| 項次 | 技資名稱 | 中文摘要 |
| 1 | 探索線圈校正程序 | 為了能提供探索線圈的校正服務，我們結合現有的核磁共振磁通密度系統、磁通量測系統，並利用法拉第定律來完成探索線圈面積圈數值(Area Turns)的量測。其作法是將待校探索線圈連接於校正過之磁通計上，然後與核磁共振高斯計探頭同時置於電磁鐵的磁極問，藉由改變磁場大小的變化即可在磁通計上感應一磁通量，利用所量得的數據便可推算出面積圈數值。本校正程序適用於探索線圈面積圈數的校正，其範圍為:0.001 m2-turns 至 1 m2-turns。 |
| 2 | 微波散射參數及阻抗系統網路元件校正程序 | 本報告敘述微波散射參數及阻抗量測系統(系統代碼U02)校正微波元件的程序。系統以向量網路分析儀(Vector Network Analyzer, VNA)為主要的量測儀器，本系統所能提供的參數為S11、S22、S21、S12四種散射參數，提供校正Type N接頭的元件之頻率範圍為10 MHz至18 GHz，對3.5 mm接頭的元件為10 MHz至26.5 GHz，對2.92 mm接頭的元件為45 MHz至40 GHz，反射係數量測範圍為0至1，透射係數量測範圍為 - 60 dB至0 dB。 由於Type B的標準不確定度視待校件不同而有差異，因此本系統量測的擴充不確定度，仍須視待校件的特性、所使用的量測儀器、接頭型式、頻率與待校件之散射參數值而定，當涵蓋因子(Coverage Factor)為2，信賴水準約為95 ％，擴充不確定度如下所述。 |
| 3 | 維克氏硬度標準機系統評估報告 | 本系統評估隸屬於維克氏硬度原級標準機，主要目的是為了維持本系統評估隸屬於維克氏硬度原級標準機，主要目的是為了維持國內Vickers硬度參考標準，並提供國內Vickers硬度的追溯管道。本系統採用ISO ”Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, 1995” 中所建議的方式進行評估，並配合量測品保的規劃，藉由查核件及管制圖之手法確保系統的穩定與可信度。 由評估結果可歸納出本系統的量測範圍及其相對擴充不確定度(最佳校正能力)如下： 本文件說明維克氏硬度原級標準機校正維克氏硬度標準塊之不確定度評估，主要目的是為了維持國內Vickers硬度參考標準，並提供國內Vickers硬度的追溯。本系統採用ISO /IEC Guide 98-3: 2008 中所建議的方式進行評估，並配合量測品保的規劃，藉由查核件及管制圖之手法確保系統的穩定與可信度。 由評估結果可歸納出本系統的量測範圍及其相對擴充不確定度(涵蓋因子為2，相對應約95 ％ 之信賴水準)： 量測範圍 : 100 HV ~ 900 HV 使用荷重 : 19.6 N ~ 294.2 N 相對擴充不確定度 : 3.2 ％ |
| 4 | 磁通計校正程序 | 本技術資料敘述磁通量測系統校正電子積分器式磁通計之程序，適用於磁通量測範圍為0.0001 Wb至2 Wb之磁通計校正。文中詳細敘述校正步驟、資料分析方法及報告格式範例，以作為執行校正者之操作依據。 |
| 5 | 磁通計校正系統評估報告 | 依據電磁學中法拉第定律，當一線圈置於變化的磁場中，將會在線圈的兩端點產生一電動勢，根據其電動勢之大小及時間之長短即可計算出磁通量；若已知磁通量之變化，同樣的也可求得探索線圈之面積圈數值。 磁通計基本上是以電子積分器為主要構造，量測磁通變化量的方法就是將電壓與時間積分的結果顯示出來，其標準可追溯至電壓及時間的標準；而探索線圈為由漆包線緊密繞製之線圈，置入已知之變動磁場中，即可量測出線圈之面積圈數值。目前國家度量衡標準實驗室係採用精密的磁通產生器；即電壓時間 (V·S) 產生器，可輸出已知磁通訊號給待校磁通計，達到校正磁通量之目的。探索線圈之校正即經由接上已校正之磁通計，再將探索線圈置入均勻磁場中，即可完成探索線圈之面積圈數值之校正。綜合檢驗磁通產生器之電壓、脈波寬度及探索線圈面積圈數值之量測，就能評估此校正系統之不確定度。本系統隸屬於磁通量測系統(B02)，主要提供類比及數位式磁通計以及探索線圈之校正，經過數據分析結果後，訂定校正服務能量 磁通計磁通值範圍：0.0001 Wb 至 2 Wb 探索線圈面積圈數值範圍：0.001 m2-Turns 至 1 m2-Turns |
| 6 | 分光輻射通量標準燈校正程序 | 本文為敘述分光輻射通量標準燈之校正程序。內容包含準備事項、校正步驟及後續處理程序。校正方法主要利用雙懸臂分光輻射儀，使用經由分光輻射照度標準追溯之分光輻射儀掃描空間分光訊號以及與長度標準追溯之距離、角度積分結果得出標準分光輻射通量光源。本文隸屬於分光輻射通量系統(O10)。 |
| 7 | 旋轉轉子黏滯式真空計校正程序 | 本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室，用比較校正法校正中度真空到高真空之真空計量測依據。其內容包括校正前準備事項、真空計校正步驟、資料分析、數據記錄表格式及校正報告格式等資料。 此校正程序適用校正範圍為6*10^-4 Pa 至 2 Pa（6*10^-6 mbar 至2*10^-2 mbar）。 |
| 8 | 小質量量測系統法碼校正程序-直接衡量法 | 本程序提供本實驗室同仁量測 1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg法碼時之參考。本實驗室實際量測時，係對法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。量測時，藉由個人電腦擷取量測數值；重複多次後求出其差值，算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation)，再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。 |
| 9 | 小質量量測系統評估報告-直接衡量法 | 本評估報告為提供本實驗室校正1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg法碼之準確度評估說明，以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。 本實驗室實際量測時，係針對1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行量測。量測時，藉由個人電腦控制可得量測讀值並計算平均值(mean value)及標準差(standard deviation)，再參考標準法碼之值即可求得待校法碼質量值及不確定度。 經測試分析後，設定本系統校正服務能量為：1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg。 |
| 10 | 小質量量測系統法碼校正程序-組合衡量法 | 本程序提供本實驗室同仁量測 1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg法碼時之參考。內容描述一組標準件法碼1 mg至1 kg，由1 kg向下導引出質量尺度（mass scale）的方法。本實驗室實際量測時，運用“10552211”模式及雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行。量測時，藉由個人電腦擷取量測數值；重複多次後求出其差值，算出其平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation)，再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。 |
| 11 | 小質量量測系統評估報告-組合衡量法 | 本評估報告為提供本實驗室同仁校正1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg法碼時之準確度評估說明，以作為本量室執行質量量測內部追溯校正時之不確定度估算的依據。 本實驗室實際量測時，運用“10,5,5,2,2,1,1”模式及雙重替換法(double substitution)，以質量比較(mass comparison)之方式進行，完成由1 kg向下導引出一組標準件法碼1 mg至1 kg的質量尺度（mass scale）。量測時，藉由個人電腦擷取量測數值，分別讀出待校法碼，標準法碼及查核法碼之值；依一固定次序重複六次後求其差值，並計算差值之平均偏差(mean deviation)及標準差(standard deviation)，再參考標準法碼之值即可求得待校法碼質量值及不確定度。 經測試分析後，設定本量測方式校正服務能量為：1 mg、2 mg、5 mg、10 mg、20 mg、50 mg、100 mg、200 mg、500 mg、1 g、2 g、5 g、10 g、20 g、50 g、100 g、200 g、500 g及1 kg。 |
