本報告為低溫絕對輻射系統光偵測器分光光輻射功率響應評估報告，文中詳敘述本中心已經建立完成之分光光輻射功率響應絕對標準。目前此一項絕對標準是以低溫絕對輻射量測系統（Absolute Cryogenic Radiometer）為主要量測系統，利用置換法，分別以低溫絕對輻射計讀取分光儀單色光的光輻射功率值，再以待校標準光偵測器讀取同一單色光，則待校標準件在此波長下的絕對響應即等於待校標準件輸出訊號與低溫絕對輻射計光輻射功率讀值得比值。依照上述方法量測待校標準件在不同波長下的絕對響應值，最後便可得到待校標準件在整個量測波段下的絕對分光光輻射功率響應。為光偵測器分光光輻射功率響應之最高量測標準。目前本系統已評估之矽光偵測器量測波長範圍在350nm至1100nm之間，信賴水準為95%之相對擴充不確定度為0.4%至14.4%；鍺光偵測器量測波長範圍在800nm至1700nm之間，相對擴充不確定度為0.24%至2.43%。詳細不確定度來源與估算方法請參閱本報告第三章。