專利

專利授權洽詢窗口

國家度量衡標準實驗室
TEL：(03)573-2225 沈元斐經理

專利名稱	專利證號	國家	獲得證書日	專利起期	專利迄期
測距裝置及其測距方法	10,101,451	美國	20181115	20181016	20361207
光學共振腔之腔長量測裝置	10,041,782	美國	20181016	20180807	20351227
熱探針	9,891,180	美國	20180321	20180213	20360519
增加穿透式小角度X光散射的散射強度的裝置	ZL201410544535.5	中國大陸	20180321	20180126	20341014
雷射測距裝置	I616646	中華民國	20180316	20180301	20370223
測距裝置及其測距方法	I595252	中華民國	20170904	20170811	20360509
熱探針	I570412	中華民國	20170302	20170211	20360103
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	9,297,772	美國	20161130	20160329	20340524
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	6006768	日本	20161017	20160916	20341014
光頻量測方法及裝置	EP2051053	法國	20161004	20160907	20280117
增加穿透式小角度X光散射之散射強度的裝置	I538565	中華民國	20160616	20160611	20341013
光學式奈米拉伸測試裝置及其方法	I477775	中華民國	20150408	20150321	20281225
干擾量測系統與干擾量測方法	I478576	中華民國	20150408	20150321	20311219
光學量測裝置	I476391	中華民國	20150407	20150311	20311101
光學測量裝置	ZL201210421089.X	中國大陸	20150311	20150121	20321028
光學式奈米壓痕量測裝置及其方法	I470221	中華民國	20150224	20150121	20281225
基於靜電式位移偵測與致動技術之力量量測裝置與方法	8,800,371	美國	20141205	20140812	20321207
測定液晶參數的方法及裝置	ZL201010610643.X	中國大陸	20141023	20140924	20301227
光譜影像處理方法	I454655	中華民國	20141022	20141001	20280424
液晶預傾角量測系統與方法	I437220	中華民國	20140520	20140511	20291026
測定液晶參數的方法及裝置	I432715	中華民國	20140415	20140401	20301215
定位裝置	I431636	中華民國	20140407	20140321	20301212
測定液晶參數的方法及裝置	10-1374328	韓國	20140403	20140305	20310103
缺陷量測裝置和缺陷量測方法	I426263	中華民國	20140303	20140211	20301214
二維亮度色度計的校正裝置	I408698	中華民國	20130930	20130911	20291214
可調式標準低亮度裝置	I408345	中華民國	20130917	20130911	20291209
光學特性量測裝置	I408352	中華民國	20130917	20130911	20291020
熱流情境的控制裝置及方法	I401401	中華民國	20130729	20130711	20300715
影像處理控制系統	I394453	中華民國	20130429	20130421	20271226
垂直度量測方法及其系統	I392845	中華民國	20130416	20130411	20291209
濾光鏡頭、燈具及燈具的操作方法	I387708	中華民國	20130401	20130301	20291213
標準階調特性光源提供裝置及方法	I387734	中華民國	20130318	20130301	20281224
反射式膜厚量測方法	I386617	中華民國	20130308	20130221	20280424
動態模糊標準產生器及其產生方法	I387342	中華民國	20130301	20130221	20281218
液晶預傾角量測系統與方法	ZL200910221056.9	中國大陸	20130131	20121010	20291108
可檢測撓曲力量與電性的夾具	ZL200810181063.6	中國大陸	20130131	20121010	20281119
可檢測撓曲力量與電性之夾具	I377343	中華民國	20121203	20121121	20281110
雲紋特徵量化裝置及其操作方法	I375792	中華民國	20121112	20121101	20280724
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法	I375033	中華民國	20121102	20121021	20290401
吸附式撓曲裝置及其方法	I374263	中華民國	20121019	20121011	20280427