| 12 | 大質量量測系統法碼校正程序 — Sartorius CCE10000U－L質量比較儀 | 本程序提供使用Sartorius CCE10000U-L質量比較儀校正2 kg、5 kg、10 kg法碼或法碼組合時之參考。Sartorius CCE10000U-L 為一電子式質量比較儀（mass comparator），其最大衡量範圍為10.05 kg，解析度為0.01 mg。校正時係採用雙重替換法（double substitution）以質量比較（mass comparison）之方式進行。藉由顯示幕之讀數，分別讀出標準法碼及待校法碼之值；重複多次後求出其差值，算出其平均偏差（mean deviation）及標準差（standard deviation），再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。 |
| 13 | 大質量量測系統評估報告－Sartorius CCE10000U－L 質量比較儀 | 本報告為提供本實驗室校正2 kg、5 kg及10 kg法碼之不確定度評估說明，以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。 Sartorius CCE10000U-L 為一電子式質量比較儀（mass comparator），其最大衡量範圍為10.05 kg，解析度為0.01 mg。本實驗室實際量測時，係針對2 kg、5 kg及10 kg法碼用雙重替換法（double substitution）以質量比較（mass comparison）之方式進行量測。量測時，藉由個人電腦控制可得量測讀值並計算平均值（mean value）及標準差（standard deviation），再參考標準法碼之值即可求得待校法碼質量值及不確定度。 經測試分析後，設定本系統校正服務能量為：2 kg、5 kg及10 kg。 |
| 14 | 2.5 m3/h~6 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備檢定程序書 | 2.5 m3/h~6 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備檢定程序書。 |
| 15 | 2.5 m3/h~6 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備軟體驗證說明 | 2.5 m3/h~6 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備軟體驗證說明。 |
| 16 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備檢定程序書 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備檢定程序書 |
| 17 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計檢定系統性能測試報告 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計檢定系統性能測試報告。 |
| 18 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備軟體驗證說明 | 10 m3/h~16 m3/h 膜式氣量計自動化檢定設備軟體驗證說明。 |
| 19 | 膜式氣量計自動化檢定系統器差不確定度評估報告 (10 m3/h~16 m3/h) | 膜式氣量計自動化檢定系統器差不確定度評估報告 (10 m3/h~16 m3/h) |
| 20 | 小錶自動化檢定系統軟體使用說明 | 小錶自動化檢定系統軟體使用說明。 |
| 21 | 智慧讀表(子機)內部累計體積與錶頭累計體積一致性測試軟體使用說明 | 智慧讀表(子機)內部累計體積與錶頭累計體積一致性測試軟體使用說明。 |
| 22 | 車輛排氣分析儀檢定檢查設備標準作業程序 | 本標準作業程序為車輛排氣分析儀檢定檢查設備，參照車輛排氣分析儀檢定檢查技術規範（CNMV 99第2版），模擬各測試氣體通入分析儀之流量操作與自動化控制程序以及硬體狀況應對。 |
| 23 | 動態力量量測系統校正程序 | 本程序為動態力量量測系統用於校正 (100 ~ 1000) N之力量傳感器於 (10 ~ 2000) Hz施力頻率的動態靈敏度所使用，說明校正過程中的準備事項、校正程序、完成校正後應有之步驟、資料分析及校正報告產出等程序。 本程序可做為力量校正人員在執行力量量測儀器校正時之遵循依據，以減少人為之校正差異，此外本資料也可做為新進人員訓練之教材。 本系統隸屬於靜法碼量測系統（二）（N02）。 |
| 24 | 動態力量量測系統評估報告 | 動態力量量測系統使用於校正 (100 ~ 1000) N 之力量傳感器於 (10 ~ 2000) Hz施力頻率的動態靈敏度，此評估報告以ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement規範所載之不確定度計算方式，評估本系統之校正與量測能力，其結果如下表所示。 系統名稱 力量量測範圍 頻率量測範圍 相對擴充不確定度（95 ％ 信賴水準） 涵蓋因子 動態力量量測系統 (100 ~ 1000) N (10 ~ 2000) Hz 1.8 × 10-2 2 此外本報告也規劃了量測品保設計，藉由查核件及管制圖之手法確保系統的穩定與可信度。 本系統隸屬於靜法碼量測系統（二）（N02）。 |
| 25 | 機器學習應用於陸域風力發電機葉片聲音檢測 | 機器學習目前已被廣泛應用於機械設備故障檢測，旋轉機械因週期性的操作特性，非常適合用聲音作為檢測依據。本文簡介機器學習應用於機械聲音檢測案例，並以實際量測與分析，將陸域風力發電機葉片特徵值輸入，建立二元分類模型。 |
| 26 | 視覺3D尺寸量測儀器線上校正程序報告 | 本技術資料為工研院量測中心對視覺3D尺寸量測儀器校正之操作依據，適用於校正範圍1600 mm ~ 3300 mm範圍尺寸之尺寸量測儀器，其校正方法係利用六顆球球桿標準件作為標準件，以視覺3D尺寸量測儀器所得不同視角點雲資料，經軟體透過參考點完成點雲拼接，進行球桿標準件量測不確定度評估。本文中有說明校正過程的準備事項、校正步驟、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告等。 |
| 27 | 視覺3D尺寸量測儀器量測不確定度評估報告(含點雲拼接) | 本文件為量測中心描述視覺3D尺寸量測儀器之量測不確定度的評估報告，校正方法係以球桿標準件做為標準件，量測其特徵值相對於經座標量測儀校正報告之標準值之距離變化，計算視覺3D尺寸量測儀器之器差量。其評估方法係參考國際標準組織（ISO）的量測不確定度表示法的指引（ISO/IEC Guide 98-3:2008）及VDI/VDE 2634、ISO 10360-13規範，尋求各項誤差源的要因對視覺3D尺寸量測儀器校正系統的影響來做不確定度評估。共有三項參數可供視覺3D尺寸量測儀器進行評估，包括球徑、球形狀誤差、球距尺寸，對於上述的幾何尺寸參數，規範中訂定相應的量測名詞依序為Probing error size (PS)、Probing error form (PF)、Sphere-spacing error (SD)，將針對這三個特徵量進行評估。 |
| 28 | 塊規校正系統評估報告－塊規干涉儀 | 本技術文件為國家度量衡標準實驗室塊規干涉校正系統（系統代碼：D02）之系統評估報告，報告內之評估方法係參考國際標準組織的〝ISOI/EC Guide 98-3：2008〞（以下簡稱 ISO GUM），分析校正時各項誤差源對量測不確定度的影響，進而評估本系統之擴充不確定 度。 經仔細評估的結果，本系統校正能量如下： 校正範圍：0.5 mm ~ 100 mm K 級以上公制鋼質或陶瓷矩形塊規 擴充不確定度： 鋼質: [(22)^2 ＋ (0.43 L)^2]^1/2 nm，涵蓋因子 k = 2.13(信賴水準 95 ％） 陶瓷: [(22)^2 ＋ (0.42 L)^2]^1/2 nm，涵蓋因子 k = 2.13（信賴水準 95 ％） 式中 L 為以 mm 為單位之塊規標稱長度值。 |
| 29 | 塊規校正程序–塊規干涉儀 | 本技術文件為國家度量衡標準實驗室對外提供塊規校正服務時之操作依據，本文件隸屬於塊規干涉校正系統(系統代碼：D02)，校正方法為利用塊規干涉儀在量測品保方案的管制下，量測待校塊規與參考基板間的干涉條紋偏移量，進而求得塊規的尺寸。待校塊規可藉由此干涉法量測的方式，追溯至國家度量衡標準實驗室之長度標準值。本系統提供之校正服務能量如下： 校正範圍：0.5 mm ~ 100 mm K級以上公制鋼質或陶瓷矩形塊規 擴充不確定度： 鋼質: [(23)^2 ＋ (0.43 L)^2]^1/2 nm，（信賴水準95 ％，涵蓋因子k = 2.13） 陶瓷: [(23)^2 ＋ (0.41 L)^2]^1/2 nm，（信賴水準95 ％，涵蓋因子k = 2.13） 式中L為以mm為單位之塊規標稱長度值。 |
| 30 | 座標量測儀量測程序 | 本程序為使用座標量測儀量測各種形式待測工件之尺寸參數（包括圓、球、直線、平面等量測參數）的參考依據，說明量測過程中的準備事項、量測步驟、完成量測後應有之步驟、資料分析及測試報告產出等程序。 |
