專利

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國家度量衡標準實驗室
TEL：(03)574-3705 曾莉莉經理

專利名稱	專利證號	國家	獲得證書日	專利起期	專利迄期
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	EP2863213	英國	20191212	20191127	20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	EP2863213	法國	20191212	20191127	20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	EP2863213	德國	20191212	20191127	20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	EP2863213	比利時	20191212	20191127	20341013
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	EP2863213	荷蘭	20191212	20191127	20341013
光學共振腔的腔長量測裝置	ZL201610461302.8	中國大陸	20191127	20191018	20360622
測距裝置及其測距方法	10,101,451	美國	20181115	20181016	20361207
光學共振腔之腔長量測裝置	10,041,782	美國	20181016	20180807	20351227
熱探針	9,891,180	美國	20180321	20180213	20360519
增加穿透式小角度X光散射的散射強度的裝置	ZL201410544535.5	中國大陸	20180321	20180126	20341014
雷射測距裝置	I616646	中華民國	20180316	20180301	20370223
測距裝置及其測距方法	I595252	中華民國	20170904	20170811	20360509
熱探針	I570412	中華民國	20170302	20170211	20360103
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	9,297,772	美國	20161130	20160329	20340524
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	6006768	日本	20161017	20160916	20341014
光頻量測方法及裝置	EP2051053	法國	20161004	20160907	20280117
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	I538565	中華民國	20160616	20160611	20341013
光學式奈米拉伸測試裝置及其方法	I477775	中華民國	20150408	20150321	20281225
干擾量測系統與干擾量測方法	I478576	中華民國	20150408	20150321	20311219
光學量測裝置	I476391	中華民國	20150407	20150311	20311101
光學測量裝置	ZL201210421089.X	中國大陸	20150311	20150121	20321028
光學式奈米壓痕量測裝置及其方法	I470221	中華民國	20150224	20150121	20281225
基於靜電式位移偵測與致動技術之力量量測裝置與方法	8,800,371	美國	20141205	20140812	20321207
測定液晶參數的方法及裝置	ZL201010610643.X	中國大陸	20141023	20140924	20301227
光譜影像處理方法	I454655	中華民國	20141022	20141001	20280424
液晶預傾角量測系統與方法	I437220	中華民國	20140520	20140511	20291026
測定液晶參數的方法及裝置	I432715	中華民國	20140415	20140401	20301215
定位裝置	I431636	中華民國	20140407	20140321	20301212
測定液晶參數的方法及裝置	10-1374328	韓國	20140403	20140305	20310103
缺陷量測裝置和缺陷量測方法	I426263	中華民國	20140303	20140211	20301214
二維亮度色度計的校正裝置	I408698	中華民國	20130930	20130911	20291214
可調式標準低亮度裝置	I408345	中華民國	20130917	20130911	20291209
光學特性量測裝置	I408352	中華民國	20130917	20130911	20291020
熱流情境的控制裝置及方法	I401401	中華民國	20130729	20130711	20300715
影像處理控制系統	I394453	中華民國	20130429	20130421	20271226
垂直度量測方法及其系統	I392845	中華民國	20130416	20130411	20291209
濾光鏡頭、燈具及燈具的操作方法	I387708	中華民國	20130401	20130301	20291213
標準階調特性光源提供裝置及方法	I387734	中華民國	20130318	20130301	20281224
反射式膜厚量測方法	I386617	中華民國	20130308	20130221	20280424
動態模糊標準產生器及其產生方法	I387342	中華民國	20130301	20130221	20281218
液晶預傾角量測系統與方法	ZL200910221056.9	中國大陸	20130131	20121010	20291108
可檢測撓曲力量與電性的夾具	ZL200810181063.6	中國大陸	20130131	20121010	20281119
可檢測撓曲力量與電性之夾具	I377343	中華民國	20121203	20121121	20281110
雲紋特徵量化裝置及其操作方法	I375792	中華民國	20121112	20121101	20280724
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法	I375033	中華民國	20121102	20121021	20290401
