中華民國 20060123 20060111 20241026
非線性位移校正裝置及方法 I243887                        中華民國 20051212 20051121 20241125
濕度感測元件、裝置及其製造方法 I242639                        中華民國 20051116 20051101 20231020
亮度量測裝置及其量測方法 I242637                        中華民國 20051111 20051101 20241026
微力矩施加裝置 I242641                        中華民國 20051111 20051101 20231224
光學式角度編碼器 I242636                        中華民國 20051111 20051101 20231116
計量型光譜式橢圓偏光儀裝置 I230784                        中華民國 20050425 20050411 20231224
光纖式彈性體測力裝置 I230785                        中華民國 20050425 20050411 20231229
非連續曝光方法製作奈米電子元件 I227516                        中華民國 20050221 20050201 20231225
光頻遠距校正光纖雜訊消除之裝置及方法 I227607                        中華民國 20050221 20050201 20231225
高分子濕度感測膜之製作方法 207356                         中華民國 20041124 20040621 20230824
酸鹼度感測電極 I223063                        中華民國 20041112 20041101 20211227
低頻校正系統及方法 I221907                        中華民國 20041019 20041011 20220801
微影像流速儀 I221516                        中華民國 20041015 20041001 20231111
接觸式位移感測器之校正系統 203498                         中華民國 20041015 20040511 20230909
石英晶體微天平裝置 I220687                        中華民國 20040914 20040901 20230828
雙弦波訊號之計數 200108                         中華民國 20040812 20040401 20211230
波長鎖定裝置及方法 194271                         中華民國 20040512 20031211 20221226
固態電解質式氣體感測元件及氣體感測裝置 192089                         中華民國 20040408 20031111 20221014
雷射穩頻之裝置及其方法 6,667,996                      美國 20040211 20031223 20220710
衛生瓷器載重測試方法與裝置 182966                         中華民國 20031212 20030701 20220924
傳輸介質延遲時間和斷裂位置之量測方法及裝置 175958                         中華民國 20030825 20030311 20211125
可攜式雷射都卜勒流速量測探頭 169000                         中華民國 20030527 20021111 20211227
濕度感測材料以及製備該濕度感測材料的方法 169161                         中華民國 20030527 20021121 20211211
外差式光學頻譜分析裝置及其方法 166565                         中華民國 20030414 20021011 20210426
微粒子流觀測裝置及觀測方法 163023                         中華民國 20030117 20020821 20211230
雷射穩頻之裝置及其方法 162183                         中華民國 20030103 20020801 20210426
滲透裝置之成型裝置及其成型方法 162204     中華民國 20030103 20020801 20211008
多範圍光纖反射式測微器 6,433,350                      美國 20021011 20020813 20210509
一至八平行光束產生裝置 148563                         中華民國 20020517 20011221 20201002
氣體動態及靜態濃度分析方法及其裝置 141002                         中華民國 20020206 20010821 20201229
光纜線斷裂位置檢測方法與裝置 138794                         中華民國 20011221 20010721 20200913

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