| 31 | 計量資訊交換之工具機介面開發期中報告 | (A)控制器補償功能:本案規劃開發HEIDENHAIN iTNC640與SIEMENS 840D控制器之空間精度補償功能，兩款控制器皆為補償參數檔案式，SIEMENS檔案格為.spf、HEIDENHAIN則為.kco格式，目前已完成兩款控制器之空間精度補償格式研究及補償檔案生成功能。同時已完成初步SIEMENS 控制器連線與參數讀寫功能。(B)XML通訊建制:已完成工研院所提供之XML量測檔案之讀取與寫入功能，同時進行補償值與兩款控制器空間精度補償檔案格式轉換。目前進度均無落後，後續持續開發人機介面與各功能整合，最後做實機測試驗證。 |
| 32 | 計量資訊交換之工具機介面開發期末報告 | 本案規劃開發HEIDENHAIN iTNC640與SIEMENS 840D控制器之空間精度補償功能，兩款控制器補償參數檔案格式皆已開發，SIEMENS檔案格為.SPF、HEIDENHAIN則為.KCO格式，目前已完成兩款控制器之空間精度補償格式研究及補償檔案生成功能。 考量到驗證場域機台為HEIDENHAIN iTNC640，已完成該型號控制器之補償功能開發並完成通訊建置(Heidenhain Remo Tools SDK)。於期末進度已完成補償人機介面開發與功能整合，包括控制器連線、XML檔案格式讀取、補償功能…等功能，上述功能及人機介面經實機測試後確認功能無誤，且符合計畫目標。 |
| 33 | FY111智機計畫委託中華民國全國工業總會期末工作報告 | 提升國內相關產業界、及校正/測試實驗室在智慧機械產業新技術之推廣。 |
| 34 | 財團法人金屬工業中心智機產業技術推動及服務計畫期末報告 | 為整合國內工具機及相關零組件產業能量，綜整國內專家學者與指標性廠商之建議，分析國內外產業趨勢及臺灣相關零件廠商能量，盤點國內可能必要發展之工具機及相關零組件產業技術項目，規劃後續技術應用與發展策略，並鏈結公協學會及各廠進行諮詢與線上量測標準與校正技術推動。 |
| 35 | 國際儲能系統專案驗證制度研析報告 | 鑒於推動綠能與淨零排放政策背景，台電因應再生能源併網，自2021年推出電力交易平台，購置儲能提供輔助服務穩定電網，截至2022年9月，已有4,700 MW以上儲能設備申請併網。隨著再生能源發電占比提升，台電已上修儲能裝置與採購容量目標至1,000 MW，以符合未來穩定電網需求。然目前國內尚無儲能系統專案驗證制度暨能量，攸關儲能系統安全性與政策方案之推行，亟需發展儲能系統專案驗證制度並建立儲能系統專案驗證能量，以因應大型儲能系統布建之安全性驗證需求，保障電力系統與民眾安全。 本報告蒐集國際儲能系統驗證制度與儲能系統層級之國際標準，研析儲能系統所需之系統（案場）安全、併網安全、電氣安全及消防/建管安全等項目之驗證依據標準與做法，以作為未來研擬戶外儲能系統專案驗證制度草案及戶外儲能系統驗證技術規範修訂建議草案之參考。 |
| 36 | 111~112年度儲能系統專案驗證制度發展委辦計畫期中報告 | 鑒於推動綠能與淨零排放政策背景，台電因應再生能源併網，自2021年推出電力交易平台，購置儲能提供輔助服務穩定電網，截至2022年9月，已有4,700 MW以上儲能設備申請併網。隨著再生能源發電占比提升，台電已上修儲能裝置與採購容量目標至1,000 MW，以符合未來穩定電網需求。然目前國內尚無儲能系統專案驗證制度暨能量，攸關儲能系統安全性與政策方案之推行，亟需發展儲能系統專案驗證制度並建立儲能系統專案驗證能量，以因應大型儲能系統布建之安全性驗證需求，保障電力系統與民眾安全。 本計畫將建立國內戶外儲能系統專案驗證能量與制度，並先期規劃儲能系統資安監控檢測能量，以期未來完善國內儲能系統標準、檢測能量與驗證能量，俾協助儲能系統安全性與國內儲能系統產業之發展。 |
| 37 | 電感量測系統評估報告 | 本文描述電感量測系統(系統代碼：E16)之不確定度評估方法及評估結果。電感器之校正方法係使用RLC表來量測比較其與標準電感器之電感差值，電感表之校正方法則直接量測標準電感器。電感量測系統提供之校正頻率為100 Hz及1 kHz，校正範圍為100 uH、1 mH、10 mH、100 mH、1 H及10 H。 |
| 38 | 直流電壓系統評估報告 | 本文為直流電壓系統評估報告，隸屬於直流電壓量測系統(系統代碼：E04)。該系統主要提供電壓量測範圍為1 mV到1000 V之直流電壓標準器與直流電壓表的校正服務。本系統之量測方法為系統先執行分壓器的自我校正程序，確認無誤後再搭配零位表與固態電壓標準器進行待校件的電壓值量測。系統量測不確定度的分析方法是依據「ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement—Part 3：Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)」中所建議之量測不確定度的計算方式與步驟作評估。本系統的相對擴充不確定度依量測範圍分布如下 (信賴水準：95 ％，涵蓋因子：2)：0.7 mV/V (For 1 mV)；0.07 mV/V (For 10 mV)；7 μV/V (For 100 mV)；0.8 μV/V (For 1 V)；0.4 μV/V (For 10 V)；0.7 μV/V (For 100 V)；6 μV/V (For 1000 V) |
| 39 | 比壓器量測系統校正程序 | 本技術報告為國家度量衡標準實驗室比壓器量測系統(系統代碼：E07)之校正程序。其內容說明執行比壓器、交流高壓分壓器、交流高壓表及交流高壓源校正時，所需要的系統儀器設備、校正步驟、校正數據之分析，以及校正報告範本。 |
| 40 | 相位角量測系統校正程序 | 本文係國家度量衡標準實驗室相位角量測系統(E21)之相位表及相位產生器之校正程序。 本系統所使用的標準相位產生器(clarke-hess 5500)定期追溯美國NIST相位標準，用以校正待校相位表；並將相位標準傳遞至本系統之標準相位表(clarke-hess 6000)，得以校正待校之相位產生器。 本系統之擴充不確定度為0.02°，信賴水準為 95 ％，涵蓋因子k為2。其服務能量如下： 電壓 (V) 頻率 (Hz) 相位角 (degree) 5 60 90 5 60 180 5 400 90 5 400 180 5 1 k 90 5 1 k 180 5 10 k 90 5 10 k 180 5 50 k 90 5 50 k 180 50 60 180 50 400 180 100 60 180 100 400 180 |
| 41 | 直流電壓系統校正程序 | 本文為直流電壓系統校正程序，隸屬於直流電壓量測系統(系統代碼：E04)。該系統主要提供電壓量測範圍為1 mV到1000 V之直流電壓標準器與直流電壓表的校正服務。本程序之量測方法為系統先執行分壓器的自我校正程序，確認無誤後再搭配零位表與固態電壓標準器進行待校件的電壓值量測。系統量測不確定度的分析方法是依據「ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement—Part 3：Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)」中所建議之量測不確定度的計算方式與步驟作評估。本系統的相對擴充不確定度依量測範圍分布如下(信賴水準：95 ％，涵蓋因子：2)：0.7 mV/V (For 1 mV)；0.07 mV/V (For 10 mV)；7 μV/V (For 100 mV)；0.8 μV/V (For 1 V)；0.4 μV/V (For 10 V)；0.7 μV/V (For 100 V)；6 μV/V (For 1000 V) |
| 42 | 電感量測系統校正程序 | 本資料敘述國家度量衡標準實驗室電感量測系統(E16)之電感器、電感表及RLC表校正程序。電感器之校正方法係使用本實驗室RLC表來量測比較其與標準電感器之電感差值，電感表及RLC表之校正方法則直接量測標準電感器。電感量測系統之校正能量為: 校正頻率：100 Hz 及 1 kHz。 電感範圍：100 uH、1 mH、10 mH、100 mH、1 H、10 H。 |
| 43 | 相位角量測系統評估報告 | 本資料為國家度量衡標準實驗室相位角量測系統(E21)之評估報告，作為本量測系統校正程序及校正報告中的擴充不確定度計算之依據。在本量測系統評估報告中，包含量測系統之介紹、校正方法及量測不確定度評估等，並依據ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995)所述之不確定度評估方法，計算出本系統之擴充不確定度。 本系統之擴充不確定度為0.02°，信賴水準為 95 ％，涵蓋因子k為2。其服務能量如下： 電壓 (V) 頻率 (Hz) 相位角 (degree) 5 60 90 5 60 180 5 400 90 5 400 180 5 1 k 90 5 1 k 180 5 10 k 90 5 10 k 180 5 50 k 90 5 50 k 180 50 60 180 50 400 180 100 60 180 100 400 180 |
| 44 | 比壓器量測系統評估報告 | 本技術報告為國家度量衡標準實驗室比壓器量測系統(系統代碼：E07)之評估 報告，其擴充不確定度評估方法之依據為ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM: 1995)。 |
