專利名稱 | 專利證號 | 國家 | 獲得證書日 | 專利起期 | 專利迄期 |
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增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | EP2863213 | 英國 | 20191212 | 20191127 | 20341013 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | EP2863213 | 法國 | 20191212 | 20191127 | 20341013 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | EP2863213 | 德國 | 20191212 | 20191127 | 20341013 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | EP2863213 | 比利時 | 20191212 | 20191127 | 20341013 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | EP2863213 | 荷蘭 | 20191212 | 20191127 | 20341013 |
光學共振腔的腔長量測裝置 | ZL201610461302.8 | 中國大陸 | 20191127 | 20191018 | 20360622 |
測距裝置及其測距方法 | 10,101,451 | 美國 | 20181115 | 20181016 | 20361207 |
光學共振腔之腔長量測裝置 | 10,041,782 | 美國 | 20181016 | 20180807 | 20351227 |
熱探針 | 9,891,180 | 美國 | 20180321 | 20180213 | 20360519 |
增加穿透式小角度X光散射的散射強度的裝置 | ZL201410544535.5 | 中國大陸 | 20180321 | 20180126 | 20341014 |
雷射測距裝置 | I616646 | 中華民國 | 20180316 | 20180301 | 20370223 |
測距裝置及其測距方法 | I595252 | 中華民國 | 20170904 | 20170811 | 20360509 |
熱探針 | I570412 | 中華民國 | 20170302 | 20170211 | 20360103 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | 9,297,772 | 美國 | 20161130 | 20160329 | 20340524 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | 6006768 | 日本 | 20161017 | 20160916 | 20341014 |
光頻量測方法及裝置 | EP2051053 | 法國 | 20161004 | 20160907 | 20280117 |
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置 | I538565 | 中華民國 | 20160616 | 20160611 | 20341013 |
光學式奈米拉伸測試裝置及其方法 | I477775 | 中華民國 | 20150408 | 20150321 | 20281225 |
干擾量測系統與干擾量測方法 | I478576 | 中華民國 | 20150408 | 20150321 | 20311219 |
光學量測裝置 | I476391 | 中華民國 | 20150407 | 20150311 | 20311101 |
光學測量裝置 | ZL201210421089.X | 中國大陸 | 20150311 | 20150121 | 20321028 |
光學式奈米壓痕量測裝置及其方法 | I470221 | 中華民國 | 20150224 | 20150121 | 20281225 |
基於靜電式位移偵測與致動技術之力量量測裝置與方法 | 8,800,371 | 美國 | 20141205 | 20140812 | 20321207 |
測定液晶參數的方法及裝置 | ZL201010610643.X | 中國大陸 | 20141023 | 20140924 | 20301227 |
光譜影像處理方法 | I454655 | 中華民國 | 20141022 | 20141001 | 20280424 |
液晶預傾角量測系統與方法 | I437220 | 中華民國 | 20140520 | 20140511 | 20291026 |
測定液晶參數的方法及裝置 | I432715 | 中華民國 | 20140415 | 20140401 | 20301215 |
定位裝置 | I431636 | 中華民國 | 20140407 | 20140321 | 20301212 |
測定液晶參數的方法及裝置 | 10-1374328 | 韓國 | 20140403 | 20140305 | 20310103 |
缺陷量測裝置和缺陷量測方法 | I426263 | 中華民國 | 20140303 | 20140211 | 20301214 |
二維亮度色度計的校正裝置 | I408698 | 中華民國 | 20130930 | 20130911 | 20291214 |
可調式標準低亮度裝置 | I408345 | 中華民國 | 20130917 | 20130911 | 20291209 |