吸附式撓曲裝置及其方法	I374263	中華民國	20121019	20121011	20280427
影像處理控制系統	8,212,931	美國	20121019	20120703	20310501
洩壓裝置及其洩壓元件之製造方法以及應用該洩壓元件之血壓計	I371260	中華民國	20120913	20120901	20280324
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統	I370248	中華民國	20120821	20120811	20280501
軟性元件之撓曲裝置	I367324	中華民國	20120718	20120701	20280914
軟性元件撓曲特性的檢測方法及其系統	ZL200810099009.7	中國大陸	20120716	20120627	20280511
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置	8,186,840	美國	20120613	20120529	20310329
全方位落體偵測器	8,028,643	美國	20120417	20111004	20300427
表面電漿共振檢測裝置與方法	I361275	中華民國	20120416	20120401	20271011
顯示器的檢測方法及其系統	ZL200810187832.3	中國大陸	20120406	20120118	20281222
相位差檢測裝置	8,130,378	美國	20120402	20120306	20300523
檢測晶圓表面缺陷及微粒之光偏振量測裝置及方法	I357628	中華民國	20120312	20120201	20270820
動態光源標準方法與裝置	I356289	中華民國	20120118	20120111	20280313
反射式膜厚量測方法及光譜影像處理方法	8,059,282	美國	20111222	20111115	20291224
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置	I354097	中華民國	20111218	20111211	20271230
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法	ZL200910129961.1	中國大陸	20111003	20110615	20290409
相位差檢測裝置	ZL200810177684.7	中國大陸	20111003	20110914	20281123
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統	7,971,492	美國	20111003	20110705	20290723
具防止熱對流機制之輻射標準裝置	I346199	中華民國	20111003	20110801	20271129
雲紋圖像模擬裝置、方法與記錄媒體	I345156	中華民國	20111003	20110711	20271227
標準輻射源	7,866,882	美國	20111003	20110111	20281126
光頻量測方法	4620701	日本	20111003	20101105	20270314
光學式奈米壓痕量測裝置及方法	7,845,214	美國	20110824	20101207	20290721
軟性組件的撓曲裝置	ZL200810211479.8	中國大陸	20110504	20110406	20280925
光頻量測方法及裝置	4633103	日本	20110321	20101126	20271106
可檢測撓曲力量與電性之夾具	7,882,748	美國	20110308	20110208	20291002
光頻量測方法及裝置	I336771	中華民國	20110214	20110201	20271015
具防止熱對流機制之輻射標準裝置	7,838,802	美國	20110131	20101123	20290723
光頻量測方法及裝置	7,830,526	美國	20110131	20101109	20290102
用於檢測生物晶片磁標誌陣列之檢測裝置及其方法	I335429	中華民國	20110131	20110101	20270514
具防止熱對流機制的輻射標準裝置	ZL200710199057.9	中國大陸	20101207	20101103	20271206
粒徑檢測裝置	I319085	中華民國	20100209	20100101	20260718
霧度量測裝置、霧度量測方法	I319811	中華民國	20100204	20100121	20261026
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法	7,621,173	美國	20100101	20091124	20271206
表面電漿共振檢測裝置與方法	7,593,110	美國	20091008	20090922	20280413
光電型電場訊號量測系統	7,583,866	美國	20091008	20090901	20270420
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法	I314641	中華民國	20090916	20090911	20261114
標準輻射源	I312861	中華民國	20090901	20090801	20270212
光頻量測方法	7,564,561	美國	20090901	20090721	20280403
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法	I310831	中華民國	20090715	20090611	20261114
光電型全立體角電磁場量測系統	7,528,358	美國	20090709	20090505	20270403
血壓計之檢查測試裝置	I311049	中華民國	20090707	20090621	20261213
金屬材料的磁性量測裝置以及其方法	I310841	中華民國	20090707	20090611	20261228
標準輻射源及其紅外線元件校驗系統	I311193	中華民國	20090707	20090621	20261226
流量測量裝置及其制造方法	ZL200510129617.4	中國大陸	20090108	20081203	20251212
味道感測組合物和其感測器及其感測系統	I301542	中華民國	20081007	20081001	20250104
光頻量測方法	I300471	中華民國	20081001	20080901	20261024