| 45 | 微波功率計校正程序 | 本報告提供微波功率計之標準校正程序。校正項目分為功率範圍及參考功率源兩部份。文中詳細說明校正前之準備事項、校正步驟，並附有校正報告之範例，本資料亦可作為精密校正人員訓練用。 可提供之量測頻率範圍及不確定度如下: 參考功率源部分： 參考頻率：50 MHz 參考功率：1 mW 相對擴充不確定度：0.27 ％ 功率範圍部分： 功率範圍：-25 dBm、-20 dBm、-15 dBm、-10 dBm、-5 dBm、0 dBm、5 dBm、10 dBm、15 dBm、20 dBm 相對擴充不確定度：0.29 ％ |
| 46 | 微波散射參數及阻抗系統評估報告 | 本報告詳細敘述微波散射參數及阻抗量測系統(系統代碼U02)之評估方式與評估結果。本系統採用ISO/IEC Guide 98-3:20087.1及EURAMET Calibration Guide no.12 (2018版)[5-6]之建議，使用Rigorous method此評估方式，包含Type A及Type B，計算出本系統之量測不確定度。文中並詳細說明分析誤差來源，及估算誤差方式，並依實際量測結果，訂定目前可提供之系統能量。 向量網路分析儀的量測不確定度與所使用的校正技術相關，因此在本報告中，敘述WR10波導型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式，WR15波導型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式， 2.4 mm同軸型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式， 2.92 mm同軸型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式， 3.5 mm同軸型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式，以及Type N同軸型式接頭以全雙埠 (Full 2-port) 方式校正後之不確定度評估結果。另外，向量網路分析儀的量測不確定度也與儀器設定相關，本報告中將訂定儀器設定，操作者必須依循這些設定始可參考本報告之評估結果。評估的方式主要依據原廠評估方式所訂定，分為反射及透射兩大部分，反射部分又區分為反射係數及反射相位角，而透射部分也分為透射係數及透射相位角兩部分。至於頻段區分方式，針對Type N同軸型式接頭的分段方式為10 MHz ~ 500 MHz、500 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 18 GHz等三段，3.5 mm同軸型式接頭為10 MHz ~ 45 MHz、45 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 20 GHz、20 GHz ~ 26.5 GHz等四段，2.92 mm同軸型式接頭為45 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 26.5 GHz、26.5 GHz ~ 40 GHz等三段，2.4 mm同軸型式接頭為45 MHz ~ 2 GHz、2 GHz ~ 26.5 GHz、26.5 GHz ~ 50 GHz等三段，WR15波導型式接頭為50 GHz ~ 75 GHz等一段，WR10波導型式接頭為75 GHz ~ 110 GHz等一段。本系統所能提供的參數為S11, S22, S21, S12四種散射參數，提供校正Type N同軸型式接頭的元件之頻率範圍為10 MHz至18 GHz，對3.5 mm同軸型式接頭的元件為10 MHz至26.5 GHz，對2.92 mm同軸型式接頭的元件為45 MHz至40 GHz，對2.4 mm同軸型式接頭的元件為45 MHz至50 GHz，對WR15波導型式接頭的元件為50 GHz至75 GHz，對WR10波導型式接頭的元件為75 GHz至110 GHz，反射係數量測範圍為0至1，透射係數量測範圍為-60 dB至0 dB。 由於Type B的標準不確定度需視所使用之量測儀器、校正組件之接頭型式、量測之頻率範圍及散射參數值而定，因此本量測系統的擴充不確定度，仍須視待校件的特性、量測頻率以及量測結果而定，其Type A的標準不確定度亦僅分別依據WR10波導型式接頭、WR15波導型式接頭、2.4 mm同軸型式接頭、2.92 mm同軸型式接頭及3.5 mm同軸型式接頭及Type N同軸型式接頭之驗證件進行評估，當信賴水準為95 ％，涵蓋因子(Coverage Factor)為2，擴充不確定度如下所述。 |
| 47 | 標準參考磁鐵校正程序 | 本文件隸屬於核磁共振磁通密度系統(B01)，為標準參考磁鐵實施校正之依據。其方法係以核磁共振磁通密度系統提供穩定之磁通密度值來校正標準參考磁鐵。本系統可提供之磁通密度值範圍為0.05 T 至 1.5 T，其擴充不確定度為2.4×10-5 T至 6.6×10-4 T (信賴水準：95 ％，擴充係數：2.78)。文中詳細敘述校正步驟、資料分析方法及報告格式範例，以作為執行校正者之操作依據。 |
| 48 | 核磁共振磁通密度量測系統評估報告 | 磁通密度值於計量學中乃一導出量，而核磁共振為實現磁通密度(磁場)原級標準的方法，其可追溯到基本單位-頻率的標準。系統主要功能為提供橫向式探頭之高斯計及標準參考磁鐵進行量測校正之用。本報告敘述核磁共振磁通密度系統之量測原理、校正方法，並對各項誤差來源加以探討、分析。本系統經過數據分析結果，訂定校正服務能量為： 磁通密度值範圍：0.05 T ～ 1.5 T 擴充不確定度：2.4×10-5 T至 6.6×10-4 T 涵蓋因子：k = 2.78 信賴水準：95 ％ |
| 49 | 微波功率量測系統評估報告 | 本系統評估報告乃針對微波功率量測系統(系統代碼U01)量測功率感測器的校正因子（Calibration Factor）進行評估。內容包括系統簡介、校正原理、不確定度評估及量測品保。可提供之量測頻率範圍、功率量測範圍及相對擴充不確定度(信賴水準95 ％，涵蓋因子為2)如下所示： 熱敏電阻座 : 頻率範圍: 10 MHz to 18 GHz 功率: 1 mW 相對擴充不確定度:1.4 ％ (10 MHz), 1.0 ％ (50 MHz), 1.0 ％ (51 MHz to 4 GHz) , 1.2 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.0 ％ (8001 MHz to 18 GHz) 功率感測器 : 頻率範圍: 10 MHz to 18 GHz 功率: 1 mW 相對擴充不確定度:1.4 ％ (10 MHz) , 1.0 ％ (50 MHz) , 1.0 ％ (51 MHz to 4 GHz) , 1.4 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.0 ％ (8001 MHz to 18 GHz) 低功率感測器(Power Sensor with 30 dB Pad) : 頻率範圍: 10 MHz to 18 GHz 功率: 1 uW 相對擴充不確定度:1.8 ％ (10 MHz) , 1.6 ％ (50 MHz) , 1.6 ％ (51 MHz to 4 GHz) , 1.8 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.4 ％ (8001 MHz to 18 GHz) |
| 50 | 微波功率感測器校正程序 | 本報告敘述微波功率量測系統(U01)量測功率感測器校正因子之校正程序，文中詳細說明校正前之準備事項及校正步驟，並附有校正報告之範例，本資料亦可作為精密校正人員訓練用。可提供之量測頻率範圍、功率量測範圍及相對擴充不確定度（信賴水準95 ％，涵蓋因子為2）如下所示: 熱敏電阻座: 頻率範圍 : 10 MHz to 18 GHz 功率: 1 mW 相對擴充不確定度:1.4 ％ (10 MHz), 1.0 ％ (50 MHz), 1.0 ％ (51 MHz to 4 GHz) ,1.2 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.0 ％ (8001 MHz to 18 GHz) 功率感測器 : 頻率範圍: 10 MHz to 18 GHz 功率 : 1 mW 相對擴充不確定度:1.4 ％ (10 MHz) , 1.0 ％ (50 MHz) , 1.0 ％ (51 MHz to 4 GHz) , 1.4 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.0 ％ (8001 MHz to 18 GHz) 低功率感測器(Power Sensor with 30 dB Pad) : 頻率範圍: 10 MHz to 18 GHz 功率: 1 mW 相對擴充不確定度:1.8 ％ (10 MHz) , 1.6 ％ (50 MHz) ,1.6 ％ (51 MHz to 4 GHz) , 1.8 ％ (4001 MHz to 8 GHz) , 2.4 ％ (8001 MHz to 18 GHz) |
