技資編號 | 技資名稱 | 輔助編號 | 價格 |
073760001 |
檢力環- 彈性測力器比較校正程序( 0 - 5,000kgf ) |
CMS-ICT-005 |
2,300 |
073760002 |
加速規頻率響應校正程序 |
CMS-ICT-007 |
2,000 |
073760003 |
檢力環- 彈性測力器比較校正 ( 5,000 - 50,000kgf ) |
CMS-ICT-010 |
2,300 |
073760005 |
單相交流電能量測系統校正程序 |
CMS-ICT-039 |
6,000 |
073760006 |
加速規靈敏度校正程序 |
CMS-ICT-016 |
3,000 |
073760009 |
檢力環校正程序(0-500 kgf) |
CMS-ICT-045 |
2,000 |
073760013 |
瓦斯錶校正程序 |
CMS-ICT-051 |
3,000 |
073760016 |
荷重元- 彈性測力器比較校正程序(5000-50,000kgf) |
CMS-ICT-058 |
2,700 |
073760064 |
表面粗度標準片校正程序 |
CMS-ICT-043 |
3,300 |
073760068 |
角度塊規校正程序 |
CMS-ICT-040 |
2,100 |
073760095 |
直流低電阻系統校正程序 |
CMS-ICT-025 |
1,900 |
073770001 |
單相交流電功率量測系統校正程序 |
CMS-ICT-020 |
6,000 |
073770006 |
布頓氏油壓錶校正程序 |
CMS-ICT-063 |
2,500 |
073770029 |
衝擊鎚靈敏度校正程序 |
CMS-ICT-087 |
2,000 |
073780020 |
雙壓力濕度產生器校正系統校正程序 |
CMS-ICT-102 |
3,800 |
073780029 |
貴金屬型熱電偶溫度計比較校正程序 |
CMS-ICT-106 |
2,900 |
073790020 |
針尖式壓力計校正程序 |
CMS-ICT-123 |
5,200 |
073800065 |
音位校正器位準及頻率校正程序 |
CMS-ICT-162 |
3,000 |
073800076 |
微波散射參數及阻抗系統網路元件校正程序 |
CMS-ICT-165 |
6,900 |
073800077 |
熱陰極離子真空計校正程序 |
CMS-ICT-166 |
3,700 |
073800084 |
直角規校正程序 |
CMS-ICT-171 |
4,000 |
073800091 |
木材水份計校正程序 |
CMS-ICT-174 |
2,300 |
073810006 |
電子水平儀校正程序 |
CMS-ICT-179 |
3,300 |
073810007 |
大地長度儀器校正程序 |
CMS-ICT-180 |
4,300 |
073810012 |
塑膠硬度計校正程序 |
CMS-ICT-182 |
2,000 |
073810016 |
冷陰極離子真空計校正程序 |
CMS-ICT-186 |
3,700 |
073810024 |
玻璃溫度計校正程序 |
CMS-ICT-191 |
3,500 |
073810025 |
彩色分析儀校正程序 |
CMS-ICT-192 |
2,300 |
073810064 |
精密噪音計B&K 2231電性頻率響應校正程序 |
CMS-ICT-205 |
3,000 |
073810068 |
精密噪音計B&K 2231電性位準線性度校正程序 |
CMS-ICT-207 |
3,000 |
073820046 |
三相交流電能量測系統校正程序 |
CMS-ICT-212 |
3,100 |
073820064 |
分光測色系統標準白板0:de及8:de幾何條件校正程序 |
CMS-ICT-221 |
3,600 |
073820067 |
全光通量系統光通量標準燈校正程序 |
CMS-ICT-223 |
3,300 |
073830008 |
多功能音響校正器校正程序 |
CMS-ICT-225 |
2,000 |
073830010 |
RION NC-72 活塞式校正器音壓位準校正程序 |
CMS-ICT-227 |
5,000 |
073830012 |
微波雜訊源之校正程序 |
CMS-ICT-229 |
5,400 |
073830047 |
加速規靈敏度絕對校正--條紋消失法校正程序 |
CMS-ICT-239 |
3,000 |
073830101 |
汞柱壓力原級標準校正程序 |
CMS-ICT-251 |
7,000 |
073840075 |
彩色分析儀校正程序 |
CMS-ICT-261 |
4,000 |
073840102 |
Sartorius C1000質量比較儀校正法碼之程序 |
CMS-ICT-269 |
6,600 |
073840105 |
長塊規校正程序–使用萬能測長儀 |
CMS-ICT-270 |
3,600 |
073840109 |
微電流系統校正程序 |
CMS-ICT-272 |
2,000 |
073840150 |
分光測色系統標準色板de:8°幾何條件校正程序 |
CMS-ICT-278 |
3,800 |
073850069 |
絕對輻射系統光輻射校正程序 |
CMS-ICT-297 |
2,500 |
073850085 |
大地角度儀器校正程序 |
CMS-ICT-300 |
4,000 |
073860034 |
塊規校正程序-Federal塊規比較儀 |
CMS-ICT-311 |
