3月3日，德國聯邦物理技術研究院（Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTB）專家Dr. Gaoliang Dai（AG 5.23 "3D Nanometrology" 項目負責人）蒞臨本實驗室，並進行題為「Overview of AFM-based techniques for accurate and traceable surface and nanodimensional metrology」的演講。會後，Dr. Dai還參觀本實驗室的奈米計量、自動光學檢測、階高以及線軌多自由度量測技術等設備。

Dr. Dai在原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）計量技術領域已有數十年的研究經驗。藉由演講，Dr. Dai分享利用原子力顯微鏡（AFM）進行空間分辨率量測的技術，並探討了精確且可追溯的表面形貌量測方法，以及測量材料表面粗糙度、摩擦力等奈米尺度特性的研究。本實驗室在半導體檢測與量測、工具機尺寸量測及奈米計量等領域提出了多項熱烈討論，並期待未來有更多合作的機會。

德國聯邦物理技術研究院專家Dr. Gaoliang Dai (圖左)參觀奈米量測實驗室