| 51 | 電容量測系統校正程序-1 kHz電容標準 | 本資料為國家度量衡標準實驗室標準電容量測系統(系統代碼：E15)之校正程序，涵蓋的校正件為電容器、阻抗表及電容表，適用的校正頻率為1 kHz。電容器之校正方法為以精密自動電容電橋量測電容標準件及待校電容器，經由比較而得出待校電容器之電容校正值。阻抗表及電容表之校正方法為將待校阻抗表或電容表直接量測已追溯校正之標準電容器。 本資料適用之電容值校正範圍為 1 pF、10 pF、100 pF、1000 pF、0.01 uF、0.1 uF、1 uF。 |
| 52 | 高斯計校正程序 | 本文件隸屬於核磁共振磁通密度系統(B01)，敘述以核磁共振磁通密度系統校正橫向式霍爾高斯計之依據。本系統可提供之磁通密度值範圍為0.05 T 至 1.5 T，其擴充不確定度為2.4×10-5 T至 6.6×10-4 (信賴水準：95 ％，擴充係數：2.78)。文中詳細敘述校正步驟、資料分析方法及報告格式範例，以作為執行校正者之操作依據。 |
| 53 | 校正微波功率計評估報告 | 本系統評估報告乃針對微波功率量測系統(系統代碼U01) 量測微波功率計進行評估，內容包括系統簡介、校正原理、不確定度評估及量測品保。校正項目分為參考功率源及功率範圍兩部分。 可提供之量測頻率範圍及相對擴充不確定度(當涵蓋因子為2，信賴水準約為95 ％)如下所示： 參考功率源部分： 參考頻率：50 MHz 參考功率：1 mW 相對擴充不確定度：0.27 ％ 功率範圍部分： 功率範圍：-25 dBm、-20 dBm、-15 dBm、-10 dBm、-5 dBm、0 dBm、5 dBm、10 dBm、15 dBm、20 dBm 相對擴充不確定度：0.29 ％ |
| 54 | 品質典範案例研析:建置「高壓大容量短路試驗室」可行性評估 | 本計畫針對台電綜研所之樹林與深澳所區用於建置「高壓大容量短路試驗室」的可行性作探討與評估。評估項目包含：搬運道路限制、環境風險影響、試驗標準差異、市場需求與系衝分析等。 團隊用心將客戶需求歸納成VOC，並運用PDCA循環進行工作項目設計及運作。尤其在針對「評估運送試驗設備至試驗室的道路限制」過程中，利用FMEA進行失效模式分析，以降低執行風險。另外，在調查國內電力器材製造商偏好的試驗室設置地點，團隊透過統計分析將調查結果繪成長條圖，清楚表示廠商最期望的建置地點。 藉由完善規劃及有效管理，計畫交付之可行性評估成果完整，且被列為台電公司未來擬定策略方向與建置方案之重要研究報告，更獲得台電綜研所副所長的高度肯定與讚賞。 |
| 55 | 輻射溫度計比較校正系統評估報告 | 本技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計校正系統針對輻射溫度計比較校正進行評估。本報告包括系統描述、量測原理、量測方法等介紹，其適用之量測範圍為90 ℃至3000 ℃。並依據ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 之統計分析理論，設計評估、品保方法，分析系統誤差來源，最後對量測系統予以估算，計算出系統之不確定度。 |
| 56 | 貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計定點校正程序 | 本資料為國家度量衡標準實驗室，對貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計定點校正程序之說明。本校正系統隸屬於熱電偶溫度計量測系統，系統代號為T03，並採用1990年所訂定現今通用之國際溫標（ITS-90）。溫度量測範圍在0 ℃至1200 ℃之間。 |
| 57 | 貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計定點量測系統評估報告 | 本資料為國家度量衡標準實驗室，對貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計定點量測系統（隸屬於熱電偶溫度計量測系統-系統編號T03）所做之評估報告。評估之溫度點係採用1990年所訂定現今通用之國際溫標（ITS-90）。溫度量測範圍在0 ℃至1200 ℃。 |
| 58 | 輻射溫度計定點校正系統評估報告 | 本技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計校正系統（系統代碼為T01），針對輻射溫度計校正系統進行溫度定點校正評估。本報告包括系統描述、量測原理、量測方法等介紹。並依據ISO/IEC GUIDE 98-3:2008[7.1]之統計分析理論，設計評估、品保方法、分析系統誤差來源，最後對量測系統予以估算，以計算出量測系統之擴充不確定度。 經評估後，訂定本量測系統對外服務的能量如下： 溫度範圍160 ℃至960 ℃間，波長為1600 nm時，其擴充不確定度為0.07 ℃至0.20 ℃，在溫度範圍660 ℃至1324 ℃間，波長為900 nm時，其擴充不確定度為0.24 ℃至0.28 ℃。在溫度範圍960 ℃至1085 ℃間，波長為650 nm時，其擴充不確定度為0.14 ℃至0.25 ℃ |
| 59 | 熱探針熱導率量測程序 | 本程序為實驗室利用熱探針法(thermal needle probe method)對材料進行熱導率(thermal conductivity)量測程序之實施，係根據ASTM D5334 標準制定。其測試溫度範圍可從5 °C至100 °C、熱導率量測範圍則可達 0.03 W．m-1．K-1 至 4.00 W．m-1．K-1。 |
| 60 | 貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶點校正程序 | 本資料為國家度量衡標準實驗室，對貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶點校正程序之說明。本校正系統隸屬於熱電偶溫度計量測系統，系統代碼為T03，並採用現今通用的國際溫標（ITS-90）之補充指引作為依據，在鈷碳合金（Co-C；~1324 °C）與鈀碳合金（Pd-C；~1492 °C）的共晶固定點校正熱電偶溫度計，溫度量測範圍在1100 °C至1500 °C之間。 |
| 61 | 貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶定點量測系統評估報告 | 本資料為國家度量衡標準實驗室，貴金屬型與純金屬型熱電偶溫度計高溫共晶點量測系統（隸屬於熱電偶溫度計量測系統-系統編號T03）之評估報告。評估之溫度點係採用現今通用的國際溫標（ITS-90）之補充指引作為依據，在鈷碳合金（Co-C；~1324 °C）與鈀碳合金（Pd-C；~1492 °C）的共晶固定點校正熱電偶溫度計。溫度量測範圍在1100 °C至1500 °C。 |
| 62 | 輻射溫度計共晶定點校正系統評估報告 | 本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計校正系統（系統代碼為T01），針對輻射共晶定點校正系統進行定點校正系統評估。本報告包括系統描述、量測原理、量測方法等介紹。並依據ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 之統計分析理論，設計評估、品保方法、分析系統誤差來源，最後對量測系統予以估算，以計算出量測系統之擴充不確定度。經評估後，訂定本量測系統對外服務的能量如下：溫度範圍1085 ℃至 3000 ℃間，波長為650 nm時，其擴充不確定度為0.14 ℃至3.6 ℃ |
| 63 | 輻射溫度計共晶點黑體校正程序-英文翻譯版 | 本技術報告為國家度量衡標準實驗室輻射溫度計量測系統（系統代碼為T01），針對輻射溫度計校正系統進行高溫共晶點校正方法之依據，以標準線性高溫計量得鈷碳、鉑碳以及錸碳等黑體定點作為本系統溫標標訂之標準。 |
| 64 | 穩態熱通量計法熱導率與熱阻量測程序 | 本程序為實驗室利用穩態熱通量計法(steady-state heat flux method)對材料進行熱導率(thermal conductivity)與熱阻(thermal resistance)量測程序之實施，係根據ASTM D5470 標準制定。其工作溫度範圍可從40 °C至100 °C、熱導率量測範圍則可達 0.1 W．m-1．K-1 至 80.0 W．m-1．K-1、熱阻量測範圍則可達 0.05 K．W-1至 5.00 K．W-1。 |
| 65 | 國內市售測溫儀應用於人體溫度量測之管理研究 | 本研究將根據國內常見市售體溫用測溫計進行研究，亦探討相關法規、政策、主管機關指引，並對市面上的產品進行測試。研究市售測溫儀應用於人體量測之準確性及管理方式，期望能對目前市面上已裝設或是處於研發階段之溫度量測設備的性能進行評估，並研究可行的管理方法，提供予經濟部標準檢驗局參考，以使國內製造商或進口商對於產品上架販售要求有所依循，並確保國民在出入各項場所的權益。 |