影像處理控制系統	8,212,931	美國	20121019	20120703	20310501
洩壓裝置及其洩壓元件之製造方法以及應用該洩壓元件之血壓計	I371260	中華民國	20120913	20120901	20280324
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統	I370248	中華民國	20120821	20120811	20280501
軟性元件之撓曲裝置	I367324	中華民國	20120718	20120701	20280914
軟性元件撓曲特性的檢測方法及其系統	ZL200810099009.7	中國大陸	20120716	20120627	20280511
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置	8,186,840	美國	20120613	20120529	20310329
全方位落體偵測器	8,028,643	美國	20120417	20111004	20300427
表面電漿共振檢測裝置與方法	I361275	中華民國	20120416	20120401	20271011
顯示器的檢測方法及其系統	ZL200810187832.3	中國大陸	20120406	20120118	20281222
相位差檢測裝置	8,130,378	美國	20120402	20120306	20300523
檢測晶圓表面缺陷及微粒之光偏振量測裝置及方法	I357628	中華民國	20120312	20120201	20270820
動態光源標準方法與裝置	I356289	中華民國	20120118	20120111	20280313
反射式膜厚量測方法及光譜影像處理方法	8,059,282	美國	20111222	20111115	20291224
提供標準發光二極體光源之標準光源裝置	I354097	中華民國	20111218	20111211	20271230
全方位落體偵測器與全方位落體偵測方法	ZL200910129961.1	中國大陸	20111003	20110615	20290409
相位差檢測裝置	ZL200810177684.7	中國大陸	20111003	20110914	20281123
軟性元件撓曲特性之檢測方法及其系統	7,971,492	美國	20111003	20110705	20290723
具防止熱對流機制之輻射標準裝置	I346199	中華民國	20111003	20110801	20271129
雲紋圖像模擬裝置、方法與記錄媒體	I345156	中華民國	20111003	20110711	20271227
標準輻射源	7,866,882	美國	20111003	20110111	20281126
光頻量測方法	4620701	日本	20111003	20101105	20270314
光學式奈米壓痕量測裝置及方法	7,845,214	美國	20110824	20101207	20290721
軟性組件的撓曲裝置	ZL200810211479.8	中國大陸	20110504	20110406	20280925
光頻量測方法及裝置	4633103	日本	20110321	20101126	20271106
可檢測撓曲力量與電性之夾具	7,882,748	美國	20110308	20110208	20291002
光頻量測方法及裝置	I336771	中華民國	20110214	20110201	20271015
具防止熱對流機制之輻射標準裝置	7,838,802	美國	20110131	20101123	20290723
光頻量測方法及裝置	7,830,526	美國	20110131	20101109	20290102
用於檢測生物晶片磁標誌陣列之檢測裝置及其方法	I335429	中華民國	20110131	20110101	20270514
具防止熱對流機制的輻射標準裝置	ZL200710199057.9	中國大陸	20101207	20101103	20271206
粒徑檢測裝置	I319085	中華民國	20100209	20100101	20260718
霧度量測裝置、霧度量測方法	I319811	中華民國	20100204	20100121	20261026
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法	7,621,173	美國	20100101	20091124	20271206
表面電漿共振檢測裝置與方法	7,593,110	美國	20091008	20090922	20280413
光電型電場訊號量測系統	7,583,866	美國	20091008	20090901	20270420
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法	I314641	中華民國	20090916	20090911	20261114
標準輻射源	I312861	中華民國	20090901	20090801	20270212
光頻量測方法	7,564,561	美國	20090901	20090721	20280403
偏振光軸檢測裝置及其檢測方法	I310831	中華民國	20090715	20090611	20261114
光電型全立體角電磁場量測系統	7,528,358	美國	20090709	20090505	20270403