光學特性量測裝置 | I408352 | 中華民國 | 20130917 | 20130911 | 20291020 |
熱流情境的控制裝置及方法 | I401401 | 中華民國 | 20130729 | 20130711 | 20300715 |
影像處理控制系統 | I394453 | 中華民國 | 20130429 | 20130421 | 20271226 |
垂直度量測方法及其系統 | I392845 | 中華民國 | 20130416 | 20130411 | 20291209 |
濾光鏡頭、燈具及燈具的操作方法 | I387708 | 中華民國 | 20130401 | 20130301 | 20291213 |
標準階調特性光源提供裝置及方法 | I387734 | 中華民國 | 20130318 | 20130301 | 20281224 |
反射式膜厚量測方法 | I386617 | 中華民國 | 20130308 | 20130221 | 20280424 |
動態模糊標準產生器及其產生方法 | I387342 | 中華民國 | 20130301 | 20130221 | 20281218 |
液晶預傾角量測系統與方法 | ZL200910221056.9 | 中國大陸 | 20130131 | 20121010 | 20291108 |
可檢測撓曲力量與電性的夾具 | ZL200810181063.6 | 中國大陸 | 20130131 | 20121010 | 20281119 |
可檢測撓曲力量與電性之夾具 | I377343 | 中華民國 | 20121203 | 20121121 | 20281110 |
雲紋特徵量化裝置及其操作方法 | I375792 | 中華民國 | 20121112 | 20121101 | 20280724 |
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法 | I375033 | 中華民國 | 20121102 | 20121021 | 20290401 |
吸附式撓曲裝置及其方法 | I374263 | 中華民國 | 20121019 | 20121011 | 20280427 |
影像處理控制系統 | 8,212,931 | 美國 | 20121019 | 20120703 | 20310501 |
洩壓裝置及其洩壓元件之製造方法以及應用該洩壓元件之血壓計 | I371260 | 中華民國 | 20120913 | 20120901 | 20280324 |
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統 | I370248 | 中華民國 | 20120821 | 20120811 | 20280501 |
軟性元件之撓曲裝置 | I367324 | 中華民國 | 20120718 | 20120701 | 20280914 |
軟性元件撓曲特性的檢測方法及其系統 | ZL200810099009.7 | 中國大陸 | 20120716 | 20120627 | 20280511 |
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置 | 8,186,840 | 美國 | 20120613 | 20120529 | 20310329 |
全方位落體偵測器 | 8,028,643 | 美國 | 20120417 | 20111004 | 20300427 |
表面電漿共振檢測裝置與方法 | I361275 | 中華民國 | 20120416 | 20120401 | 20271011 |
顯示器的檢測方法及其系統 | ZL200810187832.3 | 中國大陸 | 20120406 | 20120118 | 20281222 |
相位差檢測裝置 | 8,130,378 | 美國 | 20120402 | 20120306 | 20300523 |
檢測晶圓表面缺陷及微粒之光偏振量測裝置及方法 | I357628 | 中華民國 | 20120312 | 20120201 | 20270820 |
動態光源標準方法與裝置 | I356289 | 中華民國 | 20120118 | 20120111 | 20280313 |
反射式膜厚量測方法及光譜影像處理方法 | 8,059,282 | 美國 | 20111222 | 20111115 | 20291224 |
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置 | I354097 | 中華民國 | 20111218 | 20111211 | 20271230 |
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法 | ZL200910129961.1 | 中國大陸 | 20111003 | 20110615 | 20290409 |
相位差檢測裝置 | ZL200810177684.7 | 中國大陸 | 20111003 | 20110914 | 20281123 |
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統 | 7,971,492 | 美國 | 20111003 | 20110705 | 20290723 |
具防止熱對流機制之輻射標準裝置 | I346199 | 中華民國 | 20111003 | 20110801 | 20271129 |
雲紋圖像模擬裝置、方法與記錄媒體 | I345156 | 中華民國 | 20111003 | 20110711 | 20271227 |
標準輻射源 | 7,866,882 | 美國 | 20111003 | 20110111 | 20281126 |