| 66 | 分光測色系統標準白板0°:de幾何條件校正程序 | 本文敘述如何利用分光測色量測系統—雙光束法進行標準白板及標準色板於0°:de幾何條件下之色度及反射率校正。0°:de之量測幾何條件為光源以垂直方向照射白板，並經積分球擴散後量測其反射光。經校正過的標準板可做為廠商所使用於相同幾何條件的測色儀器之標準，或做為目視評估樣品顏色的標準件，但此校正程序不適用於含螢光材質的色板，並以0°:de與0°:di中反射率Y之擴充不確定度較大者為計算基礎。 |
| 67 | 分光測色系統0°:de幾何條件評估報告 | 本報告主要敘述如何利用分光測色量測系統評估標準白板之反射率Y和色度座標值x、y。本系統之測色幾何條件是依國際照明委員會CIE所規範之0de幾何條件測色，將標準件和待校件分別置於積分球上之參考口和樣本口處比較校正。本報告隸屬於色度量測系統，代號O05。 經由校正程序和量測品保方式建立，進行系統測試和評估。同時，利用標準白板進行數據擷取分析以建立系統管制圖。依分析結果訂定目前可提供之系統校正能量如下所示，並以0°:de 與0°:di中反射率Y之擴充不確定度較大者為計算基礎。 |
| 68 | 分光測色系統標準色板de:8°幾何條件校正程序 | 本文敘述如何利用自動化分光測色量測系統於de:8°幾何條件下進行標準色板（包括標準白板）之色度及反射率（Luminous Reflectance）的校正。de:8°之量測幾何條件為經積分球（Integrating sphere）擴散後之光源照射色板，扣除色板之鏡面反射光（Specularly reflected light），於垂直色板方向傾斜8°處量測。待校色板可為硫酸鋇(BaSO4)、氧化鎂或海龍（Halon）等粉末壓製或用陶瓷、蛋白石等材料製成一定厚度且表面均勻之平板。此校正過的色板可做為廠商所使用於相同幾何條件之測色儀器的標準件，或做為目視評估樣品顏色的標準件。但此校正程序不適用於含螢光材質的色板。本文件也適用於di:8°之量測幾何條件，即是光源經積分球擴散後之光源照射色板，包括色板之鏡面反射光，於垂直色板方向傾斜8°處量測。本系統隸屬於O05色度量測系統，服務能量如下所述，並以de:8°與di:8°中反射率Y之擴充不確定度較大者為計算基礎。 |
| 69 | 分光測色系統de:8°幾何條件評估報告 | 本報告主要敘述如何利用分光測色系統de:8°幾何條件評估標準白板和標準色板之反射率(Luminous Reflectance)和色度座標值。本系統之測色幾何條件是依國際照明委員會CIE所規範之de:8°與di:8°條件測色，即經積分球(Integrating Sphere)擴散後之光源照射待校件，於垂直色板方向傾斜8°處量測。該系統分為Specular Component Excluded及Specular Component Included兩種，其校正方法是利用置換法(Substitution Method)，用標準白板與待測件相互比對。本系統隸屬色度量測系統，代碼為O05，並以de:8°與di:8°中反射率Y之擴充不確定度較大者為計算基礎。 |
| 70 | 低溫絕對輻射系統光偵測器分光響應校正程序 | 本文件描述原級分光響應校正之校正步驟，隸屬於低溫絕對輻射量測系統(O07)。標準件為低溫絕對輻射計，待校件為寬頻光偵測器(broad band detector)，包括但不限: 矽(Si)光偵測器、鍺(Ge)光偵測器、捕捉型光偵測器(trap detector)…等。 |
| 71 | 低溫絕對輻射量測系統評估報告 | 本文件為以低溫絕對輻射計量測(光)輻射功率(輻射通量、光功率)之評估報告，隸屬低溫絕對輻射量測系統(O07)。內文描述系統概況(第二章)、不確定度來源與其估算方法(第三章)、量測品保設計(第四章)、以及不確定度評估結果(第五章)。 |
| 72 | 低溫絕對輻射系統光度標準評估報告 | 本文件為偵測器式(detector-based)光度標準之評估報告，隸屬低溫絕對輻射量測系統(O07)。內文描述光強度與照度響應之標準實現方式及校正系統概況(第二章)、不確定度來源與其估算方法(第三章)、量測品保設計(第四章)、以及不確定度評估結果(第五章)。目前系統可提供之校正能量如下。 |
| 73 | 低溫絕對輻射系統光度標準校正程序 | 本文件描述偵測器式(detector-based)光度標準之實現程序，以及光強度與照度響應之校正步驟。偵測器式光度標準追溯至低溫絕對輻射計，隸屬於低溫絕對輻射量測系統(O07)。 |
| 74 | 5kN靜法碼力標準機系統評估報告 | 本報告為建立5kN靜法碼力標準機（系統代碼：NO2）不確定度評估說明，並對各項誤差加以探討，經測試分析後，設定(1)本系統校正服務能量為:5kgf～500kgf。（500N~5000N）。(2)在信賴水準為95％，涵蓋因子k=2，本靜法碼力標準機(不含待校件)之相對擴充不確定度為2.0*10-5。 |
| 75 | 2MN萬能校正機系統評估報告 | 力學與醫學計量研究室採用EURAMET cg-4規範所載之標準傳遞方式，以力量傳感器為傳遞標準件，傳遞靜法碼機（PTB）之力值於本系統（系統代碼：N03），並以EURAMET cg-4規範所載之不確定度計算方式，評估本系統之校正與量測能力 |
| 76 | 2MN萬能校正機系統校正程序 | 本程序為2 MN萬能校正機系統(系統代碼：N03)用於校正100 kN ~ 2 MN之測力儀 (力量傳感器、檢力環、環式動力計、測力計)等各式力量量測儀器，說明校正過程中的準備事項、校正程序、完成校正後應有步驟、資料分析及校正報告產出等程序。 本程序做為力量校正人員在執行力量量測儀器校正時之遵循依據，以減少人為之校正差異，此外本資料也可做為新進人員訓練之教材。 |
| 77 | 熱陰極離子真空計校正程序 | 本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室，用比較校正法校正高真空到超高真空之各式真空計之量測依據。其內容包括校正前準備事項、真空計校正步驟、資料分析、數據記錄表格式及校正報告格式等資料。 此校正程序適用校正範圍為5*10^-6 Pa 至 8*10^-3 Pa(5*10^-8 mbar 至 8*10^-5 mbar)。 |
| 78 | 5 kN靜法碼力標準機校正程序 | 本程序為5 kN靜法碼力標準機系統(系統代碼：N02)用於校正5 kN之檢力環、荷重元、環式動力計、測力計等各式力量量測儀器，說明校正過程中的準備事項、校正程序、完成校正後應有之步驟、資料分析及校正報告產出等程序。 本程序可做為力量校正人員在執行力量量測儀器校正時之遵循依據，以減少人為之校正差異，此外本資料也可做為新進人員訓練之教材。 |
| 79 | 真空計比較校正系統評估報告 | 本技術資料為國家度量衡標準實驗室氣體動態膨脹真空校正系統(系統代碼：L02)之評估報告，係依據ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) 所述之方法計算出系統能量及不確定度源，針對真空計校正時所產生之各項誤差來源，予以仔細的評估，並分析其對本校正系統所造成量測不確定度的影響，藉以訂定本校正系統之校正能量與量測不確定度。 |
| 80 | 50 kN靜法碼力標準機系統評估報告 | 本報告為建立50 kN靜法碼力標準機(系統代碼：N01)不確定度之評估說明，並對各項誤差加以探討，經測試分析後,設定本系統校正範圍及其校正與量測能力如下： (1)校正服務能量為50 kgf ~ 5000 kgf(500 N~50 kN)。 (2)本系統含待校件之校正與量測能力如下：(信賴水準為95 ％，涵蓋因子k為2) (a)在(50~500) kgf範圍，其擴充不確定度為0.01kgf。 (b)在(500~5000) kgf範圍，其相對充不確定度為各力量值的2.0E-5。 |
| 81 | 50 kN靜法碼力標準機校正程序 | 本程序為50kN靜法碼力標準機系統（系統代碼：N01）用於校正50kN之檢力環、荷重元、環式動力計、測力計等各式力量量測儀器，說明校正過程中的準備事項、校正程序、完成校正後應有之步驟、資料分析及校正報告產出等程序。 本程序可做為力量校正人員在執行力量量測儀器校正時之遵循依據，以減少人為之校正差異，此外本資料也可做為新進人員訓練之教材。 |
| 82 | 中低真空度真空計校正程序 | 本篇技術報告為國家度量衡標準實驗室，用比較校正法校正一般大氣壓力到中度真空之真空計量測依據。其內容包括校正前準備事項、真空計校正步驟、資料分析、數據記錄表格式及校正報告格式等資料。 此校正程序適用校正範圍為1*10^-1Pa至1*10^5Pa(1*10^-3mbar至1*10^3mbar)。 |
| 83 | 大質量量測系統評估報告-METTLER AX64004質量比較儀 | 本評估報告為提供本實驗室校正20 kg、50 kg法碼之準確度評估說明，以作為本量室對外執行校正服務時之不確定度估算的依據。本實驗室實際量測時，係針對20 kg、50 kg法碼用雙重替換法(double substitution)以質量比較(mass comparison)之方式進行量測。量測時，藉由個人電腦控制可得量測讀值並計算平均值(mean value)及標準差(standard deviation)，再參考標準法碼之值即可求得待校法碼質量值及不確定度。 |