血壓計之檢查測試裝置	I311049	中華民國	20090707	20090621	20261213
金屬材料的磁性量測裝置以及其方法	I310841	中華民國	20090707	20090611	20261228
標準輻射源及其紅外線元件校驗系統	I311193	中華民國	20090707	20090621	20261226
流量測量裝置及其制造方法	ZL200510129617.4	中國大陸	20090108	20081203	20251212
味道感測組合物和其感測器及其感測系統	I301542	中華民國	20081007	20081001	20250104
光頻量測方法	I300471	中華民國	20081001	20080901	20261024
流量量測裝置及其製造方法	7,377,183	美國	20080811	20080527	20260921
濕度感測元件、裝置及其製造方法	7,270,002	美國	20080701	20070918	20240920
便攜式黑體爐	ZL200410090981.X	中國大陸	20080307	20080213	20241110
光電型電場訊號量測系統	I286023	中華民國	20071001	20070821	20251229
奈米壓痕超音波量測系統及奈米壓痕超音波量測方法	I282858	中華民國	20070709	20070621	20251229
光電型全立體角電磁場量測系統	I280374	中華民國	20070607	20070501	20251229
流量量測裝置及其製造方法	I272374	中華民國	20070504	20070201	20251128
次毫米波輻射產生系統及其方法	I278157	中華民國	20070418	20070401	20241223
可攜式黑體爐	I276787	中華民國	20070414	20070321	20241019
可攜式黑體爐	7,148,450	美國	20070208	20061212	20251016
濕度感測元件、裝置及其製造方法	2407384	英國	20070101	20061122	20240627
使用光學共振腔量測氣體壓力與真空的方法	7,104,135	美國	20061110	20060912	20250128
濕度感測膜之材料與製作方法	I263670	中華民國	20061020	20061011	20240920
量測孔徑修正係數之裝置及方法	I263780	中華民國	20061019	20061011	20240323
物體端點量測系統	I251074	中華民國	20060324	20060311	20241214
結合奈米壓痕系統及光學干涉法於量測材料性質之裝置及方法	I247100	中華民國	20060207	20060111	20241102
電磁訊號量測裝置	I247119	中華民國	20060123	20060111	20241026
非線性位移校正裝置及方法	I243887	中華民國	20051212	20051121	20241125
濕度感測元件、裝置及其製造方法	I242639	中華民國	20051116	20051101	20231020
亮度量測裝置及其量測方法	I242637	中華民國	20051111	20051101	20241026
微力矩施加裝置	I242641	中華民國	20051111	20051101	20231224
光學式角度編碼器	I242636	中華民國	20051111	20051101	20231116
計量型光譜式橢圓偏光儀裝置	I230784	中華民國	20050425	20050411	20231224
光纖式彈性體測力裝置	I230785	中華民國	20050425	20050411	20231229
非連續曝光方法製作奈米電子元件	I227516	中華民國	20050221	20050201	20231225
光頻遠距校正光纖雜訊消除之裝置及方法	I227607	中華民國	20050221	20050201	20231225
高分子濕度感測膜之製作方法	207356	中華民國	20041124	20040621	20230824
酸鹼度感測電極	I223063	中華民國	20041112	20041101	20211227
低頻校正系統及方法	I221907	中華民國	20041019	20041011	20220801
微影像流速儀	I221516	中華民國	20041015	20041001	20231111
接觸式位移感測器之校正系統	203498	中華民國	20041015	20040511	20230909
石英晶體微天平裝置	I220687	中華民國	20040914	20040901	20230828
雙弦波訊號之計數	200108	中華民國	20040812	20040401	20211230
波長鎖定裝置及方法	194271	中華民國	20040512	20031211	20221226
固態電解質式氣體感測元件及氣體感測裝置	192089	中華民國	20040408	20031111	20221014
臭氧濃度之量測系統及方法	192050	中華民國	20040408	20031101	20190629
雷射穩頻之裝置及其方法	6,667,996	美國	20040211	20031223	20220710
衛生瓷器載重測試方法與裝置	182966	中華民國	20031212	20030701	20220924