流量量測裝置及其製造方法	7,377,183	美國	20080811	20080527	20260921
濕度感測元件、裝置及其製造方法	7,270,002	美國	20080701	20070918	20240920
便攜式黑體爐	ZL200410090981.X	中國大陸	20080307	20080213	20241110
光電型電場訊號量測系統	I286023	中華民國	20071001	20070821	20251229
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法	I282858	中華民國	20070709	20070621	20251229
光電型全立體角電磁場量測系統	I280374	中華民國	20070607	20070501	20251229
流量量測裝置及其製造方法	I272374	中華民國	20070504	20070201	20251128
次毫米波輻射產生系統及其方法	I278157	中華民國	20070418	20070401	20241223
可攜式黑體爐	I276787	中華民國	20070414	20070321	20241019
可攜式黑體爐	7,148,450	美國	20070208	20061212	20251016
濕度感測元件、裝置及其製造方法	2407384	英國	20070101	20061122	20240627
使用光學共振腔量測氣體壓力與真空的方法	7,104,135	美國	20061110	20060912	20250128
濕度感測膜之材料與製作方法	I263670	中華民國	20061020	20061011	20240920
量測孔徑修正係數之裝置及方法	I263780	中華民國	20061019	20061011	20240323
物體端點量測系統	I251074	中華民國	20060324	20060311	20241214
結合奈米壓痕系統及光學干涉法於量測材料性質之裝置及方法	I247100	中華民國	20060207	20060111	20241102
電磁訊號量測裝置	I247119	中華民國	20060123	20060111	20241026
非線性位移校正裝置及方法	I243887	中華民國	20051212	20051121	20241125
濕度感測元件、裝置及其製造方法	I242639	中華民國	20051116	20051101	20231020
亮度量測裝置及其量測方法	I242637	中華民國	20051111	20051101	20241026
微力矩施加裝置	I242641	中華民國	20051111	20051101	20231224
光學式角度編碼器	I242636	中華民國	20051111	20051101	20231116
計量型光譜式橢圓偏光儀裝置	I230784	中華民國	20050425	20050411	20231224
光纖式彈性體測力裝置	I230785	中華民國	20050425	20050411	20231229
非連續曝光方法製作奈米電子元件	I227516	中華民國	20050221	20050201	20231225
光頻遠距校正光纖雜訊消除之裝置及方法	I227607	中華民國	20050221	20050201	20231225
高分子濕度感測膜之製作方法	207356	中華民國	20041124	20040621	20230824
酸鹼度感測電極	I223063	中華民國	20041112	20041101	20211227
低頻校正系統及方法	I221907	中華民國	20041019	20041011	20220801
微影像流速儀	I221516	中華民國	20041015	20041001	20231111
接觸式位移感測器之校正系統	203498	中華民國	20041015	20040511	20230909
石英晶體微天平裝置	I220687	中華民國	20040914	20040901	20230828
雙弦波訊號之計數	200108	中華民國	20040812	20040401	20211230
波長鎖定裝置及方法	194271	中華民國	20040512	20031211	20221226
固態電解質式氣體感測元件及氣體感測裝置	192089	中華民國	20040408	20031111	20221014
雷射穩頻之裝置及其方法	6,667,996	美國	20040211	20031223	20220710
衛生瓷器載重測試方法與裝置	182966	中華民國	20031212	20030701	20220924
傳輸介質延遲時間和斷裂位置之量測方法及裝置	175958	中華民國	20030825	20030311	20211125
可攜式雷射都卜勒流速量測探頭	169000	中華民國	20030527	20021111	20211227
濕度感測材料以及製備該濕度感測材料的方法	169161	中華民國	20030527	20021121	20211211
外差式光學頻譜分析裝置及其方法	166565	中華民國	20030414	20021011	20210426
微粒子流觀測裝置及觀測方法	163023	中華民國	20030117	20020821	20211230
雷射穩頻之裝置及其方法	162183	中華民國	20030103	20020801	20210426
滲透裝置之成型裝置及其成型方法	162204	中華民國	20030103	20020801	20211008
多範圍光纖反射式測微器	6,433,350	美國	20021011	20020813	20210509
一至八平行光束產生裝置	148563	中華民國	20020517	20011221	20201002
傳輸線延遲時間檢測方法與裝置	148606	中華民國	20020517	20011211	20200614
氣體動態及靜態濃度分析方法及其裝置	141002	中華民國	20020206	20010821	20201229
光纜線斷裂位置檢測方法與裝置	138794	中華民國	20011221	20010721	20200913
多範圍光纖反射式測微器	134986	中華民國	20011029	20010516	20200607

聯絡地址：30011 新竹市光復路二段321號16館 Tel：03-573-2243、03-573-2244

收/取件時間：週一至週五　上午 09:00 ~ 12:00　下午01:00 ~ 04:00 (國定及例假日除外)

網站最新更新日期 : 2020/07/01

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