| 84 | 階規校正系統評估報告 | 本文為國家度量衡標準實驗室階規(step gauge)校正系統的評估報告。本校正系統以雷射干涉儀作為標準件，整合高準確度之座標量測儀(coordinate measuring machine, CMM)的移動床台與測頭系統，以半自動的方式完成階規各端面距離之量測，完成校正工作。 系統之評估方法係參考國際標準組織(International Organization for Standardization,ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008，分析各誤差源及標準不確定度後，計算系統之擴充不確定度。最後，訂出本校正系統的校正能量為： 校正項目：階規 量測範圍：10 mm至1010 mm 擴充不確定度(U)以方程式表示為：1.97x[(0.21^2 μm) ＋ (4.03 ×10^-7 x L)^2]^0.5 其中L為量測距離 信賴水準：95 ％ 涵蓋因子(k)：1.97 本文件隸屬於階規校正系統。 |
| 85 | 階規校正程序 | 本文為國家度量衡標準實驗室針對階規(Step Gauge)實施校正的依據。本校正系統以雷射干涉儀作為標準件，整合高準確度之座標量測儀(Coordinate Measuring Machine, CMM)的移動床台與測頭系統，以半自動的方式完成階規各端面距離之量測，完成校正工作。 系統之評估方法係參考國際標準組織(International Organization for Standardization, ISO)發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008，分析各誤差源及標準不確定度後，計算系統之擴充不確定度。最後，訂出本校正系統的校正能量為： 校正項目：階規（含卡尺校正器） 量測範圍：10 mm至1010 mm 擴充不確定度(U)以方程式表示為：1.97 x [(0.21^2 μm)]＋(4.03x10^-7 x L )^2]^0.5 其中L為量測距離，單位為mm 信賴水準：95 ％ 涵蓋因子(k)：1.97 本文件隸屬於階規校正系統(D30) |
| 86 | 軌道線形量測儀測試程序 | 本技術資料為對軌道線型量測儀測試之參考依據，主要說明軌道線型量測儀測試所需之儀具及測試步驟，其測試方法係將待測件置放於鋁擠型測試裝置架上，待測件有五個線性感測器的測輪及一個角度感測器，測試裝置由鋁擠型組成，安裝有對應於待測件測輪位置的五個馬達驅動移動台，驅動移動台推動待測件的測輪執行測試，記錄待測件感測器讀值及移動台位移值，比較兩者差值。 |
| 87 | 奈米粒子功能性量測系統校正程序－單一粒子感應耦合電漿質譜法/粒子濃度校正 | 本文件係利用單一粒子感應耦合電漿質譜（Single Particle Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry, SP-ICP-MS）量測系統進行濃度範圍為5 × 10^3 g-1 ~ 2 × 10^12 g-1，且粒徑範圍為15 nm ~ 100 nm金奈米粒子濃度的量測。本校正系統隸屬於奈米粒子功能性量測系統（系統代碼為D27），以Agilent公司生產之8900 ICP-MS/MS為量測設備，此系統的量測原理是將奈米顆粒標準品霧化成多分散氣膠（Polydisperse aerosol），之後再送進電漿進行氣化、原子化，最終離子化而被後端的質譜儀偵測到，由於奈米粒子是群聚的原子團，因此當其進入電漿後，原子團會被離子化，而於後端偵測器形成一脈衝訊號，此脈衝訊號出現的頻率即代表顆粒數量濃度（Number concentration）。本文件詳述單一粒子感應耦合電漿質譜校正之相關準備事宜、流程及數據處理等，為國家度量衡標準實驗室（NML）對外提供單一粒子感應耦合電漿質譜校正服務之參考依據。 |
| 88 | 奈米粒子功能性量測系統評估報告－單一粒子感應耦合電漿質譜法/粒子濃度校正 | 本文件為奈米粒子功能性量測系統（系統代碼為 D27）校正溶液中奈米粒子濃度之系統評估報告。量測系統以單一粒子感應耦合電漿質譜（Single Particle Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry, SP-ICP-MS）為主要量測設備，對校正奈米粒子顆粒數量濃度（Number concentration）過程進行系統評估。其中，量測不確定度評估方法係參考國際標準組織（ISO）發行的ISO/IEC Guide 98-3:2008量測不確定度評估指引，校正能量如下所列。 ˙校正項目：顆粒數量濃度標準－金奈米粒子 ˙量測濃度範圍：5.00 × 103 g-1 ~ 2.00 × 1012 g-1 ˙量測粒徑範圍：15 nm ~ 100 nm ˙相對擴充不確定度：11 ％ ˙信賴水準：95 ％ |
| 89 | 氣體式活塞壓力計(DHI PG7607)評估報告 | 本系統評估報告乃針對DHI PG7607氣體式活塞壓力計(屬於P01汞柱壓力量測系統)進行評估。內容包括：系統簡介、基本原理及修正因素、不確定度分析與量測品保。本壓力計之量測範圍為：(5 ~175) kPa；而不確定度經評估後為： ˙錶示壓力之相對擴充不確定度： 1.7E-05 Pa/Pa (涵蓋因子k = 2；信賴水準約為95 ％) ˙絕對壓力之擴充不確定度：2×(6.12E-11×Pabs^2＋6.25E-02)^0.5 Pa ( Pabs為壓力，單位為Pa )，即擴充不確定度為0.51 Pa ~ 2.8 Pa (涵蓋因子k = 2；信賴水準為95 ％) ˙待校件為活塞壓力計，以相對擴充不確定度表示之校正與量測能力(CMC)：2.4E-05 m2/ m2 (涵蓋因子k = 2；信賴水準約為95 ％) ˙待校件為數字型壓力計，以擴充不確定度表示之校正與量測能力：0.004 kPa (涵蓋因子k = 2；信賴水準約為95 ％) |
| 90 | 高壓氣體流量校正系統校正程序-比較法/循環式 | 本校正程序係提供國家度量衡標準實驗室之高壓氣體流量校正系統（系統代碼為F05）校正氣體流量計之依據。系統以循環式氣流進行氣體流量之比較校正，校正時先充氣調整壓力值後，運轉鼓風機並設定轉速達到要求的校正流率，運轉冰水系統以達到設定的流體溫度。等候壓力、溫度穩定時，開始記錄被校流量計與標準器經過之體積量，溫度，壓力及對應校正時間，依據這些參數計算被校流量計之相對器差值。 系統量測不確定度的評估是依據ISO/IEC Guide 98-3:2008(GUM)所建議的A類或B類方式，評估求得各變數量測的標準不確定度，然後將各量測變數的標準不確定度乘以其各自的靈敏係數值，再以和方根(RSS)方式將其合併，所得即為校正系統的組合標準不確定度。校正系統藉由Welch-Satterthwaite公式計算的有效自由度和95 ％信賴水準所查得的涵蓋因子，與其組合標準不確定度相乘可得擴充不確定度。 本系統適用於差壓式、科氏力、層流式、渦輪式、轉子式、熱質式、超音波式、渦流式等各式氣體流量計之校正，量測範圍如下： 工作流體：乾燥空氣； 實際體積流率範圍：( 25 to 2000 ) m3/h； 基準體積流率範圍：( 125 to 110000 ) m3/h ＠ ( 101.325 kPa , 23 ℃ )； 質量流率範圍：( 150 to 132000 ) kg/h； 累計體積總量範圍：( 6.25 to 166.67) m3 ＠ ( 25 to 2000 ) m3/h； 壓力：( 500 to 5500 ) kPa (絕對壓力)； 溫度：常溫。 |
| 91 | 高壓氣體流量校正系統評估報告－比較法/循環式 | 本文件係說明國家度量衡標準實驗室之高壓氣體流量校正系統－比較法/循環式（系統代碼為F05）的量測不確定度評估程序，系統以循環式氣流進行氣體流量之比較校正，使用的標準件分別為一具2吋轉子式流量傳遞標準件、八具2吋轉子式流量工作標準件及二具6吋超音波式流量工作標準件。標準系統的質量流率是藉由量測標準系統的溫度、壓力、時間及實際體積直接計算而來，將標準系統的質量流率除以器差修正係數，即可求得通過標準系統的標準質量(或質量流率)。亦可將標準系統的標準質量(或質量流率)轉換至被校流量計的實際狀態（或參考狀態）標準體積(或體積流率)，再與被校流量計量測的實際狀態（或參考狀態）體積(或體積流率)進行比較校正。 校正結果不確定度的評估是依據ISO/IEC Guide 98-3:2008(GUM)所建議的A類或B類方式，評估求得各變數量測的標準不確定度（或相對標準不確定度），然後將各量測變數的標準不確定度乘以其各自的靈敏係數值，再以和方根(RSS)方式將其合併，再計算組合標準不確定度；並藉由Welch-Satterthwaite公式計算的有效自由度和95 ％信賴水準所查得的涵蓋因子，與其組合標準不確定度相乘得到擴充不確定度。 本系統之校正能量範圍如下： 工作流體：乾燥空氣； 壓力：( 500至5500 ) kPa (絕對壓力)； 溫度：常溫； 實際體積流率：( 25至2000 ) m3/h； 基準體積流率：( 125至110000 ) m3/h ＠( 101.325 kPa , 23 ℃ )； 質量流率：( 150至132000 ) kg/h； 累計體積總量：( 1.25 至 166.67) m3 ＠( 25 to 2000 ) m3/h。 於95 ％信賴水準下的擴充不確定度、涵蓋因子和有效自由度之評估結果如下： 標準件 標準系統基值 含被校流量計 2吋轉子式傳遞標準件 UBase = 0.20 ％ UCMC = 0.20 ％ k = 1.98 k = 1.98 veff = 136 veff = 136 八具2吋轉子式流量計 UBase = 0.22 ％ UCMC = 0.22 ％ k = 1.97 k = 1.98 veff = 209 veff = 210 二具6吋超音波式流量計 UBase = 0.24 ％ UCMC = 0.24 ％ k = 1.97 k = 1.97 veff = 267 veff = 268 |