傳輸介質延遲時間和斷裂位置之量測方法及裝置	175958	中華民國	20030825	20030311	20211125
膠捲式BGA銲錫球之高度檢測裝置	199967	中華民國	20030701	20030111	20121229
可攜式雷射都卜勒流速量測探頭	169000	中華民國	20030527	20021111	20211227
濕度感測材料以及製備該濕度感測材料的方法	169161	中華民國	20030527	20021121	20211211
外差式光學頻譜分析裝置及其方法	166565	中華民國	20030414	20021011	20210426
微粒子流觀測裝置及觀測方法	163023	中華民國	20030117	20020821	20211230
滲透裝置之成型裝置及其成型方法	162204	中華民國	20030103	20020801	20211008
雷射穩頻之裝置及其方法	162183	中華民國	20030103	20020801	20210426
主動式動態強制循環之長管清洗裝置	193499	中華民國	20021224	20020721	20131125
光路對稱式之雷射穩頻裝置	191520	中華民國	20021031	20020601	20130426
多範圍光纖反射式測微器	6,433,350	美國	20021011	20020813	20210509
一至八平行光束產生裝置	148563	中華民國	20020517	20011221	20201002
傳輸線延遲時間檢測方法與裝置	148606	中華民國	20020517	20011211	20200614
共軛光路雷射干涉儀	182628	中華民國	20020402	20011021	20121229
氣體動態及靜態濃度分析方法及其裝置	141002	中華民國	20020206	20010821	20201229
雷射都卜勒流速儀之校正裝置	179352	中華民國	20020124	20010821	20121229
厚薄規	6,279,241	美國	20011228	20010828	20190705
光纜線斷裂位置檢測方法與裝置	138794	中華民國	20011221	20010721	20200913
壓控振盪器自由振盪時直流偏壓電源雜訊抑制方法	137812	中華民國	20011207	20010711	20200312
分量校正電容位移傳感器之方法與系統	136061	中華民國	20011113	20010607	20190629
多範圍光纖反射式測微器	134986	中華民國	20011029	20010516	20200607
靜砝碼槓桿式活動地秤校正機	175314	中華民國	20011029	20010607	20120502
金屬蒸汽雷射穩頻裝置	175023	中華民國	20011025	20010516	20110629
外共振腔式噴泉原子鐘	174883	中華民國	20011023	20010516	20110629
電纜線斷裂位置檢測方法與裝置	130179	中華民國	20010824	20010401	20190629
地磅校正檢測方法	128415	中華民國	20010713	20010221	20200313
雷射穩頻裝置與方法	126223	中華民國	20010601	20010101	20190629
雷射穩頻裝置	166804	中華民國	20010515	20001121	20110629
靜態啟動結束法流量計校正器	122373	中華民國	20010508	20000921	20180628
接觸式與非接觸式溫度計兩用之溫度校正裝置	6,193,411	美國	20010321	20010227	20190608
全行程高解析度PZT驅動裝置	119681	中華民國	20010109	20000811	20180917
電源電壓自動轉換裝置	161256	中華民國	20001113	20000611	20100628
微小化外腔式二極體雷射頭機構	161127	中華民國	20001109	20000621	20090512
陣列噴嘴流量標準裝置	160980	中華民國	20001103	20000611	20110908
熱原子束產生裝置	158869	中華民國	20000906	20000421	20100628
接觸式與非接觸式溫度計兩用之溫度校正裝置	154662	中華民國	20000505	19991211	20110224
厚薄規	152633	中華民國	20000306	19990921	20110302
輻射溫度計之瞄準裝置	152624	中華民國	20000306	19991001	20101229
全反射小角度測量裝置	152354	中華民國	20000225	19990911	20090508
捕波偵測器	151653	中華民國	20000128	19990821	20101229
黑體輻射腔	151621	中華民國	20000128	19990821	20100628
全反射外差干涉術	5,946,096	美國	19990831	19990831	20170706
全反射外差干涉術	102724	中華民國	19990830	19990421	20170508
光學式真空壓力量測系統	5,908,988	美國	19990601	19990601	20171111
直角規絕對標準量測儀	100364	中華民國	19990520	19981201	20180114