光頻量測方法 | 4620701 | 日本 | 20111003 | 20101105 | 20270314 |
光學式奈米壓痕量測裝置及方法 | 7,845,214 | 美國 | 20110824 | 20101207 | 20290721 |
軟性組件的撓曲裝置 | ZL200810211479.8 | 中國大陸 | 20110504 | 20110406 | 20280925 |
光頻量測方法及裝置 | 4633103 | 日本 | 20110321 | 20101126 | 20271106 |
可檢測撓曲力量與電性之夾具 | 7,882,748 | 美國 | 20110308 | 20110208 | 20291002 |
光頻量測方法及裝置 | I336771 | 中華民國 | 20110214 | 20110201 | 20271015 |
具防止熱對流機制之輻射標準裝置 | 7,838,802 | 美國 | 20110131 | 20101123 | 20290723 |
光頻量測方法及裝置 | 7,830,526 | 美國 | 20110131 | 20101109 | 20290102 |
用於檢測生物晶片磁標誌陣列之檢測裝置及其方法 | I335429 | 中華民國 | 20110131 | 20110101 | 20270514 |
具防止熱對流機制的輻射標準裝置 | ZL200710199057.9 | 中國大陸 | 20101207 | 20101103 | 20271206 |
粒徑檢測裝置 | I319085 | 中華民國 | 20100209 | 20100101 | 20260718 |
霧度量測裝置、霧度量測方法 | I319811 | 中華民國 | 20100204 | 20100121 | 20261026 |
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法 | 7,621,173 | 美國 | 20100101 | 20091124 | 20271206 |
表面電漿共振檢測裝置與方法 | 7,593,110 | 美國 | 20091008 | 20090922 | 20280413 |
光電型電場訊號量測系統 | 7,583,866 | 美國 | 20091008 | 20090901 | 20270420 |
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 | I314641 | 中華民國 | 20090916 | 20090911 | 20261114 |
標準輻射源 | I312861 | 中華民國 | 20090901 | 20090801 | 20270212 |
光頻量測方法 | 7,564,561 | 美國 | 20090901 | 20090721 | 20280403 |
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法 | I310831 | 中華民國 | 20090715 | 20090611 | 20261114 |
光電型全立體角電磁場量測系統 | 7,528,358 | 美國 | 20090709 | 20090505 | 20270403 |
血壓計之檢查測試裝置 | I311049 | 中華民國 | 20090707 | 20090621 | 20261213 |
金屬材料的磁性量測裝置以及其方法 | I310841 | 中華民國 | 20090707 | 20090611 | 20261228 |
標準輻射源及其紅外線元件校驗系統 | I311193 | 中華民國 | 20090707 | 20090621 | 20261226 |
流量測量裝置及其制造方法 | ZL200510129617.4 | 中國大陸 | 20090108 | 20081203 | 20251212 |
味道感測組合物和其感測器及其感測系統 | I301542 | 中華民國 | 20081007 | 20081001 | 20250104 |
光頻量測方法 | I300471 | 中華民國 | 20081001 | 20080901 | 20261024 |
流量量測裝置及其製造方法 | 7,377,183 | 美國 | 20080811 | 20080527 | 20260921 |
濕度感測元件、裝置及其製造方法 | 7,270,002 | 美國 | 20080701 | 20070918 | 20240920 |
便攜式黑體爐 | ZL200410090981.X | 中國大陸 | 20080307 | 20080213 | 20241110 |
光電型電場訊號量測系統 | I286023 | 中華民國 | 20071001 | 20070821 | 20251229 |
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法 | I282858 | 中華民國 | 20070709 | 20070621 | 20251229 |
光電型全立體角電磁場量測系統 | I280374 | 中華民國 | 20070607 | 20070501 | 20251229 |
流量量測裝置及其製造方法 | I272374 | 中華民國 | 20070504 | 20070201 | 20251128 |
次毫米波輻射產生系統及其方法 | I278157 | 中華民國 | 20070418 | 20070401 | 20241223 |
可攜式黑體爐 | I276787 | 中華民國 | 20070414 | 20070321 | 20241019 |
可攜式黑體爐 | 7,148,450 | 美國 | 20070208 | 20061212 | 20251016 |