| 92 | 亞太計量組織2022 APMP大會出席報告 | 第38屆亞太計量組織(Asia Pacific Metrology Programme, APMP)會員大會(General Assembly, GA)及相關會議由日本國家計量研究院(National Metrology Institute of Japan, NMIJ)主辦，NICT(National Institute of Information and Communications Technology, 國家資訊和通信技術研究所)、CERI(Chemicals Evaluation and Research Institute, Japan, 日本化學品評估和研究所)和JEMIC(Japan Electric Meters Inspection Corporation,日本電錶檢驗公司)共同協辦。受限於疫情，APMP 2022會議舉行，採取實體與線上會議混合形式舉行。實體會議以執行委員會(Executive Committee, EC)委員、TC主席、FG(Focus Group，焦點工作組)主席、DEC主席及有限的各國代表為主；各國國家實驗室主席(NMI directors)和其他相關成員則以在線方式參加。因此，整體實體會議人數維持低50人。而以往以實體進行的TC會議及研討會仍採取線上會議，舉行時間由各TC決定日期，並於會員大會舉行前完成。 本次會議由傅尉恩組長(執行委員會執行委員)出席，此行任務為出席APMP 2022執行委員會會議(EC meeting)、執行委員及技術主席會議(EC-CC meeting)、會員大會(General Assembly, GA)及綜合技術研討會等。同時，應APMP 主席邀請主持2022 NMI Director Workshop (2022年國家實驗室主席研討會)。藉由出席執行委員會會議、執行委員及技術主席會議和會員大會，第一手了解並參與APMP重大決策，並與亞太其他先進國家執行委員交流互動，建立良好關係，以增進未來國際合作機會。擔任EC的任務之一為參加並督導水資源計量焦點工作(Clean Water Focus Group)小組研討會，瞭解其工作推展規劃。 |
| 93 | 溶液中鉛同位素比例量測程序 | 本技術利用多接收器感應耦合電漿質譜儀(Multicollector inductively coupled plasma mass spectrometer, MC-ICP-MS)量測溶液中鉛同位素(204Pb、206Pb、207Pb、208Pb)含量訊號，求得鉛同位素比例。以日本國家計量標準機關(NMIJ, National Metrology Institute of Japan)之鉛同位素標準品CRM 3681-a為標準件，評估各種數值修正方法，最終以該標準其中一組鉛同位素比例(208Pb/206Pb)數值為基準，以Exponential law修正其他鉛同位素比量測數值(如206Pb/204Pb與207Pb/206Pb)。本文件建立溶液中鉛同位素之量測方法與品保品管準則，並成功將本技術應用於產品溯源。 |
| 94 | 溶液中鍶同位素比例量測程序 | 本技術利用多接收器感應耦合電漿質譜儀(Multicollector inductively coupled plasma mass spectrometer, MC-ICP-MS)量測溶液中鍶同位素(84Sr、86Sr、87Sr、88Sr)含量訊號，求得鍶同位素比例。以美國國家標準暨技術研究院(NIST, National Institute of Standards and Technology)之鍶同位素標準品SRM 987為標準件，評估各種數值修正方法，最終以該標準其中一組鍶同位素比例(88Sr/86Sr)數值為基準，以Exponential law修正其他鍶同位素比量測數值(如87Sr/86Sr與84Sr/86Sr)。本文件建立溶液中鍶同位素之量測方法與品保品管準則，並嘗試將本技術應用於標準品與地下水之溯源。 |
| 95 | 酵素免疫分析法於透析液β2-微球蛋白濃度量化之操作優化 | 本研究使用酵素免疫分析法(Enzyme-linked immunosorbent assay, ELISA)量測慢性腎病患者之透析液檢體中的β2-微球蛋白(β2-microglobulin, β2M)濃度，以了解血液透析過程中，β2M透析的變化趨勢。於實驗過程，我們發現商用ELISA kit的偵測範圍、特性、以及透析液樣品中高濃度基質等，都劇烈地影響量測結果，造成β2M濃度判別的誤差。於此技術文件，使用ELISA kit於透析液β2M濃度量化的實驗參數將逐一探討及優化，目標為建立正確的實驗操作流程，並提出驗證實驗結果正確性的方法，確保使用商用ELISA kit於樣品檢測的準確性及量測結果再現性。 |
| 96 | 基材螢光超薄膜膜厚檢測技術 | 本研究開發被動式基材螢光超薄膜膜厚檢測技術，量測於基材上之超薄膜厚度。此方法是藉由激發基材產生螢光，透過量測從待測超薄膜溢漏而出的螢光強度來進行膜厚的量測，透過低的偵測角度(0~2度)來收取溢漏螢光，可有效的降低雜訊干擾，提升對於訊號的靈敏度。基底所產生的螢光強度足夠強，有助於降低量測時間且提高量測的精準度。本研究針對矽基材上不同厚度的HfO2、TiN、TaN薄膜進行模擬，由模擬結果可知，薄膜厚度介於0.2 奈米至1.5 奈米的曲線差異最大，證實本研究適用於超薄膜膜厚量測，後續有潛力可應用於半導體超薄膜厚度線上量測。 |
| 97 | 國內直流電度表檢定檢查能量盤點報告 | 目前國際上已有直流電度表之準確度及其他相關特性參數所訂定的標準規範(例如：IEC 62053-41)，內容包含標稱電壓和標稱電流的範圍，並對電表電壓和電流的最大功率損耗進行限制。此外，直流電度表的計量要求與交流電度表一樣，主要定義動態範圍內的具體準確度及空載條件下的電流限制值。因此，本研究規劃針對直流電度表計量相關標準與法規作比較與分析，盤點國內檢測單位直流電度表檢定檢查技術能力，研擬直流電度表檢定檢查技術規範草案，以確保直流電度表計量的一致性與準確性，並提供標準檢驗局作為未來直流電度表計量管理參考。 |
| 98 | 國家直流電力標準追溯方法先期研究 | 隨著直流電力被廣泛應用於綠能產業中，全球各先進國家已紛紛建立國家級直流電力標準來確保直流電力計量的一致性和準確性。因此，本文蒐集與分析國外直流電力計量相關技術文獻與量測技術發展資料，並參考先進國家建立之直流電力標準方法來設計國內直流電力標準系統架構，以提供未來建置國家直流電力標準之參考，藉此作為直流電度表檢定、檢查設備之追溯標準。 |
| 99 | 柴油車添加尿素水設施檢定檢查技術能量盤點報告 | 隨著全球環保意識抬頭，柴油引擎車輛必須透過車用尿素水和SCR觸媒轉換器將氮氧化物轉化為無毒的氮氣和水，以降低空氣污染和溫室氣體排放量。車用尿素水的計量成為一重要課題。國內目前在車用尿素水計量這部分尚無相關規範進行管制。本文針對國內現有車用尿素加注機參考國際標準OIML R117以及國內CNMV 117「油量計檢定檢查技術規範」並進行現地訪談與實測，盤點國內現有檢定、檢查能量，確認現有加注機規格，初步擬定柴油車添加尿素水設施檢定檢查技術規範草案內容。 |
| 100 | 大質量量測系統法碼校正程序─METTLER AX64004質量比較儀 | 本程序提供使用METTLER AX64004質量比較儀校正20 kg、50 kg法碼之參考。METTLER AX64004為一電子式質量比較儀（mass comparator），其最大衡量範圍為60 kg，解析度為0.1 mg。校正時係採用雙重替換法（double substitution）以質量比較（mass comparison）之方式進行。藉由顯示幕之讀數，分別讀出標準法碼及待校法碼之值；重複多次後求出其差值，算出其平均偏差（mean deviation）及標準差（standard deviation），再參考標準法碼之值即可得出待校法碼之質量值及不確定度。 |
| 101 | 111年度NML顧客滿意度調查研究報告 | 提供校正/驗證服務是國家度量衡標準實驗室(National Measurement Laboratory，NML)之服務項目，透過顧客滿意度的調查，可檢視NML之服務是否滿足顧客的期待與需求。要達到顧客滿意，首先得聆聽顧客的心聲，並嘗試尋求提高滿意度的方向，以作為服務品質改善的目標，故進行本次之顧客滿意度調查。由分析結果可知，111年度NML整體滿意度為9.3分(滿分為10分)，維持如往年整體滿意度分數之水準。然而，NML仍有部分不足之處為顧客希望改善的項目，故本研究報告亦彙整顧客提供之意見及建議予各量室作為持續改進的參考。NML除了以顧客希望改善之項目作為爾後努力的方向之外，將繼續維持顧客肯定的項目，提供顧客更好的服務品質。 |