50噸高準確度荷重元測試裝置	137212	中華民國	19981027	19980611	20080612
光學式真空壓力量測系統	94647	中華民國	19980915	19980511	20170520
高解析度計時電路	132953	中華民國	19980522	19980111	20090108
量化電流產生系統	91019	中華民國	19980323	19971111	20161001
同步積分式直流微電流放大器	128325	中華民國	19980107	19970821	20081001
熱釋電型感測器信號轉換電路	127857	中華民國	19971224	19970811	20080401
等溫式微卡路里計微波功率自動量測方法及裝置	88715	中華民國	19971208	19970621	20160708
多用途計量器校正機	125675	中華民國	19971103	19970601	20071015
非球面輪廓量測儀	124145	中華民國	19970915	19970501	20071204
標準捲尺校正系統	123335	中華民國	19970819	19970411	20081031
液柱壓力計自動化量測裝置	123024	中華民國	19970808	19970321	20080912
高壓定容積閥	122361	中華民國	19970723	19970311	20080516
光學干涉式端對端量測儀	121714	中華民國	19970702	19970221	20080508
自動化靜法碼力標準機	121086	中華民國	19970613	19970201	20071204
可程式可變電容器	118930	中華民國	19970410	19961121	20080516
行走式壓電元件精密驅動裝置	82589	中華民國	19970327	19961111	20150419
高精確度二維壓電元件移動台	117573	中華民國	19970227	19961001	20070425
斑點相位干涉儀	81109	中華民國	19970128	19960901	20151023
數位類比轉換器突波消除裝置	116509	中華民國	19970121	19960821	20080201
自動化測力儀	115873	中華民國	19961224	19960801	20080208
木材水份含量檢測用探針	115043	中華民國	19961129	19960721	20061109
高精確度電容電橋比率與線性自動化校正器	79828	中華民國	19961126	19960711	20151130
刻線尺線距自動量測儀	112765	中華民國	19960918	19960511	20070412
固態水份含量標準品製備法	77794	中華民國	19960819	19960411	20141016
積分式高壓分壓器自動校正方法	77349	中華民國	19960718	19960301	20140818
光學高溫計校正裝置	76724	中華民國	19960610	19960201	20150412
同時製備及分析確認標準氣體產生裝置	108704	中華民國	19960429	19951211	20060929
高解析度相位法干涉儀	72914	中華民國	19951212	19950811	20140906
電阻電橋式高壓分壓器自動校正裝置	72857	中華民國	19951208	19950721	20140601
數位電子式荷重元塑膠硬度計校正機	100163	中華民國	19950821	19950411	20060307
雙面麵包板	96357	中華民國	19950420	19941001	20060414
伺服式電子水平儀	96256	中華民國	19950417	19941211	20060809
活動地秤校正機	94648	中華民國	19950227	19941011	20060307
波長掃描式高反射率反射鏡測試裝置	94622	中華民國	19950227	19941011	20051222
低阻快速電子開關	5,387,802	美國	19950207	19950207	20130504
高耐壓電源追跡式精密電子分壓器	67984	中華民國	19950126	19940821	20130421
低阻快速電子開關	67828	中華民國	19950118	19940901	20130421
按鍵檢測裝置	92676	中華民國	19941231	19940721	20051123
可調整刺入深度之木材水份檢測裝置	90282	中華民國	19940908	19940501	20050203
高精度數位式微差壓計	88186	中華民國	19940420	19931211	20031210
自動化等色溫光強度標準燈製備裝置及方法	5,302,883	美國	19940412	19940412	20121022
自動化等色溫光強度標準燈製備裝置及方法	60560	中華民國	19930520	19930111	20120519
電腦滑鼠致動裝置檢測裝置	79198	中華民國	19930506	19921221	20021220

聯絡地址：30011 新竹市光復路二段321號16館 Tel：03-573-2243、03-573-2244

收/取件時間：週一至週五　上午 09:00 ~ 12:00　下午01:00 ~ 04:00 (國定及例假日除外)

網站最新更新日期 : 2019/04/18

文章瀏覽點擊數: 8,982,679