4,200 |
073860097 |
標準捲尺校正程序 |
CMS-ICT-321 |
10,000 |
073880075 |
Sartorius CC50000S質量比較儀校正法碼之程序 |
CMS-ICT-334 |
5,900 |
073890103 |
微量氣體流量系統音速噴嘴校正程序-稱重法 |
CMS-ICT-344 |
4,300 |
073890125 |
微量氣體流量系統MOLBLOC校正程序-稱重法 |
CMS-ICT-345 |
4,500 |
073890127 |
微量氣體流量系統氣量計校正程序-比較法/Nozzle |
CMS-ICT-347 |
4,400 |
073900009 |
環境感測器校正程序 |
CMS-ICT-350 |
5,000 |
073900028 |
三相交流電功率量測系統校正程序 |
CMS-ICT-353 |
3,100 |
073900056 |
雷射干涉儀校正程序 |
CMS-ICT-356 |
2,100 |
073900069 |
油壓式活塞壓力計(連通比較法)校正程序 |
CMS-ICT-360 |
10,000 |
073900077 |
油壓式活塞壓力計(比較校正法)校正程序 |
CMS-ICT-362 |
5,000 |
073900082 |
Sartorius CC10000U-L質量比較儀校正法碼之程序 |
CMS-ICT-363 |
6,200 |
073900138 |
環規校正程序─使用Labmaster雷射測長儀 |
CMS-ICT-369 |
3,600 |
073900181 |
線距標準片校正程序 |
CMS-ICT-370 |
3,000 |
073910055 |
Pressurements V1600/2 重錘式壓力計校正程序 |
CMS-ICT-378 |
3,000 |
073910086 |
GPS靜態及動態定位校正系統校正程序 |
CMS-ICT-383 |
3,500 |
073910144 |
針尖式壓力計校正程序 |
CMS-ICT-389 |
3,000 |
073910200 |
Mettler AT106H 質量比較儀校正法碼之程序 |
CMS-ICT-391 |
5,700 |
073920097 |
階高標準片校正程序-探針式 |
CMS-ICT-393 |
2,900 |
073920098 |
條碼銦鋼尺校正程序 |
CMS-ICT-394 |
2,400 |
073920109 |
水準尺校正程序 |
CMS-ICT-395 |
2,400 |
073930006 |
多目標瞄準儀校正程序 |
CMS-ICT-397 |
1,800 |
073930010 |
階高標準片校正程序-光學式 |
CMS-ICT-398 |
3,500 |
073930054 |
阻抗標準追溯系統(電容標準追溯至電阻標準)校正程序 |
CMS-ICT-401 |
4,300 |
073930088 |
Mettler UMX5質量比較儀校正法碼之程序 |
CMS-ICT-403 |
5,200 |
073930141 |
塊規校正程序–塊規干涉儀 |
CMS-ICT-406 |
2,900 |
073930202 |
分光測色系統0°:45°a幾何條件校正程序 |
CMS-ICT-408 |
3,400 |
073940031 |
三相諧波電功率數位取樣系統校正程序 |
CMS-ICT-413 |
3,400 |
073940121 |
水準儀校正程序 |
CMS-ICT-419 |
2,900 |
073950020 |
多邊規與轉盤互校程序 |
CMS-ICT-425 |
2,500 |
073950046 |
線距校正系統校正階高標準片之校正程序-AFM |
CMS-ICT-428 |
3,000 |
073950051 |
絕對輻射系統光纖功率計校正程序 |
CMS-ICT-430 |
3,000 |
073950132 |
塞規校正程序─使用Labmaster雷射測長儀 |
CMS-ICT-435 |
6,000 |
073960010 |
小角度校正系統轉盤之連續小角度與小角度干涉儀互校程序 |
CMS-ICT-437 |
2,000 |
073960035 |
穿透霧度標準片校正程序 |
CMS-ICT-439 |
6,000 |
073960071 |
Sartorius CC500 質量比較儀法碼密度校正程序 |
CMS-ICT-441 |
5,000 |
073970014 |
彩色分析儀測試程序 |
CMS-ICT-450 |
3,300 |
073970286 |
氣體量測系統氣體分流器校正程序 |
CMS-ICT-451 |
3,600 |
073970985 |
光梳量測633 nm碘穩頻雷射程序 |
CMS-ICT-453 |
3,300 |
073A02414 |
掃描式電子顯微量測系統校正程序-線距標準片 |
CMS-ICT-472 |
5,500 |
073A20108 |
薄膜量測系統校正程序-X射線孔隙反射儀 |
CMS-ICT-482 |
7,600 |
073A20221 |
Sartorius CC50002 質量比較儀法碼密度校正程序 |
CMS-ICT-483 |
5,000 |
073A20224 |
Sartorius ME235S 質量比較儀法碼密度校正程序 |
CMS-ICT-484 |
5,000 |
073A60099 |
|
CMS-ICT-531 |
4,500 |
073A90094 |
同位素比例校正程序-質譜法 |
CMS-ICT-540 |
5,500 |