濕度感測元件、裝置及其製造方法 | 2407384 | 英國 | 20070101 | 20061122 | 20240627 |
使用光學共振腔量測氣體壓力與真空的方法 | 7,104,135 | 美國 | 20061110 | 20060912 | 20250128 |
濕度感測膜之材料與製作方法 | I263670 | 中華民國 | 20061020 | 20061011 | 20240920 |
量測孔徑修正係數之裝置及方法 | I263780 | 中華民國 | 20061019 | 20061011 | 20240323 |
物體端點量測系統 | I251074 | 中華民國 | 20060324 | 20060311 | 20241214 |
結合奈米壓痕系統及光學干涉法於量測材料性質之裝置及方法 | I247100 | 中華民國 | 20060207 | 20060111 | 20241102 |
電磁訊號量測裝置 | I247119 | 中華民國 | 20060123 | 20060111 | 20241026 |
非線性位移校正裝置及方法 | I243887 | 中華民國 | 20051212 | 20051121 | 20241125 |
濕度感測元件、裝置及其製造方法 | I242639 | 中華民國 | 20051116 | 20051101 | 20231020 |
亮度量測裝置及其量測方法 | I242637 | 中華民國 | 20051111 | 20051101 | 20241026 |
微力矩施加裝置 | I242641 | 中華民國 | 20051111 | 20051101 | 20231224 |
光學式角度編碼器 | I242636 | 中華民國 | 20051111 | 20051101 | 20231116 |
計量型光譜式橢圓偏光儀裝置 | I230784 | 中華民國 | 20050425 | 20050411 | 20231224 |
光纖式彈性體測力裝置 | I230785 | 中華民國 | 20050425 | 20050411 | 20231229 |
非連續曝光方法製作奈米電子元件 | I227516 | 中華民國 | 20050221 | 20050201 | 20231225 |
光頻遠距校正光纖雜訊消除之裝置及方法 | I227607 | 中華民國 | 20050221 | 20050201 | 20231225 |
高分子濕度感測膜之製作方法 | 207356 | 中華民國 | 20041124 | 20040621 | 20230824 |
酸鹼度感測電極 | I223063 | 中華民國 | 20041112 | 20041101 | 20211227 |
低頻校正系統及方法 | I221907 | 中華民國 | 20041019 | 20041011 | 20220801 |
微影像流速儀 | I221516 | 中華民國 | 20041015 | 20041001 | 20231111 |
接觸式位移感測器之校正系統 | 203498 | 中華民國 | 20041015 | 20040511 | 20230909 |
石英晶體微天平裝置 | I220687 | 中華民國 | 20040914 | 20040901 | 20230828 |
雙弦波訊號之計數 | 200108 | 中華民國 | 20040812 | 20040401 | 20211230 |
波長鎖定裝置及方法 | 194271 | 中華民國 | 20040512 | 20031211 | 20221226 |
固態電解質式氣體感測元件及氣體感測裝置 | 192089 | 中華民國 | 20040408 | 20031111 | 20221014 |
雷射穩頻之裝置及其方法 | 6,667,996 | 美國 | 20040211 | 20031223 | 20220710 |
衛生瓷器載重測試方法與裝置 | 182966 | 中華民國 | 20031212 | 20030701 | 20220924 |
傳輸介質延遲時間和斷裂位置之量測方法及裝置 | 175958 | 中華民國 | 20030825 | 20030311 | 20211125 |
可攜式雷射都卜勒流速量測探頭 | 169000 | 中華民國 | 20030527 | 20021111 | 20211227 |
濕度感測材料以及製備該濕度感測材料的方法 | 169161 | 中華民國 | 20030527 | 20021121 | 20211211 |
外差式光學頻譜分析裝置及其方法 | 166565 | 中華民國 | 20030414 | 20021011 | 20210426 |
微粒子流觀測裝置及觀測方法 | 163023 | 中華民國 | 20030117 | 20020821 | 20211230 |
雷射穩頻之裝置及其方法 | 162183 | 中華民國 | 20030103 | 20020801 | 20210426 |
滲透裝置之成型裝置及其成型方法 | 162204 | 中華民國 | 20030103 | 20020801 | 20211008 |
多範圍光纖反射式測微器 | 6,433,350 | 美國 | 20021011 | 20020813 | 20210509 |
一至八平行光束產生裝置 | 148563 | 中華民國 | 20020517 | 20011221 | 20201002 |
氣體動態及靜態濃度分析方法及其裝置 | 141002 | 中華民國 | 20020206 | 20010821 | 20201229 |
光纜線斷裂位置檢測方法與裝置 | 138794 | 中華民國 | 20011221 | 20010721 | 20200913 |